一种继电器参数测试仪制造技术

技术编号:13066880 阅读:115 留言:0更新日期:2016-03-24 03:22
本实用新型专利技术提供了一种继电器参数测试仪,包括控制器、检测器及显示器,控制器为可实现计时功能的单片机构成,该单片机与一继电器驱动电路相连。其中,单片机通过计时器计时。当单片机输出高电平信号时,继电器驱动电路驱动继电器吸合,并触发计时器,检测电路采集继电器中的电压信号得到吸合电压;当单片机输出低电平信号时,继电器释放,触发计时器,检测电路采集继电器中的电压信号得到释放电压。而检测器包括吸合电阻测试电路,根据参考电阻及测得的电压值即计算得到继电器的吸合电阻值。该继电器参数测试仪可测试继电器的主要性能参数并可进行多次测量取平均值。该测试仪可实现继电器参数的快速、综合测量,且操作方便、处理精度较高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及仪器仪表
,特别涉及一种继电器参数测试仪
技术介绍
对继电器产品质量进行检测时,需要测量继电器的吸合时间、释放时间、最小吸合 电压、释放电压等参数进行测试。目前,一些继电器生产厂家仍然依赖手动调节电源电压, 用人眼去判断触点的通断状态以及衔铁位置来评估这些参数。但手动测试受人为因素的影 响太多,其出错率高,不易控制,严重地制约了生产效率的提高,不利于产品的大批量生产。 另外一些厂家较依赖于国外进口设备,但国外进口设备对继电器检测遇到问题很难得到不 同类型继电器测试的技术支持和维护。而国内开发的测试系统,一般都造价昂贵,测试过程 繁琐。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种继电器参数测试仪,以实现对继电器性能参数的 快速、综合测量的目的。 为实现上述目的,本技术提供了一种继电器参数测试仪,包括: 控制器,与一继电器驱动电路相连,用于通过所述继电器驱动电路为继电器提供 驱动信号,以及对测试得到的电压信号进行处理; 检测器,用于采集所述继电器中的电压信号,并发送该电压信号至控制器进行处 理; 显示器,用于显示控制器进行处理后的测试结果; 其中,所述控制器包括一计时器,当所述控制器输出高电平信号时,所述继电器驱 动电路提供额定电压至所述继电器,继电器吸合,并触发所述计时器启动,所述检测电路采 集此时的继电器中的电压信号,得到继电器的吸合电压;当所述控制器输出低电平信号时, 继电器释放,触发所述计时器启动,所述检测电路采集此时的继电器中的电压信号,得到继 电器的释放电压。 较佳地,还包括D/A转换电路,所述D/A转换电路与所述控制器相连,所述控制器 提供自动升高或自动降低的电压控制信号至所述D/A转换电路转换为模拟信号,模拟信号 再经一运算放大器放大后提供给所述继电器以驱动继电器工作。 较佳地,所述检测器包括吸合电阻测试电路及信号采集电路,所述吸合电阻测试 电路包括一恒流源、参考电阻及若干运算放大器,所述恒流源为所述若干运算放大器提供 基准电源并由运算放大器放大后输出,所述吸合电阻测试电路的输出端与所述继电器相 连,所述信号采集电路用于采集继电器中的电压信号,并将电压信号发送至所述控制器,所 述控制器根据所述电压信号、参考电阻及运算放大器的放大倍数计算得到继电器的吸合电 阻。 较佳地,所述显示器包括IXD芯片及其外围电路,所述IXD芯片的输入管脚与所述 控制器相连,当所述控制器输出测试结果的信号至所述LCD芯片时,所述LCD芯片对测试结 果进行显示。 较佳地,继电器参数测试仪还包括复位电路,所述复位电路与控制器相连,包括相 互串联的电容和电阻,所述电容与一复位按键并联,所述电容与电阻间的连接点用于输出 复位信号至控制器。 较佳地,继电器参数测试仪还包括晶振电路,所述晶振电路与控制器相连,所述晶 振电路用于为所述控制器提供标准时钟信号。 本技术提供的继电器参数测试仪包括控制器、检测器及显示器,控制器为可 实现计时功能的单片机构成,该单片机与一继电器驱动电路相连。其中,单片机通过计时器 计时。当单片机输出高电平信号时,继电器驱动电路提供额定电压至继电器,继电器吸合, 并触发计时器启动,检测电路采集此时的继电器中的电压信号,得到继电器的吸合电压;当 单片机输出低电平信号时,继电器释放,触发计时器启动,检测电路采集此时的继电器中的 电压信号,得到继电器的释放电压。而检测器包括吸合电阻测试电路,通过设置参考电阻, 根据测得的电压值变化即可由单片机计算得到继电器的吸合电阻值。该继电器参数测试仪 可测试继电器的主要性能参数如吸合电压、释放电压、吸合时间、释放时间及吸合电阻等, 并可进行多次测量取平均值。该测试仪可实现继电器参数的快速、综合测量,且操作方便、 处理精度较高。【附图说明】 图1为本技术提供的继电器参数测试仪组成结构示意图; 图2为本技术优选实施例的继电器驱动电路结构图; 图3为本技术优选实施例的D/A转换电路结构图; 图4为本技术优选实施例的检测器组成结构图; 图5为本技术优选实施例的显示器组成结构图; 图6为本技术优选实施例的复位电路及晶振电路;图7为本技术优选实施例的A/D转换电路结构力; 图8为本技术提供的继电器参数测试仪单片机的系统软件流程图; 图9为本技术提供的单片机的电压测量子程序流程图。【具体实施方式】 为更好地说明本技术,兹以一优选实施例,并配合附图对本技术作详细 说明,具体如下: 如图1所示,为本实施例提供的继电器参数测试仪组成结构示意图,其包括控制 器101、检测器102、显示器103。其中,控制器101通过继电器驱动电路104与待测试的继 电器105相连。控制器101通过继电器驱动电路104为继电器105提供驱动信号,以及对 测试得到的电压信号进行处理。检测器103采集继电器105中的电压信号,并发送该电压 信号至控制器101进行处理。显示器103显示控制器101进行处理后的测试结果。 控制器101中包括一计时器106,当控制器101输出高电平信号时,继电器驱动电 路104提供额定电压至继电器105,继电器105吸合,并触发计时器106启动以获取吸合 时间,检测器103采集此时的继电器中的电压信号,得到继电器105的吸合电压;当控制器 101输出低电平信号时,继电器105释放,触发计时器106启动以获取释放时间,检测器103 采集此时的继电器105中的电压信号,得到继电器105的释放电压。 本实施例中,控制器101为AT89S52型号的单片机U1,单片机的P1.0 口提供继电 器驱动电路104的驱动信号。其中,继电器驱动电路104如图2所示,当单片机的P1. 0 口 提供为高电平的电压信号时,通过该继电器驱动电路的运算放大器U3A进行比较,比较运 算放大器输出高电平,继电器驱动电路104的晶体管导通,为继电器K1提供12V的额定电 压,同时触发控制器101内的定时器106启动,测出继电器的吸合时间。当单片机的P1. 0 口提供低电平的电压信号时,继电器触点释放,同时触发控制器101内的定时器106启动, 测出继电器的释放时间。 如图3所示,该继电器参数测试仪还包括D/A转换电路,D/A转换电路为芯片 DAC0832,DAC0832的数据输入管脚DI0~DI7与AT89S52单片机的p0 口相连,通过p0 口 输出自动升高及自动降低的电压控制信号至DAC当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种继电器参数测试仪,其特征在于,包括:控制器,与一继电器驱动电路相连,用于通过所述继电器驱动电路为继电器提供驱动信号,以及对测试得到的电压信号进行处理;检测器,用于采集所述继电器中的电压信号,并发送该电压信号至控制器进行处理;显示器,用于显示控制器进行处理后的测试结果;其中,所述控制器包括一计时器,当所述控制器输出高电平信号时,所述继电器驱动电路提供额定电压至所述继电器,继电器吸合,并触发所述计时器启动,所述检测器采集此时的继电器中的电压信号,得到继电器的吸合电压;当所述控制器输出低电平信号时,继电器释放,触发所述计时器启动,所述检测器采集此时的继电器中的电压信号,得到继电器的释放电压。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王益徐进朱汉敏
申请(专利权)人:苏州经贸职业技术学院
类型:新型
国别省市:江苏;32

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