本发明专利技术公开了一种双波段微光成像仪，包括：反射式紫外波段成像系统（a）、可见光波段成像系统（b）以及将所述反射式紫外波段成像系统（a）获得的图像和所述可见光波段成像系统（b）获得的图像融合到一个图像上的图像融合单元（11），该光成像仪可实现在紫外波段和可见光波段对同一目标成像，同时监测的功能，具有结构简单，设计合理，无色差，检测的准确率高等优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及紫外微光成像
，特别提供了一种反射式双波段微光成像仪，适用于空间、国防和民用领域。
技术介绍
随着紫外成像技术的发展，以其为核心的成像检测设备被广泛应用于各种场合，特别是用于对地面发射的导弹、高速运动物体以及高压输电线路产生的电晕等微弱辐射进行双波段成像，监测微光目标的位置和辐射特性。随着紫外成像技术研究的深入，远距离极微弱紫外信号监测日益成为紫外成像技术的重要研究方向。在紫外成像设备的制作中主要存在以下2个关键技术:1、紫外滤光技术，即如何消除探测紫外波段以外其他所有波段的背景光。2、紫外成像技术，如何实现远距离极微弱紫外光成像。目前，紫外成像设备主要采用透射式光学成像系统，由于受可用光学材料少的限制，很难做到大口径，且对色差的抑制不好，同时还存在成像系统中有杂散光，不能准确定位，影响测量结果，紫外光在进入紫外成像系统前被衰减，影响测量灵敏度等问题。因此，亟待研发一种新的紫外成像系统，解决上述技术难题。
技术实现思路
鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种反射式双波段微光成像仪，以解决以往的成像系统存在色差，无法制作大口径，不能准确定位，测量灵敏度差等问题。本专利技术提供的技术方案，具体为:一种反射式双波段微光成像仪，其特征在于，所述成像仪包括:反射式紫外波段成像系统a、可见光波段成像系统b以及将所述反射式紫外波段成像系统a获得的图像和所述可见光波段成像系统b获得的图像融合到一个图像上的图像融合单元11; 其中， 所述反射式紫外波段成像系统a沿光线入射方向依次设置有反射式紫外波段望远镜1、紫外滤光片2、紫外光成像探测器3以及第一图像处理单元4; 所述可见光波段成像系统b沿光线入射方向依次设置有光束偏转系统7、可见光望远镜8、可见光成像探测器9以及第二图像处理单元10。优选，所述反射式紫外波段成像系统a的成像光路与所述可见光波段成像系统b的成像光路共光轴。进一步优选，所述光束偏转系统7包括第一反射镜5和第二反射镜6; 其中， 其中，所述第一反射镜5设置于所述反射式紫外波段成像系统a的入射端，入射光束中的可见光经由第一反射镜5反射，入射到所述第二反射镜6中，由第二反射镜6反射后，入射到所述可见光望远镜8中。进一步优选，所述反射式紫外波段望远镜1的反射光学元件上均镀制有紫外带通反射多层膜。进一步优选，所述紫外光成像探测器3为光子计数型成像探测器。进一步优选，所述可见光成像探测器9为C⑶面阵图像探测器。进一步优选，所述第一图像处理单元4用于将接收的紫外波段光学信号转为电学图像信号。进一步优选，所述第二图像处理单元11用于将接收到的可见波段光学信号转为电学图像信号。进一步优选，所述反射式紫外波段望远镜1和所述可见光望远镜8的焦距可调。本专利技术提供的反射式双波段微光成像仪，入射光一部分直接入射到反射式紫外波段成像系统中，反射式紫外波段望眼镜既可以成像又有滤光作用，出射的紫外光经过紫外滤光片再次过滤，在紫外光成像探测器上成像;另一部分进入可见光波段成像系统中，经光束偏转系统入射到可见光望远镜，在可见光成像探测器上成像;可见光成像探测器中的光学信号以及紫外光成像探测器中的光学信号，分别通过第一图像处理单元和第二处理单元转为电学图像信号，最后图像融合单元将二者融合到一个图像上，经过标定使得紫外图像和可见光图像位置和亮度匹配，最终在一幅图像上同时显示紫外图像和可见光图像。本专利技术提供的反射式双波段微光成像仪具有以下优点: 1、用反射式紫外成像光学系统，通光孔径大，没有色差，传输效率高； 2、同时采用紫外带通反射镜和紫外滤光片，极大提高紫外系统滤光能力，减少背景光对探测结果的影响。3、采用紫外光子计数型成像探测器，可以对微弱的紫外辐射成像，提高探测灵敏度。【附图说明】图1为反射式双波段微光成像仪的结构示意图。图2为实施例中反射式紫外波段望远镜的结构示意图。【具体实施方式】下面以具体的实施方案对本专利技术进行进一步解释，但是并不用于限制本专利技术的保护范围。为了解决以往透射式紫外成像设备存在的很难做到大口径，存在色差，定位不准确，灵敏度低等问题。本实施方案提供的反射式双波段微光成像仪，可安装在卫星上，对地面发射的导弹、高速运动物体等微弱紫外辐射目标进行双波段成像，监测微光目标的位置和福射特性;也可以对尚压输电线路、变电站、和尚铁线路广生的电晕福射进彳丁监测；对火灾隐患进行监测，实现早期预警。本实施例中反射式双波段微光成像仪采用反射式紫外波段成像系统进行成像，受材料限制小，完全没有色差，系统传输效率高;反射式紫外成像光学系统，可以提高紫外光通过紫外成像光学系统的传输效率和增加信号强度，实现对远距离极微弱紫外信号监测，具体结构可参见图1，包括:反射式紫外波段成像系统a、可见光波段成像系统b以及将反射式紫外波段成像系统a获得的图像和可见光波段成像系统b获得的图像融合到一个图像上的图像融合单元11; 其中， 反射式紫外波段成像系统a沿光线入射方向依次设置有反射式紫外波段望远镜1、紫外滤光片2、紫外光成像探测器3以及第一图像处理单元4; 可见光波段成像系统b沿光线入射方向依次设置有光束偏转系统7、可见光望远镜8、可见光成像探测器9以及第二图像处理单元10; 反射式紫外波段望远镜1和可见光望远镜8均焦距可调，可见光成像探测器9可以选用CCD面阵图像探测器，紫外光成像探测器3为光子计数型成像探测器，可以探测微弱的紫外波段辐射，监测紫外辐射的发光位置。光束偏转系统7包括第一反射镜5和第二反射镜6，其中，第一反射镜5设置于反射式紫外波段成像系统a的入射端，且不影响所述反射式紫外波段成像系统a的入射光，入射光束中的可见光经由第一反射镜5反射，入射到第二反射镜6中，由第二反射镜6反射后，入射到所述可见光望远镜8中；反射式紫外波段成像系统a的成像光路与可见光波段成像系统b的成像光路共光轴。其中，图像融合单元11将反射式紫外波段成像系统获得的图像和可见光波段成像系统获得的图像融合到一个图像上，并且经过标定使得紫外图像和可见光图像位置和亮度匹配，最终在一幅图像上同时显示紫外图像和可见光图像，同时也可以将紫外通道获得的图像和可见光通道获得的图像单独显示。作为技术方案的改进，反射当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种反射式双波段微光成像仪，其特征在于，所述成像仪包括：反射式紫外波段成像系统（a）、可见光波段成像系统（b）以及将所述反射式紫外波段成像系统（a）获得的图像和所述可见光波段成像系统（b）获得的图像融合到一个图像上的图像融合单元（11）； 其中，所述反射式紫外波段成像系统（a）沿光线入射方向依次设置有反射式紫外波段望远镜（1）、紫外滤光片（2）、紫外光成像探测器（3）以及第一图像处理单元（4）；所述可见光波段成像系统（b）沿光线入射方向依次设置有光束偏转系统（7）、可见光望远镜（8）、可见光成像探测器（9）以及第二图像处理单元（10）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈波，王海峰，王晓光，
申请(专利权)人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22
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