用于工业探伤的LED观片灯制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框，底框上设有内框，内框内安装有LED灯，底框上还设有评片标准区和灯控开关，灯控开关与LED灯电性连接。本实用新型专利技术的有益效果是，结构简单，评片准确率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及工业探伤技术应用领域，特别是一种用于工业探伤的LED观片灯。
技术介绍
在工业生产过程中，经常会出现对铸件进行探伤评片的情况，通常使用的探伤方法都是采用光照设备探伤，然而现有的用于探伤的光照设备尺寸较小，不适用于大尺寸的底片评定，同时缺少评片参照，评片准确率低，使用十分不方便。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决上述问题，设计了一种用于工业探伤的LED观片灯。实现上述目的本技术的技术方案为，一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框，底框上设有内框，内框内安装有LED灯，底框上还设有评片标准区和灯控开关，灯控开关与LED灯电性连接。所述内框为长英寸宽英寸的矩形框。所述内框的上边框上设有底片固定夹。所述内框的下边框处设有刻度尺。所述评片标准区内刻有评片标准。利用本技术的技术方案制作的用于工业探伤的LED观片灯，内框下边框上设有刻度尺，可很好的适用于大尺寸底片的评定，同时底框上设有评片标准区，大大提高了评片的效率和准确性，使用更加方便。【附图说明】图1是本技术所述用于工业探伤的LED观片灯的结构不意图；图中，1、底框；2、内框；3、LED灯；4、灯控开关；5、评片标准区；6、底片固定夹；7、刻度尺。【具体实施方式】下面结合附图对本技术进行具体描述，如图1是本技术所述用于工业探伤的LED观片灯的结构示意图，如图所示，一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框(1)，底框上设有内框(2)，内框内安装有LED灯(3)，底框上还设有评片标准区(5)和灯控开关(4)，灯控开关与LED灯电性连接。其中，所述内框(2)为长17英寸宽14英寸的矩形框；所述内框(2)的上边框上设有底片固定夹￠);所述内框(2)的下边框处设有刻度尺(7);所述评片标准区(5)内刻有评片标准。在本技术方案中，内框尺寸为14*17英寸，为铸件检测时大尺寸评定底片提供了方便；可以一次评判14*17英寸的底片，对工件内部质量进行大面积评估，保证了工件的质量，而且大大提高评判速度，减少了需要评判多张底片的时间。光源采用LED灯，光亮度达到标准要求，且能看到4.5黑度的底片；内框的下边框设有刻度尺，便于对底片缺陷的评定；灯控开关可以控制LED灯的强度，操作人员可根据需要调整LED灯的强度。在内框的右侧刻有评片的标准，便于底片评定时查看，提高评片的准确性。内框的上边框上设有用于固定底片的底片固定夹，便于底片的固定和观看。上述技术方案仅体现了本技术技术方案的优选技术方案，本
的技术人员对其中某些部分所可能做出的一些变动均体现了本技术的原理，属于本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框(1)，其特征在于，底框上设有内框(2)，内框内安装有LED灯(3)，底框上还设有评片标准区(5)和灯控开关(4)，灯控开关与LED灯电性连接。2.根据权利要求1所述的用于工业探伤的LED观片灯，其特征在于，所述内框(2)为长17英寸宽14英寸的矩形框。3.根据权利要求1所述的用于工业探伤的LED观片灯，其特征在于，所述内框(2)的上边框上设有底片固定夹(6)。4.根据权利要求1所述的用于工业探伤的LED观片灯，其特征在于，所述内框(2)的下边框处设有刻度尺(7)。5.根据权利要求1所述的用于工业探伤的LED观片灯，其特征在于，所述评片标准区(5)内刻有评片标准。【专利摘要】本技术公开了一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框，底框上设有内框，内框内安装有LED灯，底框上还设有评片标准区和灯控开关，灯控开关与LED灯电性连接。本技术的有益效果是，结构简单，评片准确率高。【IPC分类】G02B27/02【公开号】CN205067871【申请号】CN201520626657【专利技术人】李臣, 刘艳君 【申请人】天津市博安检测技术有限公司【公开日】2016年3月2日【申请日】2015年8月19日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于工业探伤的LED观片灯，包括底框(1)，其特征在于，底框上设有内框(2)，内框内安装有LED灯(3)，底框上还设有评片标准区(5)和灯控开关(4)，灯控开关与LED灯电性连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李臣，刘艳君，
申请(专利权)人：天津市博安检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12