一种近红外光谱仪制造技术

一种近红外光谱仪。本发明专利技术包括光源、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一准直镜、第二准直镜、第一透镜、第二透镜、样品池、光栅、夹缝、球面镜、CCD检测器、A/D转换器、PC机、打印机；光源发出光束经过第一准直镜射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜上，经过第一反射镜的反射射出，直接射在第一透镜上变成汇聚的光线，再通过样品池的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜上，通过第二透镜的处理再变成汇聚的光，透过夹缝再照射在第二反射镜上；由第二反射镜反射照在第二准直镜上，反射出的光线再经过光栅和球面镜的反射处理，最后由CCD检测器处理。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是一种应用在各种分析领域的装置，具体地涉及一种近红外光谱仪。
技术介绍
目前，在近红外光谱应用中，光谱分辨率不再是衡量仪器性能的重要指标；更重要的是仪器的信噪比和稳定性，其主要表现为吸光度的准确性与稳定性。近红外适合分析含C-H，0-H, N-H等基因化合物，可使用较长的光程(约1至100mm),样品不经稀释就可直接测量，操作方便，衡量污染对测量的干扰不大。近红外可以用光纤传输，给过程分析提供有利条件。化学计量学用于近红外光谱分析，能同时得到样品的多种性质数据，如测定汽油，仅需测定一张汽油光谱图就可以计算出其辛烷值，各流程数据，烃族组成等多种数据。因此具有快速和高效的特点，它的应用可带来分析工作效率的革命；另一方面，用于在线控制分析，可以保证生产装置平稳运行和产品质量卡边控制从而获得巨大经济效益和社会效益。该技术已广泛应用于在各领域(农业、畜牧业、林业、生物、医学、石油化工等)，是分析领域最为活跃的热点。因此无论是从科研与生产对近红外分析的需求，还是对我国分析仪器制造技术发展来讲，研制开发近红外分析技术都具有重要意义。国际上，近红外光谱仪产品以F T类型居多，大多是F T中红外光谱仪产品的延伸，分辨率和灵敏度较高；其中，干涉仪有移动部件，具有易损和不稳定的倾向。还有二极管阵列和声光近红外光谱仪，特点是无移动部件，稳定和扫描速度快，分辨率不如F T类型的高；上述各产品价格均较高。参考中国专利技术专利，专利号为2 00710157120.2,其公开了一种近红外光源与准直透镜配合近年来，半导体光电器件如C C D，电荷注入器件(C I D)和电荷转移器件(C T D)等技术的迅速发展特变别引人注目，具有灵敏度高，扫描速度快和价格合理等优点，也在光谱如啦曼光谱、原子发射光谱、发光光谱和电泳检测等方面作为检测器获得了广泛应用。
技术实现思路
本专利技术就是针对上述问题，弥补现有技术的不足，提供一种近红外光谱仪；本专利技术采用电荷耦合器件(CCD)作为核心检测器件，具有结构简单，无可移动光学部件，性能稳定和扫描速度快等的特点。为实现本专利技术的上述目的，本专利技术采用如下技术方案。本专利技术一种近红外光谱仪，主要包括:光源、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一准直镜、第二准直镜、第一透镜、第二透镜、样品池、光栅、夹缝、球面镜、CCD检测器、A/D转换器、PC机、打印机，其结构要点是:光源发出光束经过第一准直镜射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜上，经过第一反射镜的反射射出，直接射在第一透镜上变成汇聚的光线，再通过样品池的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜上，通过第二透镜的处理再变成汇聚的光，透过夹缝再照射在第二反射镜上；由第二反射镜反射照在第二准直镜上，反射出的光线再经过光栅和球面镜的反射处理，最后由CCD检测器的处理，产生电信号，电信号由A/D转换器转化为数字信号，数字信号给PC机，在经过打印机打印出成像图像。 作为本专利技术的一种优选方案，本专利技术所述的CCD检测器采用多级稳压和滤波电路，为光源提供了高度稳定的电源，其电压波动在0.05%以内。进一步地，本专利技术采用半导体制冷手段保持CCD检测器在恒温下工作，循环冷却水对半导体芯片散热处理。本专利技术的有益效果是。本专利技术采用电荷耦合器件(CCD)为检测器件的一种近红外光谱仪，本专利技术具有结构简单，无可移动光学部件，性能稳定和扫描速度快的特点；采用CCD器件作为近红外光谱检测器具有低噪声和灵敏度高的优点。【附图说明】图1是本专利技术一种近红外光谱仪的结构示意框图。其中，1为光源、2为第一准直镜、3为第一反射镜、4为第一透镜、5为样品池、6为第二透镜、7为夹缝、8为第二反射镜、9为第二准直镜、10为光栅、11为球面镜、12为第三反射镜、13为C C D检测器、14为A / D转换器、15为P C机、1 6为打印机。【具体实施方式】如图1所示，为本专利技术一种近红外光谱仪的结构示意框图。图中包括:光源1、第一反射镜3、第二反射镜8、第三反射镜1 2、第一准直镜2、第二准直镜9、第一透镜4、第二透镜6、样品池5、光栅1 Q、夹缝7、球面镜1 1、(XD检测器1 3、A/D转换器1 4、PC机1 5、打印机1 6，其结构要点是:光源1发出光束经过第一准直镜2射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜3上，经过第一反射镜3的反射射出，直接射在第一透镜4上变成汇聚的光线，再通过样品池5的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜6上，通过第二透镜6的处理再变成汇聚的光，透过夹缝7再照射在第二反射镜8上；由第二反射镜8反射照在第二准直镜9上，反射出的光线再经过光栅1 0和球面镜1 1的反射处理，最后由C⑶检测器1 3的处理，产生电信号，电信号由A/D转换器1 4转化为数字信号，数字信号给PC机1 5，在经过打印机1 6打印出成像图像。本专利技术所述的CCD检测器1 3采用多级稳压和滤波电路，为光源提供了高度稳定的电源，其电压波动在0.05%以内；并且采用半导体制冷手段保持CCD检测器1 3在恒温下工作，循环冷却水对半导体芯片散热处理。【主权项】1.一种近红外光谱仪，其中包括:光源(1 )、第一反射镜(3 )、第二反射镜(8 )、第三反射镜(1 2 )、第一准直镜(2 )、第二准直镜(2 )、第一透镜(4 )、第二透镜(6 )、样品池(5)、光栅(1 0 )、夹缝(7)、球面镜(1 1)、CCD检测器(1 3)、A/D转换器(1 4)、PC机(1 5)、打印机(1 6)，其特征在于:光源(1)发出光束经过第一准直镜(2)射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜(3)上，经过第一反射镜(3)的反射射出，直接射在第一透镜(3 )上变成汇聚的光线，再通过样品池(5 )的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜(6 )上，通过第二透镜(6 )的处理再变成汇聚的光，透过夹缝(7 )再照射在第二反射镜(8 )上；由第二反射镜(8 )反射照在第二准直镜上，反射出的光线再经过光栅(1 0)和球面镜(1 1)的反射处理，最后由(XD检测器(1 3)的处理，产生电信号，电信号由A/D转换器(1 4)转化为数字信号，数字信号给PC机(1 5)，在经过打印机(1 6)打印出成像图像。2.根据权利要求1所述的一种近红外光谱仪，其特征在于:所述的(XD检测器(13 )采用多级稳压和滤波电路，为光源提供了高度稳定的电源，其电压波动在0.05%以内。3.根据权利要求2所述的一种近红外光谱仪，其特征在于:本专利技术采用半导体制冷手段保持C⑶检测器(13)在恒温下工作，循环冷却水对半导体芯片散热处理。【专利摘要】一种近红外光谱仪。本专利技术包括光源、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、第一准直镜、第二准直镜、第一透镜、第二透镜、样品池、光栅、夹缝、球面镜、CCD检测器、A/D转换器、PC机、打印机；光源发出光束经过第一准直镜射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜上，经过第一反射镜的反射射出，直接射在第一透镜上变成汇聚的光线，再通过样品池的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜上，通过第二透镜的处理再变成汇聚的光，透过夹缝再照射在第二反射镜上；由第二反射镜反射照在第二准直镜上，反本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种近红外光谱仪，其中包括：光源（１）、第一反射镜（３）、第二反射镜（８）、第三反射镜（１２）、第一准直镜（２）、第二准直镜（２）、第一透镜（４）、第二透镜（６）、样品池（５）、光栅（１０）、夹缝（７）、球面镜（１１）、CCD检测器（１３）、A/D转换器（１４）、PC机（１５）、打印机（１６），其特征在于：光源（１）发出光束经过第一准直镜（２）射出平行竖直的光线，照射在第一反射镜（３）上，经过第一反射镜（３）的反射射出，直接射在第一透镜（３）上变成汇聚的光线，再通过样品池（５）的处理射出交叉发散的光线，交叉发散的光线直接照射在第二透镜（６）上，通过第二透镜（６）的处理再变成汇聚的光，透过夹缝（７）再照射在第二反射镜（８）上；由第二反射镜（８）反射照在第二准直镜上，反射出的光线再经过光栅（１０）和球面镜（１１）的反射处理，最后由CCD检测器（１３）的处理，产生电信号，电信号由A/D转换器（１４）转化为数字信号，数字信号给PC机（１５），在经过打印机（１６）打印出成像图像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：田荣侠，
申请(专利权)人：田荣侠，
类型：发明
国别省市：辽宁;21