多光轴光电传感器系统技术方案

本发明专利技术能够准确且迅速设定适应实际应用的浮动消隐功能。检测处理部，将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多条光轴作为检测区域，基于每通过一次扫描进行光轴的选择动作时，判断各光轴是否处于遮挡状态的结果，输出检测信号。检测处理部，在因能够在检测区域内移动的物体导致至少任一条光轴经常处于遮挡状态时，当遮挡光轴数量大于预先设定的最大光轴数量时，输出检测信号。检测处理部当遮挡光轴数量小于预先设定的最小光轴数量时，输出检测信号。学习处理部，每通过一次扫描进行光轴的选择动作时，取得因物体导致处于遮挡状态的光轴数量，基于比较在各个循环(各次扫描)中取得的遮挡光轴数量的结果，设定最大光轴数量以及最小光轴数量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种多光轴光电传感器系统。本专利技术特别是涉及一种具有多光轴光电传感器的浮动消隐(floating blanking)功能的多光轴光电传感器系统。
技术介绍
一般的多光轴光电传感器具有投光部和受光部。投光部是多个投光元件配置成一列构成的。受光部是与投光元件相同数量的受光元件配置成一列构成的。投光元件与受光元件配置为以一对一的关系来彼此面对，并设定了利用多条光轴的检测区域。投光部依次使各投光元件发光。受光部在与投光元件的发光动作同步的时机(时刻)，从与各投光元件相对应的受光元件获取该受光元件的受光量。这样，依次检测多光轴光电传感器的各光轴的遮挡状态。受光部使用各光轴的检测结果，来判断检测区域中是否有物体，并输出表示该判断结果的信号。为了使投光部与受光部同步，经由通信线连接投光部与受光部。或者通过投光部与受光部之间的光通信，来使投光部与受光部同步。例如，多光轴光电传感器被设置为用于保障在生产现场的工作人员的安全的装置。例如，当检测到多光轴光电传感器的检测区域的任一条光轴处于遮挡状态时，就停止生产设备的动作。根据制造装置，在有些情况下，多光轴光电传感器的检测区域的一部分光轴经常在被工件等特定物体遮挡的状态下使用。为了与如这样的应用相对应，多光轴光电传感器具有使被特定的物体遮挡的一部分光轴无效化的消隐功能。在该消隐功能中包括:与遮挡物体固定于检测区域内的情况相对应的固定消隐，和与遮挡物体在检测区域内移动的情况相对应的浮动消隐。如上所述，多光轴光电传感器的安全功能是:当检测区域的任一条光轴产生遮挡状态时，无论被遮挡的光轴的数量是多少，都立刻停止生产设备的动作。与此相对，消隐功能是:在构成检测区域的多条光轴中，当除了满足预先设定的特定条件的光轴以外的光轴被遮挡时，才停止生产设备的动作。用户能够根据遮挡物体的尺寸以及检测区域内的位置，来自由地设定满足该特定的条件的光轴。具体地，在固定消隐功能中，用户能够指定检测区域中的想要无效化的光轴。另一方面，在浮动消隐功能中，用户能够设定想要无效化的光轴的数量。例如在JP特开平2-271199号公报(专利文献1)中公开了一种机床的光束式安全装置。该光束式安全装置具有一种设定模式。就该设定模式而言，针对多条光轴进行全光轴扫描，存储检测到遮挡的全部光轴，并且在通过其后的执行模式的扫描，检测到除了已存储的光轴以外的光轴被遮挡的情况下，判断为除了预定的遮挡物体以外的物体进入危险区域内，并输出使机床停止的信号。另外，在JP专利第4481549号公报(专利文献2)中所记载的具有浮动消隐功能的多光轴光电式安全装置中，在检测区域内局部地设定有浮动消隐区域。通过这样，在设定好的区域内启动浮动消隐功能，在其他的区域内启动通常的安全功能。在专利文献2中，浮动消隐区域是通过学习法来设定的。具体地，在想要设定的区域放置遮挡物体，使处于遮挡的状态下，通过按下学习按钮来指定浮动区域。通过这样，不存在遮挡物体的区域，被指定为进行通常动作的区域。现有技术文献专利文献专利文献1:JP专利平2-271199号公报专利文献2:JP专利第4481549号公报为了使浮动消隐功能正常动作，就实际应用来讲，必需要将想要无效化的光轴数量设定为最佳值。但是，在实际应用中，有时会因机械振动等引起检测区域内的物体的位置产生不规则变化。当因该物体的位置的不规则变化，导致被物体遮挡的光轴的数量也变化时，可能会出现预先设定的想要无效化的光轴数量与实际上被物体遮挡的光轴数量不一致的情况。即，产生原本处于入射状态的光轴变为遮挡状态的情况，或者原本处于遮挡状态的光轴变为入射状态的情况。因此，由于在多光轴光电传感器启动了通常的安全功能，所以机械会意外停止，成为妨碍生产现场生产性的主要原因。此处，有一种多光轴光电传感器具有消隐监视功能，该消隐监视功能用于经常监视检测区域内的遮挡物体的存在。就该消隐监视功能而言，在消隐功能的使用中，遮挡物体从检测区域离开，或者遮挡物体变小的情况下，判断为消隐功能的异常，从而强制性地停止机械的动作，或者，解除消隐功能并将全部检测区域设置为有效。如上所述，当因物体的位置的不规则的变化引起原本处于遮挡状态的光轴变为入射状态时，通过该消隐监视功能进行动作，机械有可能意外地停止。为了防止如这样的浮动消隐功能以及消隐监视功能的错误动作，必需将与浮动消隐功能以及消隐监视功能相关的设定值，准确地设定为实际应用中的最佳值。但是，上述的专利文献1以及2仅公开了设定想要无效化的区域的方法，并没有公开考虑到上述的在实际应用中的问题的设定。此外，在现有的多光轴光电传感器中，有一种方法通过计算或者使用实机的试误法(cut and try)来导出准确的设定值，但是在计算中必需将使用的多光轴光电传感器的最小检测灵敏度、遮挡物体的尺寸等作为变量，来进行复杂的处理，在设定上要花费很多的时间。即使在试误法中，也存在用于缩小设定值的范围的动作量增大的问题。
技术实现思路
本专利技术为了解决如这样的问题点，其目的在于，提供一种在具有浮动消隐功能的多光轴光电传感器系统，能够准确且迅速地设定适合实际应用的消隐功能。根据本专利技术的一个实施方式，提供一种多光轴光电传感器系统，其特征在于，具有:投光部，具有排列配置为直线状的多个投光元件，受光部，具有与多个投光元件分别相向配置的多个受光元件，检测处理部，将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多个光轴作为检测区域，每将光轴的选择动作进行一个循环时都判断多个光轴中的各光轴是否处于遮光状态，基于该判断结果来输出检测信号；在能够在检测区域内移动的物体导致多个光轴中的至少任一个光轴经常处于遮光状态的情况下，当处于遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时，检测处理部输出检测信号，当处于遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时，检测处理部也输出检测信号。优选地，多光轴光电传感器系统还具有教学处理部，教学处理部通过使用物体来进行学习，设定最大光轴数量以及最小光轴数量，教学处理部，每将光轴的选择动作进行一个循环时，都取得因物体导致处于遮光状态的光轴数量，并且基于比较在各循环扫描中取得的遮光光轴数量而得出的结果，来设定最大光轴数量以及最小光轴数量。优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，或者将该最小值减去规定的光轴数量而得到的值，设定为最小光轴数量。优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，或者将该最大值加上规定的光轴数量而得到的值，设定为最大光轴数量。优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最小值，加上规定的光轴数量而得到的值，设定为最大光轴数量。优选地，学习处理部，将在各循环中取得的遮光光轴数量中的最大值，减去规定的光轴数量得到的值，设定为最小光轴数量。优选地，学习处理部，被设于投光部以及受光部中的至少一者中。优选地，检测处理部，被设于投光部以及受光部中的至少一者中。若采用本专利技术，则在具有浮动消隐功能的多光轴光电传感器系统中，通过使用该特定的物体进行学习，分别设定作为与浮动消隐功能有关的设定值的最大光轴数量，以及作为与消隐监视功能有关的设定值的最小光轴数量，该浮动消隐功能使被在检测区域内移动的特定的物体遮挡的一部分光轴无效化。通过这样，能本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多光轴光电传感器系统，其特征在于，具有：投光部，具有排列配置为直线状的多个投光元件，受光部，具有与所述多个投光元件分别相向配置的多个受光元件，检测处理部，将形成于所述多个投光元件与所述多个受光元件之间的多个光轴作为检测区域，每将光轴的选择动作进行一个循环时都判断所述多个光轴中的各光轴是否处于遮光状态，基于该判断结果来输出检测信号；在能够在所述检测区域内移动的物体导致所述多个光轴中的至少任一个光轴经常处于遮光状态的情况下，当处于遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时，所述检测处理部输出所述检测信号，当所述处于遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时，所述检测处理部也输出所述检测信号。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：冈本和伦，桥本实，菊池启作，尾﨏一功，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP