CPU失控检测电路制造技术

本实用新型专利技术涉及CPU失控检测电路，用于将CPU失控信号传递给外界。包括CPU芯片，所述CPU芯片内嵌有随机存储器RAM，所述CPU芯片通过输出电路依次与发光二极管LED的阴极、电阻R相连接，所述电阻R另一端与电源相连。本实用新型专利技术不使用复位电路，仅通过CPU本身便可以检测CPU失控，并将其传递给外界，电路结构简单，成本较低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及CPU失控检测电路，用于将CPU失控信号传递给外界。
技术介绍
现有的技术中，有专门检出CPU失控，并将其复位的电路设计，当CPU失控时，CPU复位电路将其复位，防止CPU继续失控。但是，上述复位电路仅仅是单纯的将失控的CPU电路进行复位，复位后，CPU自动开始从开始地址运行程序，外部将无法了解CPU的失控，且CPU复位电路也存在价格较高的缺点。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本技术提供了 CPU失控检测电路。本技术技术方案如下:CPU失控检测电路，包括CPU芯片，所述CPU芯片内嵌有随机存储器RAM，所述CPU芯片通过输出电路依次与发光二极管LED的阴极、电阻R相连接，所述电阻R另一端与电源相连。本技术有益效果在于:1)不使用复位电路，仅通过CPU本身便可以检测CPU失控，并将其传递给外界；2)电路结构简单成本较低。【附图说明】下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。图1是本技术电路结构图。其中:1、CPU芯片；2、随机存储器RAM ;3、输出电路；4、电阻R ;5、发光二极管LED。【具体实施方式】下面结合附图对本技术作进一步详细的说明。参阅图1。CPU失控检测电路，包括CPU芯片1，所述CPU芯片1内嵌有随机存储器RAM 2，所述CPU芯片1通过输出电路3依次与发光二极管LED 5的阴极、电阻R 4相连接，所述电阻R 4另一端与电源相连。本技术原理是:CPU 1在正常工作下，输出电路3为低电平L，发光二极管LED5为导通状态，此时LED 5为发光状态。接着，CPU 1按照如下步骤运行程序，第一步，CPU 1读取RAM 2中的数据，如果有记录的话，CPU 1输出高电平H，LED 5熄灭，如果没有记录的话，CPU 1输出低电平L，LED 5发光；第二步，第二步，RAM 2清零；第三步，在时钟中断计时器内设定一常数C，CPU1在正常运行的情况下，时钟中断计时器会在小于常数C的时间周期内自动清零，不会发生中断，当CPU1发生失控时，程序进入死循环状态，时钟中断计时器的记数会逐渐叠加，达到常数C时，时钟中断计时器发生中断；第四步，在RAM 2中记录；第五步，CPU 1复位，从第一步开始运行，S卩，CPU 1读取RAM 2中的数据，检测到有记录，CPU 1输出高电平H，LED 5熄灭。从而告知外界，CPU发生过失控。上述附图及实施例仅用于说明本技术，任何所属
普通技术人员对其所做的适当变化或修饰，或改用其他花型做此技术上的改变，都皆应视为不脱离本技术专利范畴。【主权项】1.CPU失控检测电路，其特征在于:包括CPU芯片(1 )，所述CPU芯片(1)内嵌有随机存储器RAM (2)，所述CPU芯片(1)通过输出电路(3)依次与发光二极管LED (5)的阴极、电阻R (4)相连接，所述电阻R (4)另一端与电源相连。【专利摘要】本技术涉及CPU失控检测电路，用于将CPU失控信号传递给外界。包括CPU芯片，所述CPU芯片内嵌有随机存储器RAM，所述CPU芯片通过输出电路依次与发光二极管LED的阴极、电阻R相连接，所述电阻R另一端与电源相连。本技术不使用复位电路，仅通过CPU本身便可以检测CPU失控，并将其传递给外界，电路结构简单，成本较低。【IPC分类】G06F1/24, G06F11/22【公开号】CN205003658【申请号】CN201520666010【专利技术人】志知久彰, 张明军 【申请人】泰志达（苏州）自控科技有限公司【公开日】2016年1月27日【申请日】2015年8月31日本文档来自技高网...

【技术保护点】
CPU失控检测电路，其特征在于：包括CPU芯片（1），所述CPU芯片（1）内嵌有随机存储器RAM（2），所述CPU芯片（1）通过输出电路（3）依次与发光二极管LED（5）的阴极、电阻R（4）相连接，所述电阻R（4）另一端与电源相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：志知久彰，张明军，
申请(专利权)人：泰志达苏州自控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32