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带失调消除的动态范围增强型读出方法及电路技术

技术编号:12790671 阅读:111 留言:0更新日期:2016-01-28 20:53
本发明专利技术涉及集成电路设计领域,为解决传统CTIA型读出电路动态范围受限以及复位引入失调影响输出端的问题,有效扩展读出电路动态范围,避免输入失调电压对输出端的影响。为此,本发明专利技术采取的技术方案是,带失调消除的动态范围增强型读出电路,由运算放大器(OPA)、积分电容、电子开关组成,此外还包括若干比较器、复位晶体管、增益调整电容、一个额外电容、单刀双掷开关,复位晶体管正端接地,复位晶体管负端通过第一电子开关进行复位,复位晶体管负端通过额外电容连接到OPA反相输入端,OPA反相输入端连接读出电路参考电压,OPA输出端与反相输入端之间设置有第二电子开关。本发明专利技术主要应用于集成电路设计。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路设计领域,特别涉及一种带失调消除的动态范围增强型读出 方法及电路。
技术介绍
具有较高动态范围的图像传感器可以探测更宽的场景照度范围,从而可以产生更 多细节的图像。CMOS图像传感器读出电路的动态范围影响着整个图像传感器的性能。传统 结构的读出电路动态范围在60_70dB,而环境图像的动态范围变化往往超过90dB。 对于CMOS图像传感器而言,读出技术主要有直接注入型(DI)、栅调制注入型 (GMI)、源极跟随器型(SFD)、电容跨导放大器型(CTIA)等。其中,DI型和SFD型读出方式在 处理宽动态范围输入信号时会无法保证高线性度;GMI型的电流增益和注入效率对于M0S 管阈值电压非常敏感,导致不同像素间较大的失调电压。CTIA型读出技术可以在宽动态范 围下获得很好的线性度和较高的注入效率,是一种常用的读出方式。 器件以及工艺的失配会导致像素之间产生失调。传统的CTIA型读出电路复位方 式是将输入端与输出端短接,这种方式实现起来较为简单,然而它会导致输入端的失调电 压直接传递到输出端,从而影响传感器的性能。
技术实现思路
为克服现有技术的不足,解决传统CTIA型读出电路动态范围受限以及复位引入 失调影响输出端的问题,有效扩展读出电路动态范围,避免输入失调电压对输出端的影响。 为此,本专利技术采取的技术方案是,带失调消除的动态范围增强型读出电路,由运算放大器 (0ΡΑ)、积分电容、电子开关组成,此外还包括若干比较器、复位晶体管、增益调整电容、一个 额外电容、单刀双掷开关,复位晶体管正端接地,复位晶体管负端通过第一电子开关进行复 位,复位晶体管负端通过额外电容连接到0ΡΑ反相输入端,0ΡΑ反相输入端连接读出电路参 考电压,0ΡΑ输出端与反相输入端之间设置有第二电子开关;复位晶体管负端通过积分电 容连接到单刀双掷开关的单端,单刀双掷开关双端选择连接到0ΡΑ输出端或者读出电路参 考电压;0ΡΑ输出端连接若干比较器反相输入端,比较器同相输入端连接不同的比较器参 考电压;当某一比较器输出跳变,则触发相应的增益调整电容开关,使其增益调整电容连接 为与积分电容Cint并联;第一、二电子开关闭合时,单刀双掷开关双端连接到读出电路参 考电压;第一、二电子开关打开时,单刀双掷开关双端连接到0ΡΑ输出端。 带失调消除的动态范围增强型读出方法,在复位期间,?rst信号置1,光电二极 管被复位到二极管复位电压VPD_RST,使运算放大器0ΡΑ的负端V-复位到Vref+Vos,Vref 为参考电压,Vos为输入端失调电压,运算放大器0ΡΑ输出V0UT复位到Vref+Vos,使通过 额外电容C0跨接在运算放大器0ΡΑ的负端V-与其输出端之间的积分电容右侧在复位期间 始终与参考电压Vref相连,积分电容左侧复位成VPD_RST;当?rst信号跳变为0,复位阶 段结束,积分电容Cint接入到光电二极管阴极与运算放大器0ΡΑ输出端,0ΡΑ输出端变为 Vref,光电流开始在Cint上积分,OPA输出端开始从Vref向上增长,OPA输出端连接到比较 器反相输入端,比较器同相输入端接不同参考电压Vrefl~Vref4,当比较器输出跳变,则 触发相应的增益调整电容Cgl~Cg4的开关,使其左端从VPD_RST连接到光电二极管阴极, 即连接为与积分电容Cint并联,共同作为积分电容,降低光灵敏度。同时,也触发下一个参 考电压接入比较器。V0UT电压越高,触发越高的比较器参考电压接入,同时也就会接入更多 的电容,导致增益更加降低。 本专利技术的特点及有益效果是: 本专利技术提出了一种带失调消除的动态范围增强型读出电路用以解决传统读出电 路动态范围不足以及失调无法消除的问题。相较于一般的动态范围扩展技术,不仅可以在 增加动态范围同时保证良好的线性度,而且消除的失调电压对输出端的影响。最终使得传 感器有效探测范围达到90dB。【附图说明】: 图1动态范围增强型读出电路结构。 图2读出电路折线型输出曲线。 图3失调电压消除技术开关时序。【具体实施方式】 本专利技术中提出的动态范围增强技术如图1所示,图中的CTIA结构采用多电容、 多增益、自调节方式进行光电流的积分,使得弱光强下光响应最灵敏,随着光强增大,积分 增益自动降低,从而压缩了光响应曲线,增大了动态范围。该方案的原理如图1所示。在 复位期间,Orst信号置1,被复位到二极管复位电压VPD_RST,0ΡΑ的负端V-复位到 Vref+Vos(Vref为参考电压,Vos为输入端失调电压),0ΡΑ输出V0UT复位到Vref+Vos,积分 电容右侧在复位期间始终与参考电压Vref相连。当?rst信号跳变为0,复位阶段结束。积 分电容Cint接入到光电二极管阴极与0ΡΑ输出端,V0UT变为Vref。光电流开始在Cint上 积分,V0UT开始从Vref向上增长。V0UT连接到比较器反相输入端,比较器同相输入端接不 同参考电压Vref1~Vref4,当比较器输出跳变,则触发相应的增益调整电容(Cgl~Cg4) 的开关,使其左端从VPD_RST连接到光电二极管阴极,即连接为与积分电容Cint并联,共同 作为积分电容,降低光灵敏度。同时,也触发下一个参考电压接入比较器。V0UT电压越高, 触发越高的比较器参考电压接入,同时也就会接入更多的电容,导致增益更加降低,最终的 输出如图2所示。 传统的基于CTIA的像素复位方式是直接将0ΡΑ输入端和输出端短接。这种方式实 现起来较为简单,但是运放输入端的失调电压会传递到输当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带失调消除的动态范围增强型读出电路,其特征是,由运算放大器OPA、积分电容、电子开关组成,此外还包括若干比较器、复位晶体管、增益调整电容、一个额外电容、单刀双掷开关,复位晶体管正端接地,复位晶体管负端通过第一电子开关进行复位,、复位晶体管负端通过额外电容连接到运算放大器反相输入端,运算放大器反相输入端连接读出电路参考电压,运放输出端与反相输入端之间设置有第二电子开关;、复位晶体管负端通过积分电容连接到单刀双掷开关的单端,单刀双掷开关双端选择连接到运算放大器输出端或者读出电路参考电压;运放输出端连接一个比较器反相输入端,比较器同相输入端连接不同的比较器参考电压;当某一比较器输出跳变,则触发相应的增益调整电容开关,使其增益调整电容连接为与积分电容Cint并联;第一、二电子开关闭合时,单刀双掷开关双端连接到读出电路参考电压;第一、二电子开关打开时,单刀双掷开关双端连接到OPA输出端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:姚素英杨聪杰徐江涛高静史再峰聂凯明高志远
申请(专利权)人:天津大学
类型:发明
国别省市:天津;12

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