一种基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法技术

技术编号:12780512 阅读:133 留言:0更新日期:2016-01-27 23:12
本发明专利技术特别涉及一种基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法。该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,使Rack机柜的各个节点分别处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片;在Rack机柜运行过程中BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,不同于通常Rack机柜以固定系数修正入风温度的方法,而是考虑到节点功耗对温度偏差的影响,根据节点的实际运行功耗设置不同的修正系数,保证了Rack机柜在不同运行工况下对环境温度监测的精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及Rack机柜服务器产品散热
,特别涉及。
技术介绍
随着云计算的快速发展,集中散热和集中供电的Rack机柜服务器产品应运而生。集中散热势必会带来风扇需要简单快捷的可维护性。在Rack机柜中,为了实时监测设备运行时的环境温度,会在每个节点的主板靠近入风口的位置集成一颗温度传感器。但是由于受到主板发热的影响,设置在主板靠近入风口的位置的这一颗温度传感器反馈值往往会高于实际环境温度值。在发觉这一问题后,为了让温度传感器真实反映环境温度,技术人员在通常情况下采用的措施是根据实验室测试结果,由软件对反馈温度值进行修正。具体的说,就是在这颗温度传感器反馈值的基础上减掉一个固定的修正系数。然而,主板的发热量不是一成不变的,而是受到节点功耗的影响随时在变化着的。当节点功耗较高时,主板发热量就会随之变大,温度传感器的反馈值与环境温度偏差也就相对更大。当节点功耗较低时,主板发热量随之变小,温度传感器的反馈值与环境温度偏差就相对更小。所以,用于修整入风温度的修正系数应该随着节点功耗的不同而变化,固定的修正系数只能保证节点在个别节点功耗时的读值精度,当节点功耗值发生变化时,偏差极易超出许可范围。针对上述温度传感器的反馈值与环境温度偏差受到节点功耗的影响随时在变化,造成Rack机柜入风温度偏差较大的问题,本专利技术设计了。本专利技术不同于通常Rack机柜以固定系数修正入风温度的方法,而是考虑到节点功耗对温度偏差的影响,根据节点的实际运行功耗设置不同的修正系数,保证温度传感器在所有工况能准确反映环境温度。
技术实现思路
本专利技术为了弥补现有技术的缺陷,提供了一种简单高效的基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法。本专利技术是通过如下技术方案实现的: ,其特征在于:在Rack机柜的各个节点上分别设置功耗监测器和入风温度传感器,并在各个节点外侧设置一个环境温度传感器用于测试实时的环境温度;分别对Rack机柜的各个节点施加不同的压力,从而使其处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片;在Rack机柜运行过程中,所述功耗监测器和入风温度传感器分别将实时节点运行功耗和入风温度输入BMC芯片,BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。所述环境温度传感器安装在节点外侧,距离节点入风口 1cm处。在Rack机柜运行过程中,Rack机柜上所有节点的BMC芯片将修正后的入风温度值输入机柜RMC,RMC对所有节点的入风温度值取平均值,并将该平均值作为当前环境温度。本专利技术的有益效果是:该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,不同于通常Rack机柜以固定系数修正入风温度的方法,而是考虑到节点功耗对温度偏差的影响,根据节点的实际运行功耗设置不同的修正系数,保证了 Rack机柜在不同运行工况下对环境温度监测的精度。【附图说明】附图1为本专利技术基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本专利技术进行详细的说明。应当说明的是,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,在Rack机柜的各个节点上分别设置功耗监测器和入风温度传感器,并在各个节点外侧设置一个环境温度传感器用于测试实时的环境温度; 分别对Rack机柜的各个节点施加不同的压力,从而使其处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片;在Rack机柜运行过程中,所述功耗监测器和入风温度传感器分别将实时节点运行功耗和入风温度输入BMC芯片,BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。所述环境温度传感器安装在节点外侧,距离节点入风口 1cm处。在Rack机柜运行过程中,Rack机柜上所有节点的BMC芯片将修正后的入风温度值输入机柜RMC,RMC对所有节点的入风温度值取平均值,并将该平均值作为当前环境温度。【主权项】1.,其特征在于:在Rack机柜的各个节点上分别设置功耗监测器和入风温度传感器,并在各个节点外侧设置一个环境温度传感器用于测试实时的环境温度; 分别对Rack机柜的各个节点施加不同的压力,从而使其处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片; 在Rack机柜运行过程中,所述功耗监测器和入风温度传感器分别将实时节点运行功耗和入风温度输入BMC芯片,BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。2.根据权利要求1所述的基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,其特征在于:所述环境温度传感器安装在节点外侧,距离节点入风口 1cm处。3.根据权利要求1所述的基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,其特征在于:在Rack机柜运行过程中,Rack机柜上所有节点的BMC芯片将修正后的入风温度值输入机柜RMC,RMC对所有节点的入风温度值取平均值,并将该平均值作为当前环境温度。【专利摘要】本专利技术特别涉及。该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,使Rack机柜的各个节点分别处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片;在Rack机柜运行过程中BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。该基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,不同于通常Rack机柜以固定系数修正入风温度的方法,而是考虑到节点功耗对温度偏差的影响,根据节点的实际运行功耗设置不同的修正系数,保证了Rack机柜在不同运行工况下对环境温度监测的精度。【IPC分类】G05D23/30【公开号】CN105278579【申请号】CN201510814247【专利技术人】王聪 【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司【公开日】2016年1月27日【申请日】2015年11月23日本文档来自技高网...
一种基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法

【技术保护点】
一种基于节点功耗的Rack机柜入风温度修正方法,其特征在于:在Rack机柜的各个节点上分别设置功耗监测器和入风温度传感器,并在各个节点外侧设置一个环境温度传感器用于测试实时的环境温度;分别对Rack机柜的各个节点施加不同的压力,从而使其处于不同的运行功耗,分别测试各个节点的环境温度与入风温度传感器读值的偏差,并以环境温度与入风温度传感器读值的差值作为修正系数,然后将所得的修正系数与节点功耗的对应关系写入到BMC芯片;在Rack机柜运行过程中,所述功耗监测器和入风温度传感器分别将实时节点运行功耗和入风温度输入BMC芯片,BMC芯片根据实时节点功耗调取对应的修正系数对入风温度值进行修正即可。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王聪
申请(专利权)人:浪潮电子信息产业股份有限公司
类型:发明
国别省市:山东;37

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