本发明专利技术公开了一种触头尺寸综合检验装置，包括工作机构和支撑机构，所述工作机构包括底板，底板上表面左右两侧设置有竖直导轨，中部及下端水平设置有通端检验部和止端检验部；所述支撑机构包括连接件和与连接件通过螺钉和螺母固定连接的支撑轴，连接件与底板通过连接螺钉固定连接。本发明专利技术结构简单、使用方便，实现了触头高度与直径尺寸的综合检验，提高了检测效率。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于一种量规型检测装置，具体涉及一种触头尺寸综合检验装置。
技术介绍
触头的高度和直径等尺寸是其重要尺寸参数。目前主要靠常规量具及三坐标测量机对其进行抽检。由于目前的触头加工情况，不能很好的满足后续工艺的要求，用常规量具及三坐标测量机进行小数量的抽检，已不能满足生产要求。因此需研制可用于生产现场的，快速综合检验装置，提高触头的检测效率。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种触头尺寸综合检验装置。本专利技术的技术方案是: 一种触头尺寸综合检验装置，包括工作机构和支撑机构，所述工作机构包括底板，底板上表面左右两侧设置有竖直导轨，中部及下端水平设置有通端检验部和止端检验部；所述支撑机构包括连接件和与连接件通过螺钉和螺母固定连接的支撑轴，连接件与底板通过连接螺钉固定连接；所述通端检验部形成多个通端方孔，止端检验部上形成多个止端方孔；通端方孔和止端方孔孔截面呈长方形，通端方孔孔截面的长度与触头直径的最大极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最大极限尺寸相匹配；止端方孔孔截面的长度与触头直径的最小极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最小极限尺寸相匹配。所述通端检验部和止端检验部相互平行。所述底板与支撑轴之间呈一定夹角。本专利技术的有益效果是: 本专利技术的工作机构的底板与支撑机构的支撑轴之间调整为一定角度后用螺钉和螺母固定，使得工件可在底板上由于其自身重力向下滑行。本专利技术结构简单、使用方便，实现了触头尚度与直径尺寸的综合检验，提尚了检测效率。【附图说明】图1是本专利技术的主视图； 图2是本专利技术的俯视图； 图3是本专利技术的右视图； 图4是本专利技术的等轴侧视图； 图5是图1中A向视图。其中: 1 工作机构2 支撑机构 3底板4 通端检验部 5止端检验部6导轨 7连接板8支撑轴 9螺钉10螺母 11连接螺钉12通端方孔 13止端方孔。【具体实施方式】下面结合说明书附图及实施例对本专利技术一种触头尺寸综合检验装置进行详细说明: 如图1~5所示，一种触头尺寸综合检验装置，包括工作机构1和支撑机构2，所述工作机构1包括底板3，底板3上表面左右两侧设置有竖直导轨6，中部及下端水平设置有通端检验部4和止端检验部5 ;所述支撑机构2包括连接件7和与连接件7通过螺钉9和螺母10固定连接的支撑轴8，连接件7与底板3通过连接螺钉11固定连接。所述通端检验部4形成多个通端方孔12，止端检验部5上形成多个止端方孔13 ;通端方孔12和止端方孔13孔截面呈长方形，通端方孔12孔截面的长度与触头直径的最大极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最大极限尺寸相匹配；止端方孔13孔截面的长度与触头直径的最小极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最小极限尺寸相匹配。所述通端检验部4和止端检验部5上的方形通孔的轴线导轨平行。所述通端检验部4和止端检验部5相互平行。所述底板3与支撑轴8之间呈一定夹角。所述触头为扁圆柱型结构。所述通端方孔12和止端方孔13的一侧孔壁均由底板构成。本专利技术的工作过程为: 将被测工件放置在底板3上的通端检验部4上方的两导轨6之间，自由下滑至通端检验部4的方形通孔处，将未通过通端检验部4方形通孔的工件剔除，通过通端检验部4方形通孔的工件继续自由下滑至止端检验部5的方形通孔，将通过止端检验部5方形通过的工件剔除，其余工件为最终合格件收集包装。【主权项】1.一种触头尺寸综合检验装置，其特征在于:包括工作机构(1)和支撑机构(2)，所述工作机构(1)包括底板(3 )，底板(3 )上表面左右两侧设置有竖直导轨(6 )，中部及下端水平设置有通端检验部(4)和止端检验部(5);所述支撑机构(2)包括连接件(7)和与连接件(7)通过螺钉(9)和螺母(10)固定连接的支撑轴(8)，连接件(7)与底板(3)通过连接螺钉(11)固定连接；所述通端检验部(4)形成多个通端方孔(12)，止端检验部(5)上形成多个止端方孔(13);通端方孔(12)和止端方孔(13)孔截面呈长方形，通端方孔(12)孔截面的长度与触头直径的最大极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最大极限尺寸相匹配；止端方孔(13)孔截面的长度与触头直径的最小极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最小极限尺寸相匹配。2.根据权利要求1所述的一种触头尺寸综合检验装置，其特征在于:所述通端检验部(4)和止端检验部(5)上的方形通孔的轴线与导轨平行。3.根据权利要求1所述的一种触头尺寸综合检验装置，其特征在于:所述通端检验部(4)和止端检验部(5)相互平行。4.根据权利要求1所述的一种触头尺寸综合检验装置，其特征在于:所述底板(3)与支撑轴(8)之间呈一定夹角，角度在10° ~60°之间。【专利摘要】本专利技术公开了一种触头尺寸综合检验装置，包括工作机构和支撑机构，所述工作机构包括底板，底板上表面左右两侧设置有竖直导轨，中部及下端水平设置有通端检验部和止端检验部；所述支撑机构包括连接件和与连接件通过螺钉和螺母固定连接的支撑轴，连接件与底板通过连接螺钉固定连接。本专利技术结构简单、使用方便，实现了触头高度与直径尺寸的综合检验，提高了检测效率。【IPC分类】G01B5/02, G01B5/08, G01B5/00【公开号】CN105277092【申请号】CN201510826703【专利技术人】齐铁城, 康慧 【申请人】中核(天津)科技发展有限公司【公开日】2016年1月27日【申请日】2015年11月25日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触头尺寸综合检验装置，其特征在于：包括工作机构（1）和支撑机构（2），所述工作机构（1）包括底板（3），底板（3）上表面左右两侧设置有竖直导轨（6），中部及下端水平设置有通端检验部（4）和止端检验部（5）；所述支撑机构（2）包括连接件（7）和与连接件（7）通过螺钉（9）和螺母（10）固定连接的支撑轴（8），连接件（7）与底板（3）通过连接螺钉（11）固定连接；所述通端检验部（4）形成多个通端方孔（12），止端检验部（5）上形成多个止端方孔（13）；通端方孔（12）和止端方孔（13）孔截面呈长方形，通端方孔（12）孔截面的长度与触头直径的最大极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最大极限尺寸相匹配；止端方孔（13）孔截面的长度与触头直径的最小极限尺寸相匹配，宽度与触头高度的最小极限尺寸相匹配。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：齐铁城，康慧，
申请(专利权)人：中核天津科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：天津;12
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