本实用新型专利技术公开了一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，包括环形器，测试模块包括准直器、半波片、偏振片及平面反射镜，准直器与环形器连接，半波片和偏振片设于多通道扭曲向列型液晶的两侧，平面反射镜设于偏振片的一侧；处理模块包括光谱分析仪，光谱分析仪与环形器连接。本实用新型专利技术提供的一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，实现了多个通道同时测试的方式，通过每个通道的电压-光串扰二次函数曲线拟合得出每个通道最佳电压即为二次函数导数为零所对应的电压。具有测试方法简单、精度高且时间短成本低等优点，应用范围广泛，尤其适用于大型企业对多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压的测试。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及液晶显示器
，尤其涉及一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置。
技术介绍
液晶显示器是一种显示设备，在众多平面显示器件中，其具有发展成熟，应用领域广泛等优点，目前已经产业化，且仍在快速发展。其中，扭曲向列型液晶不但可以应用到液晶显示LCD领域，同时在光通信市场中还可实现光学偏振态的选择。多通道扭曲向列型液晶在实现光学偏振态的选择时，一般需要对光串扰最佳电压进行测试，以实现检测各个液晶单元内部液晶的均匀性。目前，常用的测试方法为逐个通道依次进行测试。但是，上述方式测试过程中，每个通道单独进行测试，测量工序较多，操作起来较为复杂，不仅测试的速度较慢，耗时长，而且测试的精度不易控制，测试精度较低。
技术实现思路
本技术的目的在于提出一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，以解决现有技术中存在的测试速度较慢，耗时长，测试的精度不易控制，测试精度较低的技术问题。为达此目的，本技术采用以下技术方案:一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，包括环形器，所述环形器通过光纤分别连接光源模块、测试模块和处理模块；所述测试模块包括准直器、半波片、偏振片及平面反射镜，所述准直器与所述环形器连接，所述半波片和所述偏振片设于多通道扭曲向列型液晶的两侧，所述平面反射镜设于所述偏振片的一侧；所述处理模块包括光谱分析仪，所述光谱分析仪与所述环形器连接。进一步的，还包括用于采集、存储所述光谱分析仪数据的采集存储模块； 所述采集存储模块与所述光谱分析仪连接。进一步的，所述测试模块还包括光学平台，所述准直器、所述半波片、所述多通道扭曲向列型液晶、所述偏振片及所述平面反射镜均设于所述光学平台上。进一步的，所述光学平台上设有夹治具，所述夹治具与所述多通道扭曲向列型液晶连接。进一步的，所述半波片包括22.5°半波片和0°半波片，沿所述准直器至所述多通道扭曲向列型液晶方向，依次设置所述22.5°半波片和所述0°半波片；所述偏振片为45°偏振片。进一步的，所述夹治具包括夹具和治具，所述夹具支撑所述多通道扭曲向列型液晶，所述治具上设有通电接口，所述多通道扭曲向列型液晶与所述通电接口连接。本技术提供的一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，使用时，光源模块作为宽带光源，宽带光源经过环形器入射到准直器，之后由半波片产生多光束干涉线偏振光，偏振光通过多通道扭曲向列型液晶后，通过偏振片，由偏振片对不同的偏振光进行能量衰减得到不同频率的宽带光，最后，由平面反射镜对不同频率的宽带光进行反射，最终通过环形器接收到光谱分析仪中，其中，整个测试过程中，对多通道扭曲向列型液晶提供不同的电压值，通过光谱分析仪测量多通道扭曲向列型液晶在不同电压下的光串扰。该多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，实现了多个通道同时测试的方式，通过每个通道的电压-光串扰二次函数曲线拟合得出每个通道最佳电压即为二次函数导数为零所对应的电压。具有测试方法简单、精度高且时间短成本低等优点，应用范围广泛，尤其适用于大型企业对多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压的测试。【附图说明】图1是本技术实施例提供的一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置的结构示意框图。图中:1、环形器；2、光源模块；3准直器；4、半波片；5、偏振片；6、平面反射镜；7、光谱分析仪；8、采集存储模块；9、光学平台；10、多通道扭曲向列型液晶。【具体实施方式】下面结合附图并通过【具体实施方式】来进一步说明本技术的技术方案。实施例1如图1所示，一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，包括环形器1，环形器1通过光纤分别连接光源模块2、测试模块和处理模块；测试模块包括准直器3、半波片4、偏振片5及平面反射镜6，准直器3与环形器1连接，半波片4和偏振片5设于多通道扭曲向列型液晶10的两侧，平面反射镜6设于偏振片5的一侧；处理模块包括光谱分析仪7，光谱分析仪7与环形器1连接。上述实施例提供的一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，使用时，光源模块2作为宽带光源，宽带光源经过环形器1入射到准直器3，之后由半波片4产生多光束干涉线偏振光，偏振光通过多通道扭曲向列型液晶10后，通过偏振片5，由偏振片5对不同的偏振光进行能量衰减得到不同频率的宽带光，最后，由平面反射镜6对不同频率的宽带光进行反射，最终通过环形器1接收到光谱分析仪7中，其中，整个测试过程中，对多通道扭曲向列型液晶10提供不同的电压值，通过光谱分析仪7测量多通道扭曲向列型液晶10在不同电压下的光串扰。该多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，实现了多个通道同时测试的方式，通过每个通道的电压-光串扰二次函数曲线拟合得出每个通道最佳电压即为二次函数导数为零所对应的电压。具有测试方法简单、精度高且时间短成本低等优点，应用范围广泛，尤其适用于大型企业对多通道扭曲向列型液晶10光串扰最佳电压的测试。实施例2如图1所示，一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，包括环形器1，环形器1通过光纤分别连接光源模块2、测试模块和处理模块；测试模块包括准直器3、半波片4、偏振片5及平面反射镜6，准直器3与环形器1连接，半波片4和偏振片5设于多通道扭曲向列型液晶10的两侧，平面反射镜6设于偏振片5的一侧；处理模块包括光谱分析仪7，光谱分析仪7与环形器1连接。还包括用于采集、存储光谱分析仪7数据的采集存储模块8 ;采集存储模块8与光谱分析仪7连接。[0当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多通道扭曲向列型液晶光串扰最佳电压测试装置，其特征在于，包括环形器(1)，所述环形器(1)通过光纤分别连接光源模块(2)、测试模块和处理模块；所述测试模块包括准直器(3)、半波片(4)、偏振片(5)及平面反射镜(6)，所述准直器(3)与所述环形器(1)连接，所述半波片(4)和所述偏振片(5)设于多通道扭曲向列型液晶(10)的两侧，所述平面反射镜(6)设于所述偏振片(5)的一侧；所述处理模块包括光谱分析仪(7)，所述光谱分析仪(7)与所述环形器(1)连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张磊，邹建兵，龚勇，袁海骥，
申请(专利权)人：科纳技术苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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