一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法和系统技术方案

技术编号:12702794 阅读:142 留言:0更新日期:2016-01-13 22:50
本发明专利技术适用于轧钢领域,提供了一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法和系统,所述方法中,控制终端控制表面热电偶使之接触板带,以便获取板带的实际温度T;控制终端通过辐射高温计,获取测量温度Ts,根据实际温度和测量温度的温度差确定光谱发射率的修正值;使用所述光谱发射率的修正值调整辐射高温计的光谱发射率;周期性的进行所述实际温度和测量温度采集,以及辐射高温计的光谱发射率的调整,至到当前计算的温度差在预设阈值内,则记录对应光谱发射率。本发明专利技术实施例根据不同的工况环境,执行规定的判断和处理流程,并结合最小二乘法对捕获的数据进行拟合计算,进而得到准确且与工况匹配的光谱发射率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于乳钢领域,尤其涉及一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法和 系统。
技术介绍
连续退火炉是钢铁行业中常见的热处理工艺。由于不同钢种、牌号的板带在经过 各处理段时,要求达到不同的板带温度,而退火炉生产线速度快,对板带的性能影响高,所 以在线连续准确测量和控制板带温度是保证板带性能指标的重要条件。 目前国内生产线常采用辐射高温计进行炉内板带温度的在线测量。但由于物体发 射率易受自身特性及环境影响,此类测温仪所测得的温度值与实际值之间一般存在较大偏 差,因此需要经常调校。然而目前国内机组对此类测温仪的调校自动化程度较低,且调校误 差大,直接影响了生产线的板温控制水平,进而影响了产品质量和生产经济效益。
技术实现思路
本专利技术实施例的目的在于提供一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法,以 解决现有技术测温仪的调校自动化程度较低,且调校误差大的问题。 本专利技术实施例是这样实现的,一方面给本专利技术实施例提供了一种用于连续退火炉 辐射高温计测温调校方法,其中,控制终端跟踪板带上卷带尾和下卷带头的焊缝位置,并在 确认到达所述焊缝位置时,启动测温准确度的调校过程,所述调校过程具体包括: 控制终端控制表面热电偶使之接触板带6,以便获取板带6的实际温度T; 控制终端通过辐射高温计,获取测量温度Ts,根据实际温度和测量温度的温度差 确定光谱发射率的修正值; 使用所述光谱发射率的修正值调整辐射高温计的光谱发射率; 周期性的进行所述实际温度和测量温度采集,以及辐射高温计的光谱发射率的调 整,至到当前计算的温度差在预设阈值内,则记录对应光谱发射率。 优选的,在记录对应光谱发射率后,结束本轮的测温准确度的调校,控制终端控制 表面热电偶使之脱离板带6,进入辐射高温计稳定工作过程,则所述方法还包括: 在所述辐射高温计稳定工作过程中,控制终端实时的获取工况环境,所述工况环 境包括板带规格、板带速度和环境温度中的一项或者多项; 并在所述工况环境中任一一项发生变化时,重新启动所述测温准确的调校过程。 优选的,所述根据实际温度和测量温度的温度差确定光谱发射率的修正值,具体 包括: 若温度差ΔΤ>0,光谱发射率ε的修正向自减少方向调整,其中ε的自减值 0.02;若ΔΤ<0,光谱发射率ε的修正向自增加方向进行,即将ε自加0.02。 优选的,所述周期性的进行所述实际温度和测量温度采集,以及辐射高温计的光 谱发射率的调整,具体包括 控制终端根据最小二乘法将之前计算得到的光谱发射率ε和温度差ΔΤ的数组 拟合成线性函数,根据线性函数计算温度差AT= 0时的更加精确的光谱发射率εi,并以 所述εi作为当前调整的光谱发射率值。 优选的,所述预设阈值具体为: 表面热电偶测量的真实温度T的0. 5%。 优选的,所述记录对应光谱发射率,还包括: 同时记录完成所述测温准确度的调校过程时,对应板带规格、板带速度和环境温 度中的一项或者多项。 另一方面,本专利技术实施例还提供了一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法 系统,所述调校系统包括控制终端、表面热电偶和辐射高温计,具体的: 控制终端跟踪板带上卷带尾和下卷带头的焊缝位置,并在确认到达所述焊缝位置 时,启动测温准确度的调校过程,所述调校过程具体包括: 控制终端控制表面热电偶使之接触板带6,以便获取板带6的实际温度T; 控制终端通过辐射高温计,获取测量温度Ts,根据实际温度和测量温度的温度差 确定光谱发射率的修正值; 使用所述光谱发射率的修正值调整辐射高温计的光谱发射率; 周期性的进行所述实际温度和测量温度采集,以及辐射高温计的光谱发射率的调 整,至到当前计算的温度差在预设阈值内,则记录对应光谱发射率。 优选的,在记录对应光谱发射率后,结束本轮的测温准确度的调校,控制终端控制 表面热电偶使之脱离板带6,进入辐射高温计稳定工作过程,则所述方法还包括: 在所述辐射高温计稳定工作过程中,控制终端实时的获取工况环境,所述工况环 境包括板带规格、板带速度和环境温度中的一项或者多项; 并在所述工况环境中任一一项发生变化时,重新启动所述测温准确的调校过程。 优选的,所述根据实际温度和测量温度的温度差确定光谱发射率的修正值,具体 包括: 若温度差ΔΤ>0,光谱发射率ε的修正向自减少方向调整,其中ε的自减值 0.02;若ΔΤ<0,光谱发射率ε的修正向自增加方向进行,即将ε自加0.02。 优选的,所述控制终端具体为PLC控制系统中的操控平台。 本专利技术实施例提供的一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法的有益效果 包括:本专利技术实施例根据不同的工况环境,执行规定的判断和处理流程,并结合最小二乘法 对捕获的数据进行拟合计算,进而得到准确且与工况匹配的光谱发射率。这种方法能够在 不损害板带表面质量的基础上,获取不同工况下更加准确的光谱发射率,进而大大提高辐 射高温计测温的准确性,促进了板温测量和控制在退火炉的推广应用。【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述 中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些 实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附 图获得其他的附图。 图1是本专利技术实施例提供的一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校系统的架 构示意图; 图2是本专利技术实施例提供的一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法的流 程不意图; 图3是本专利技术实施例提供的一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法的流 程不意图; 图4是本专利技术实施例提供的一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法的流 程不意图; 图1中:1、PLC控制系统;2、辐射高温计;3、表面热电偶;4、电动执行器;5、退火炉 炉体;6、板带;7、表面热电偶入炉通道;8、屏蔽保护罩。【具体实施方式】 为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对 本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术,并 不用于当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
一种<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/52/CN105241581.html" title="一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法和系统原文来自X技术">用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法和系统</a>

【技术保护点】
一种用于连续退火炉辐射高温计测温调校方法,其特征在于,控制终端跟踪板带上卷带尾和下卷带头的焊缝位置,并在确认到达所述焊缝位置时,启动测温准确度的调校过程,所述调校过程具体包括:控制终端控制表面热电偶使之接触板带,以便获取板带的实际温度T;控制终端通过辐射高温计,获取测量温度Ts,根据实际温度和测量温度的温度差确定光谱发射率的修正值;使用所述光谱发射率的修正值调整辐射高温计的光谱发射率;周期性的进行所述实际温度和测量温度采集,以及辐射高温计的光谱发射率的调整,至到当前计算的温度差在预设阈值内,则记录对应光谱发射率。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张凯
申请(专利权)人:中冶南方工程技术有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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