本实用新型专利技术公开了一种测试芯片电源可靠性的装置，涉及电源性能的测试装置技术领域。所述装置串联在芯片供电回路上，包括第一金属连接件、第二金属连接件和可变电子负载，所述可变电子负载的两端并联有电压传感器，所述第一金属连接件、可变电子负载以及第二金属连接件构成的导电支路上设有电流传感器，所述电压传感器和电流传感器通过信号处理电路与微处理器的信号输入端连接，人机交互模块与所述微处理器进行双向连接，用于输入和显示数据。所述装置能够对为芯片提供供电电源的电源模块进行测试，找出供电模块的薄弱环节，提高电源模块的可靠性。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电源性能的测试装置
，尤其涉及一种测试芯片电源可靠性的装置。
技术介绍
可靠性测试在产品研发过程中占据重要的地位，可靠性测试健全与否很大程度上决定了研发产品的稳定性与可靠性。研发产品系统中，最重要的电源部分是可靠性测试中重点关注的测试项目。在电源部分的可靠性测试中，通常需要重点关注电源容限、芯片供电电源的薄弱点等。为了提高系统可靠性，常常需要对电子产品系统做一些可靠性测试，从而验证产品在极端的工作条件下是否具备可靠性与稳定性。而芯片供电电源作为系统的核心部分，其电源的稳定性和健壮性直接影响系统的稳定性。因此业界在研发测试阶段通常需要对系统进行单板可靠性测试，具体可以为对单板电源进行拉偏，通过拉低芯片供电电压来验证系统对电源波动的敏感度、验证系统在电源方面的可靠性。目前业界常用的方法是降低整个系统电压来验证芯片供电电压对波动的敏感度和系统的可靠性，通过调低DC-DC (直流-直流)电源、LDO (低压差稳压器)电源的电压幅值来降低整个系统的电压，从而验证系统在哪个电压值会出现问题。但系统上的DCDC电源、LDO电源一般都不会单独供电给某个芯片，这样有以下几个方面的问题:(I)不能单独对芯片供电电源进行可靠性测试:由于系统的电源是非单独供电的，而且芯片可能同时存在多个供电电源，因此无法单独对芯片进行供电电源的可靠性测试；(2)不能保证系统对电源的整体可靠性:由于系统电源存在供电给多个芯片的可能，那么，通过调低电压的方法就存在验证到最薄弱环节的芯片供电电源，而第二薄弱以及其他较为薄弱的芯片供电电源是无法验证到的，而单板可靠性测试的原则是找出系统的每一个薄弱的环节。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置能够对为芯片提供供电电源的电源模块进行测试，找出供电模块的薄弱环节，提高电源模块的可靠性。为解决上述技术问题，本技术所采取的技术方案是:一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于:能准确的判断电源的可靠性，提高电源的安全性。所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件、用于连接供电电源的第二金属连接件，以及一端与第一金属连接件电连接，另一端与第二金属连接件电连接的可变电子负载，所述可变电子负载的两端并联有电压传感器，所述第一金属连接件、可变电子负载以及第二金属连接件构成的导电支路上设有电流传感器，所述电压传感器和电流传感器通过信号处理电路与微处理器的信号输入端连接，人机交互模块与所述微处理器进行双向连接，用于输入和显示数据。进一步的技术方案在于:所述可变电子负载为可变电阻。进一步的技术方案在于:所述人机交互模块为触摸屏。进一步的技术方案在于:所述人机交互模块为与微处理器的信号输入端连接的按键模块和与微处理器的信号输出端连接的显示模块。进一步的技术方案在于:所述第一金属连接件和第二金属连接件为金属夹。进一步的技术方案在于:所述第一金属连接件和第二金属连接件为筒状金属件。用上述技术方案所产生的有益效果在于:所述装置通过改变可变电子负载的电阻值来改变供电电源输出的电流和电压，并通过电流传感器和电压传感器对电源模块输出的电流和电压进行实时监测，提高测试的准确度，可以定量的验证系统对电压波动的敏感性，并能够单独对每个芯片的供电电源进行电源可靠性测试，找出芯片供电电源的薄弱点，保证供电模块整体的可靠性。此装置可用于银行的联机系统、广播通信设备、航空港和交通管制系统、以及各种工厂的过程控制设备、仪表设备。【附图说明】下面结合附图和【具体实施方式】对本技术作进一步详细的说明。图1是本技术的原理框图；其中:1、第一金属连接件2、第二金属连接件3、可变电子负载4、电压传感器5、电流传感器6、信号处理电路7、微处理器8、人机交互模块。【具体实施方式】下面结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是本技术还可以采用其他不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。如图1所示，本技术公开了一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件1、用于连接供电电源的第二金属连接件2，以及一端与第一金属连接件I电连接，另一端与第二金属连接件2电连接的可变电子负载3，所述可变电子负载3可以为可变电阻，当然还可以选择其他能够改变阻值的元器件进行替换。当芯片和供电电源为整体元器件时，所述第一金属连接件I和第二金属连接件2可以为金属夹，方便第一金属连接件I和第二金属连接件2与芯片和供电电源的相关引脚夹持。当芯片和供电电源为分立元件时，所述第一金属连接件I和第二金属连接件2可以为筒状金属件，可方便的将芯片和供电电源的相关引脚插入到第一金属连接件I和第二金属连接件2内。所述可变电子负载3的两端并联有电压传感器4，所述第一金属连接件1、可变电子负载3以及第二金属连接件2构成的导电支路上设有电流传感器5，所述电压传感器4和电流传感器5通过信号处理电路6与微处理器7的信号输入端连接，人机交互模块8与所述微处理器7进行双向连接，用于输入和显示数据。所述人机交互模块有两种选择，第一种为触摸屏，第二种为与微处理器7的信号输入端连接的按键模块和与微处理器7的信号输出端连接的显示模块，具体使用那一种可以根据需要进行选择。 所述装置通过改变可变电子负载的电阻值来改变供电电源输出的电流和电压，并通过电流传感器和电压传感器对电源模块输出的电流和电压进行实时监测，提高测试的准确度，可以定量的验证系统对电压波动的敏感性，并能够单独对每个芯片的供电电源进行电源可靠性测试，找出芯片供电电源的薄弱点，保证供电模块整体的可靠性。【主权项】1.一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于:所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件(I)、用于连接供电电源的第二金属连接件(2)，以及一端与第一金属连接件(I)电连接，另一端与第二金属连接件(2)电连接的可变电子负载(3)，所述可变电子负载(3)的两端并联有电压传感器(4)，所述第一金属连接件(I)、可变电子负载(3)以及第二金属连接件(2)构成的导电支路上设有电流传感器(5)，所述电压传感器(4)和电流传感器(5)通过信号处理电路(6)与微处理器(7)的信号输入端连接，人机交互模块(8)与所述微处理器(7)进行双向连接，用于输入和显示数据。2.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于:所述可变电子负载(3)为可变电阻。3.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于:所述人机交互模块⑶为触摸屏。4.根据权利要求1所述的测试芯片电源可靠性的装置，其特征在于:所述人机交互模块(8)为与微处理器(7)的信号输本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试芯片电源可靠性的装置，所述装置串联在芯片供电回路上，其特征在于：所述装置包括用于连接芯片供电引脚的第一金属连接件(1)、用于连接供电电源的第二金属连接件(2)，以及一端与第一金属连接件(1)电连接，另一端与第二金属连接件(2)电连接的可变电子负载(3)，所述可变电子负载(3)的两端并联有电压传感器(4)，所述第一金属连接件(1)、可变电子负载(3)以及第二金属连接件(2)构成的导电支路上设有电流传感器(5)，所述电压传感器(4)和电流传感器(5)通过信号处理电路(6)与微处理器(7)的信号输入端连接，人机交互模块(8)与所述微处理器(7)进行双向连接，用于输入和显示数据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘婷婷，
申请(专利权)人：国网山东济南市长清区供电公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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