通用测试板制造技术

技术编号:12605426 阅读:116 留言:0更新日期:2015-12-25 23:49
本实用新型专利技术公开了一种通用测试板,包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚;本实用新型专利技术的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试板,具体地说是一种通用测试板,属于测试板领域。
技术介绍
传统的ATE测试过程中,因为DUT (被测器件)的封装类型不同,所以导致在测试时需要定做不同的Loadboard (测试板),从而导致测试成本的增加。
技术实现思路
为了解决上述问题,本技术设计了一种通用测试板,能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。本技术的技术方案为:通用测试板,包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第I列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚。进一步地,所述板体的任意两个针脚上还设有跳线,跳线扣在任意两个针脚上,SP为接通状态,用以完成设备的通电及测试。本技术的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。下面结合附图和实施例对本技术作进一步说明。【附图说明】图1为本技术实施例的结构示意图。【具体实施方式】以下对本技术的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本技术,并不用于限定本技术。实施例1如图1所示,一种通用测试板,包括板体1,所述板体I设有两排测试口 2,连接待测试产品的针脚,所述测试口 2的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第I列为电源列针脚3,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚4,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚5 ;所述板体的任意两个针脚上还设有跳线6,跳线扣在任意两个针脚上,即为接通状态,用以完成设备的通电及测试。【主权项】1.通用测试板,其特征在于:包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第I列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚。2.根据权利要求1所述的通用测试板,其特征在于:所述板体的任意两个针脚上还设有跳线。【专利摘要】本技术公开了一种通用测试板,包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚;本技术的优点在于:能够通过转接板统一做成DIP双列直插封装的形式,再通过跳线来定义器件的电源地线来完成其通用性,大大节约了成本。【IPC分类】G01R1/04【公开号】CN204903575【申请号】CN201520459249【专利技术人】徐子昆 【申请人】北京泰码思测控技术有限公司【公开日】2015年12月23日【申请日】2015年7月1日本文档来自技高网...

【技术保护点】
通用测试板,其特征在于:包括板体,所述板体设有两排测试口,连接待测试产品的针脚,所述测试口的左右两侧设有两排DIP,每排DIP均设有3列;第1列为电源列针脚,所有针脚均与电源连接;第2列为测试通道针脚,与所述测试口对应连接;第3列为地线针脚。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:徐子昆
申请(专利权)人:北京泰码思测控技术有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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