一种X光检测设备信号评价的方法技术

一种X光机信号采样和评价方法，包括：步骤一、设备出厂前，保证设备性能已经达到一个稳定正常的状态，然后，在特定的设备参数下，采样探测器信号，将其保存为标准信号库；步骤二、设备开始使用后，定期采样探测器终端信号，信号采样时，要求设备与建立标准信号库时的设备参数一致；步骤三、将采集的探测器终端信号样本与标准信号库中的标准信号进行对比，评价当前信号值是否在合理范围内。本发明专利技术具有以下优点：在每次开机后自动检查探测器接收到的信号，并且具有科学的量化标准，通过信号的变动及时发现设备问题，解决了由于无法做到定期检查设备造成的设备检测性能变差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种信号评价方法，尤其涉及的是一种X光检测设备信号评价的方 法。
技术介绍
当前X光异物检测设备的一般结构是：射源位于皮带上方，探测器位于皮带下方， 物料由皮带传输，物料经过探测器位置时，探测器记录信号。该信号由专门的处理器进行识 另Ij，从而检测物料中的异物。 但随着X光机的长期使用，射源信号强度会减弱，探测器会老化，传输皮带也会磨 损。如果不注意保养清洁，皮带表面还会有污染物。这都会影响探测器接收到的终端信号。 一旦探测器信号发生容忍度之外的偏差，原有的检测参数就不再适用，必将导致设备的检 测性能变差。 针对这一问题的处理，目前是要求客户定期检查设备，如果发现信号有较大变动， 则须逐一排查射源、探测器或皮带的问题。这样做的缺陷是：一，客户往往做不到定期检查 设备；二，信号的评价只能依赖于感观，没有科学的量化标准。
技术实现思路
本专利技术提供了一种能够自动检查信号并且具有科学的量化标准的X光检测设备 信号评价的方法，解决了由于人工无法做到定期检查设备造成的设备检测性能变差的问 题。 本专利技术是通过以下技术方案解决上述技术问题的：一种X光机信号采样和评价方 法，包括下述步骤： 步骤一、设备出厂前，保证设备性能已经达到一个稳定正常的状态，然后，在特定 的设备参数下，采样探测器信号，将其保存为标准信号库； 步骤二、设备开始使用后，定期采样探测器终端信号，信号采样时，必须要求设备 与建立标准信号库时的设备参数一致； 步骤三、信号评价，将采集的探测器终端信号样本与标准信号库中的标准信号进 行对比，评价当前信号值是否在合理范围内。 作为优化的技术方案，该X光机信号采样和评价方法还包括下述步骤： 步骤四、当信号评价的结果是发生大的波动时，则对用户提出警报。 作为优化的技术方案，所述步骤一的设备出厂建立标准信号库，以及步骤二设备 开始使用后定期采样探测器终端信号中的信号采样包括如下几个步骤： 步骤1 :设备初始化，将设备参数设定到特定值； 步骤2 :多样本采样，即一次采样要抽取覆盖了信号的波动范围的样本； 步骤3 :计算平均值，对采样的多个样本进行均值计算。 作为优化的技术方案，所述特定的设备参数包括射源电压、电流，探测器的曝光时 间和增益。 作为具体的技术方案，当探测器为线阵探测器，所述步骤2至3具体为：每建立一 个标准信号或采集一个样本信号用于信号评价，需要多次采样，采样信号记为： S(i，j) i = 1, 2, 3. . . m j = 1, 2, 3. . . η m为采样总量，η为像元个数，则S (i，j)的含义是：第i次采样时像元j的灰度值， 针对任一某个像元j，它有m个样本值，求取均值，BP : 则对于线阵探测器，一次采样处理后得到的信号为一个一维向量，其尺寸为像元 个数。 作为优化的技术方案，所述步骤三具体包括： 步骤1、计算信号波动向量，具体计算开机使用后的采样信号与标准信号的绝对变 化量absD⑴和相对变化量relD(i); 步骤2、设定评价逻辑，只要满足下面任一条件，则判定信号异常： 1)任意一个absD(i)大于一个较大的阈值absTl ; 2)至少有p个absD(i)大于一个较小的阈值absT2, p值可设； 3)任意一个relD(i)大于一个较大的阈值relTl ; 4)至少有q个relD(i)大于一个较小的阈值relT2, q值可设； 步骤3、得出评价结论。 作为优化的技术方案，在建立标准信号时，建立多个标准参考信号，当标准信号不 止一个，则设一个个数k或比例阈值s，即与至少k个标准信号相比都是正常的，则认为当前 信号正常，或者比对正常的标准信号个数占总标准信号个数的比例要大于s，则认为信号正 常。 作为具体的技术方案，以线阵探测器为例，采样后，其信号值记为： P(i)，i = 1，2, 3. · · η η为探测器的像元个数，标准信号记为：R(i)，i = 1，2, 3. . . η 则计算两个特征向量： 绝对变化量：absD(i) = |P(i)_R(i) I，i = 1，2, 3. · · m 相对变化量： 作为优化的技术方案，所述步骤3能够根据信号波动的不同特性，向用户提出引 起波动的原因。 作为优化的技术方案，如果信号波动具有整体性，即整体波动幅值在一个相近的 水平，则射源发生了较严重的老化，或者是探测器包括其后端采集电路或皮带的原因； 如果信号波动只在局部范围内，以传感器模块为单位，且往往界限分明，则是某一 块传感器或者包含其后端采集电路有异常，若发生极个别分散的像素信号的较大波动，这 同样指示是探测器的问题； 若信号波动发生在随机的位置，具有零散的特征，没有明显的界限，则是皮带损耗 过大，或者上面有较多的物料或污染物滞留，须给予皮带的更换或清洗维护。 本专利技术相比现有技术具有以下优点：能够在每次开机后自动检查探测器接收到的 信号，并且具有科学的量化标准，通过信号的变动及时的发现设备问题，解决了由于无法做 到定期检查设备造成的设备检测性能变差的问题。【附图说明】 图1是本专利技术实施例所提供的一种X光检测设备信号评价的方法的流程图。 图2是本专利技术实施例所提供的信号采样的流程图。 图3是本专利技术实施例所提供的X光检测设备信号评价的方法的一种评价逻辑示 例。 图4是本专利技术实施例所提供的X光检测设备信号线示意例。 图5是本专利技术实施例所提供的另一种X光检测设备信号线示意例。【具体实施方式】 下面对本专利技术的实施例作详细说明，本实施例在以本专利技术技术方案为前提下进行 实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本专利技术的保护范围不限于下述的实施 例。 本专利技术提出一种X光机信号采样和评价方法，帮助用户自动评估整机信号的波动 性。该方法：在相同的设备参数下，定期（或者每次开机时）自动采样探测器信号，存储到 信号库。采用一定的准则，定期将当前信号与设备出厂信号进行比对，从而对其进行评估。 若信号波动大于该设备的容忍度，则向用户发出警报。 请参阅图1所示，本专利技术X光机信号采样和评价方法包括如下步骤： 步骤一、设备出厂前，建立标准信号库： 信号波动与否，要与一个标准值进行比较，正确的标准值，结合科学的信号评价方 法，才能确保信号评价结果的合理性，因此，建立标准信号非常重要。 设备出厂前，要保证设备性能已经达到一个稳定正常的状态，然后，在特定的设备 参数（包括射源电压、电流，探测器的曝光时间和增益）下，采样探测器信号，将其保存为标 准信号库； 步骤二、设备开始使用后，定期采样探测器终端信号： 设备开始使用后，要定期对探测器终端信号进行采样或者每次开机就采样，都是 自动进行，这样避免人工采样会忘记的不确定性，信号采样时，必须要求设备在与建立标准 信号库时的设备参数一致，即相同的射源电压、电流，探测器的曝光时间和增益，这些都影 响信号值，随着设备的不断使用，即使在相同的参数下，信号也会有变化，但只要变化在一 定程度内，即不影响检测效果，就是可以忍受的； 步骤三、信号评价： 将采集的探测器终端信号样本与标准信号库中的标准信号进行对比，评价当前信 号值是否在合理范围内。该评价依赖于一套科学有效的评价准则，对信号做出合理的评判， 是本信号评价方法的关键，在本评价方法里，既要计算样本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种X光机信号采样和评价方法，其特征在于：包括下述步骤：步骤一、设备出厂前，保证设备性能已经达到一个稳定正常的状态，然后，在特定的设备参数下，采样探测器信号，将其保存为标准信号库；步骤二、设备开始使用后，定期采样探测器终端信号，信号采样时，必须要求设备与建立标准信号库时的设备参数一致；步骤三、信号评价，将采集的探测器终端信号样本与标准信号库中的标准信号进行对比，评价当前信号值是否在合理范围内。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：汪庆花，疏义桂，方雷，
申请(专利权)人：合肥美亚光电技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34