【技术实现步骤摘要】
本技术涉及钢带加工用检测装置，具体为一种引线框架用铜带翘曲度测量装置。
技术介绍
引线框架是一种用来作为集成电路芯片的金属结构载体，引线框架是借助于键合材料(金丝、铝丝、铜丝)实现芯片内部电路引出端与外引线的电气连接，形成电气电路的关键结构件。特别是作为连接内外电路的引线脚更为关键，不允许其出现肉眼可见的形状变化。因此，作为引线框架基材的铜带，其形状变化必须控制在一定范围内才符合要求。表征引线框架用铜带形状变化的有侧弯度、波浪度、翘曲度等一系列技术指标。引线框架用铜带加工生产中，带材在乳制以及卷曲机收卷过程中不可避免的出现翘曲。作为引线框架材料的技术指标之一，一般采用基板悬挂法或平台四角法测量翘曲。基板悬挂法为:取一米长的铜带，用夹具夹持试样窄边一端，将试样悬挂起来贴住竖直的基板，存在翘曲的试样则偏离基板。用直尺测量带弯到基板的最大距离，则为该铜带的翘曲值。平台四角法为:将铜带平放在检测平台上，存在翘曲的试样4角则会向上翘，然后用锥形尺测量翘曲值。以上两测量方法由于材料自身重力的原因，铜带会不同程度的向测量基板或测量台发生回复，致使测量值与真实值存在较大偏差。
技术实现思路
本技术为了解决现有铜带翘曲度测量存在测量精度较差的问题，提供了一种引线框架用铜带翘曲度测量装置。本技术是采用如下技术方案实现的:引线框架用铜带翘曲度测量装置，包括水平工作台，水平工作台上设置有水平基板，水平基板的左端通过夹料夹连接有钢带本体，钢带本体的右端通过夹料夹连接有浮力块，钢带本体的右侧后方设置有接触式弹力计，接触式弹力计的正前方设置有连接在水平基板上的螺旋测微仪，水平...
【技术保护点】
一种引线框架用铜带翘曲度测量装置，其特征在于：包括水平工作台（1），水平工作台（1）上设置有水平基板（2），水平基板（2）的左端通过夹料夹（3）连接有钢带本体（4），钢带本体（4）的右端通过夹料夹（3）连接有浮力块（5），钢带本体（4）的右侧后方设置有接触式弹力计（6），接触式弹力计（6）的正前方设置有连接在水平基板（2）上的螺旋测微仪（7），水平工作台（1）上设置有浮力块（5）位于其内的水槽（8）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王钰菁，郭建琴，朱国强，姚永梅，祁淑丽，李云翔，
申请(专利权)人：山西春雷铜材有限责任公司，
类型：新型
国别省市：山西;14
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