使用基于卷积/反卷积的评估的轮胎均匀性改良制造技术

本发明专利技术提供用于使用基于卷积/反卷积的轮胎均匀性参数评估来改良轮胎均匀性的系统和方法。举例来说，卷积可用于由一个或多个均匀性参数测量值，包括径向偏心参数测量值评估径向力变化。反卷积可用于由一个或多个均匀性参数测量值，包括径向力变化参数测量值评估径向偏心。可使用一个或多个模型由均匀性参数测量值评估所评估的均匀性参数。一个或多个模型可表示在离散测量点处评估的径向均匀性参数，其呈离散测量点和一个或多个所选择的靠近离散测量点的测量点处所测量的径向均匀性参数的加权和形式。可基于轮胎的接触面长度选择测量点。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术大体上涉及用于改良轮胎均匀性的系统和方法，并且更具体地说，用于基 于使用基于卷积/反卷积的均匀性参数评估来改良轮胎均匀性的系统和方法。
技术介绍
在轮胎的特定可计量特征中，轮胎非均匀性与关于轮胎的旋转轴的对称性（或缺 乏对称性）有关。不幸的是，常规轮胎成型方法具有许多产生在轮胎中的非均匀性的机会。 在轮胎的旋转期间，存在于轮胎结构中的非均匀性在车轮轴线处产生周期性变化的力。当 这些力变化作为明显的振动传送到车辆以及车辆乘员时，轮胎非均匀性是非常重要的。这 些力通过车辆的悬架传送并且可以在车辆的座位和方向盘上感觉到，或者作为噪声在乘客 室中传送。传送到车辆乘员的振动的量已经被分类为轮胎的"乘坐舒适"或"舒适"。 轮胎均匀性参数或属性一般被分类为尺寸或几何变化（径向偏心（RRO)和横向偏 心（LRO))、质量变化，以及滚动力变化（径向力变化、横向力变化以及切向力变化，有时也 称为纵向或前后力变化）。一旦确认了轮胎均匀性参数，校正程序就可以通过进行对制造过 程的调整而能够产生均匀性中的一些。可以执行另外的校正程序以处理经硫化轮胎的非均 匀性，所述另外的校正程序包括（但不限于）向经硫化轮胎添加材料和/或去除经硫化轮 胎的材料，和/或使经硫化轮胎变形。 轮胎的力变化参数，如径向力变化，不仅可归因于轮胎的几何变化（例如径向偏 心），也可归因于轮胎硬度的变化。在某些情形中，需要确定所测量的力变化参数中可归因 于轮胎中几何变化的部分和所测量的力变化参数中可归因于轮胎硬度的部分。此外，仅可 获得轮胎的某些轮胎均匀性参数测量值。举例来说，可获得轮胎的径向偏心测量值，但不可 获得径向力变化测量值。 因此，需要基于径向偏心的测量值评估轮胎的径向力变化的系统和方法，且反之 亦然。可提供用于评估轮胎硬度的系统和方法将尤其适用。
技术实现思路
本专利技术的方面和优点将部分在以下描述中进行阐述，或可以从所述描述中显而易 见，或可以通过实践本专利技术来习得。 本专利技术的一个示例性方面涉及用于改良轮胎的均匀性的方法。所述方法包括获得 关于轮胎的多个测量点的所测量的径向均匀性参数（例如所测量的径向偏心或所测量的 径向力变化）。所述方法进一步包括用轮胎的径向力变化建立与轮胎的径向偏心相关联的 模型和使用所述模型，用计算装置确定轮胎的至少一个离散测量点的所评估的径向均匀性 参数（例如所评估的径向偏心或所评估的径向力）。可至少部分地基于靠近轮胎上离散测 量点的一个或多个测量点（例如沿中心轨迹或沿多个轨迹）的所测量的径向均匀性参数来 确定至少一个离散测量点的所评估的径向均匀性参数。在特定实施方案中，可基于轮胎的 接触面长度鉴别靠近离散测量点的一个或多个测量点。 本专利技术的另一个示例性方面涉及用于评估轮胎的均匀性参数的系统。所述系统包 括经配置以获取关于轮胎的多个测量点的所测量的径向均匀性参数的测量机器。所述系统 进一步包括耦合到测量机器的计算装置。计算装置可经配置以用轮胎的径向力变化建立与 轮胎的径向偏心相关联的模型和使用所述模型确定轮胎的至少一个离散测量点的所评估 的径向均匀性参数。至少部分地基于靠近轮胎上离散测量点的一个或多个测量点的所测量 的径向均匀性参数来确定至少一个离散测量点的所评估的均匀性参数。 本专利技术的另一个示例性方面涉及用轮胎的所评估的径向均匀性参数产生与轮胎 的所测量的径向均匀性参数相关联的模型的方法。所述方法包括获得一组测试轮胎中的一 个或多个测试轮胎的所测量的径向偏心数据和获得所述测试轮胎组中的一个或多个测试 轮胎的所测量的径向力变化数据。所述方法进一步包括将轮胎的至少一个离散测量点的所 评估的径向均匀性参数模型化为靠近测量点的一个或多个测量点处所测量的径向均匀性 参数的加权和。所述方法进一步包括用计算装置基于所测量的径向偏心数据和所测量的径 向力变化数据评估加权和的一个或多个系数。 参考以下描述以及所附权利要求书，本专利技术的这些以及其它特征、方面以及优点 将得到更好的理解。并入在本说明书中并且构成本说明书的一部分的【附图说明】了本专利技术的 实施例，并且与所述描述一起用以阐释本专利技术的原理。【附图说明】 本专利技术的针对所属领域的一般技术人员的完整且能够实现的揭示内容（包括其 最佳模式）在说明书中得到阐述，所述揭示内容参考附图，在所述附图中： 图1和2提供径向偏心通过轮胎的接触面的作用转换成径向力变化的简化图形表 示； 图3描绘根据本专利技术的示例性实施例的用于产生与轮胎的径向偏心和径向力变 化相关联的模型的示例性方法的流程图； 图4描绘靠近沿轮胎的中心轨迹的离散测量点的多个测量点的图示； 图5描绘靠近沿轮胎的多个轨迹的离散测量点的多个测量点的图示； 图6描绘根据本专利技术的示例性实施例的改良轮胎均匀性的示例性方法的流程图， 所述方法是以使用所测量的径向偏心确定的轮胎的基于卷积的所评估的径向力变化为基 础； 图7描绘根据本专利技术的示例性实施例的改良轮胎均匀性的示例性方法的流程图， 所述方式是以使用所测量的径向力变化确定的基于反卷积的所评估的径向偏心为基础； 图8描绘根据本专利技术的示例性实施例的示例性系统的框图。【具体实施方式】 所属领域的一般技术人员应了解，本论述仅是对示例性实施例的描述，且并不意 欲限制本专利技术的更广泛的方面。每个实例作为本专利技术的说明而非本专利技术的限制而提供。实 际上，所属领域的技术人员将显而易见，在不脱离本专利技术的范围或精神的情况下可以在本 专利技术中进行各种修改和改变。举例来说，说明或描述为一个实施例的一部分的特征可以与 另一实施例一起使用以产生另一个实施例。因此，希望本专利技术涵盖这类修改以及改变，所述 修改以及改变处于所附权利要求书以及其等效物的范围内。 通常，本专利技术涉及使用轮胎的均匀性参数的评估来改良轮胎均匀性的系统和方 法。具体来说，可由所测量的第二类型的轮胎径向均匀性参数评估第一类型的轮胎径向均 匀性参数。第二类型的径向均匀性参数可以是与第一类型的径向均匀性参数不同类型的径 向均匀性参数。以这一方式，在例如特定均匀性参数尚未测量或以另外的方式不可获得的 情形中，可获得所评估的径向均匀性参数。 如本文中所使用，轮胎的径向均匀性参数是与轮胎的径向相关联的均匀性参数， 如轮胎的径向偏心参数或径向力变化参数。径向偏心是与轮胎径向的圆度偏心或几何非均 匀性有关的均匀性参数。径向力变化（RFV)是与轮胎接触表面上径向反应力的变化有关的 均匀性参数。出于说明和讨论的目的，将参考低速均匀性参数（例如小于600转/分钟的 转速下的径向偏心和径向力变化）讨论本专利技术。使用本文中提供的披露内容，所属领域的 一般技术人员将理解本专利技术的各方面可类似地适用于其它均匀性参数。 轮胎的径向偏心可通过接触面作用转换成径向力变化。基于这一原理，本专利技术的 各方面涉及轮胎的径向偏心与轮胎的径向力变化之间的转换。举例来说，卷积可用于由一 个或多个均匀性参数测量值，包括径向偏心参数测量值评估径向力变化。反卷积可用于由 一个或多个均匀性参数测量值，包括径向力变化参数测量值评估径向偏心。 在一个实施方案中，可使用一个或多个模型由所测量的径向均匀性参数评估所评 估的径向均匀性参数。一个或多个模型可表示在离散测量点处评估的径向均匀性参数，其 呈离散测量点和一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于改良轮胎均匀性的方法，其包含：获得所述轮胎周围的多个测量点的所测量的径向均匀性参数；建立使所述轮胎的径向偏心与所述轮胎的径向力变化相关联的模型；和使用所述模型，用计算装置确定所述轮胎的至少一个离散测量点的所评估的径向均匀性参数；其中至少部分地基于靠近所述轮胎上所述离散测量点的一个或多个测量点的所述所测量的径向均匀性参数来确定所述至少一个离散测量点的所述所评估的均匀性参数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：W·D·玛弗布伊，J·M·特雷勒，
申请(专利权)人：米其林集团总公司，米其林研究和技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR