光缆普查仪制造技术

本发明专利技术提供了光缆普查仪，属于通信技术领域。它解决了现有技术不能方便的检测目标光纤的端面质量的问题。本光缆普查仪包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，激光发生单元发射光信号通过第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。本光缆普查仪能够方便的检测出目标光纤的端面质量，检测距离远，操作方便，简单易用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于通信
，涉及光缆普查仪。
技术介绍
随着通信网络的不断发展，光缆已经成为通信网络的基础传输方式。越来越多的光缆布设在架空、管道、人井等线路环境中，如何管理这些基础网络资源成为一个亟需解决的问题。除此之外，由于城市建设的急剧变化，机房搬迀、线路改造、光缆抢修等情况不断涌现，如何快速有效地迀改、抢修成为线路维护人员迫切需要解决的问题。常用的解决上述问题的方法有:从已知的地方开始逐一拽拉，用OTDR加上弯曲光缆的方式，用OTDR加上速冻液的方式，射频探测的方式，光纤识别仪查找，红光源查找等方式，尽管这些方法效果也还算比较明显，但是也存在较大的缺陷。首先，从已知的地方逐一拽拉，需要花费很多时间查找，捆绑处无法分离，精度有限；其次，用OTDR加上弯曲光缆的方式，会对光缆造成一定程度上的损坏；第三，用OTDR加上速冻液的方式，操作难度大，存在一定的潜在毒害；第四，射频探测方式，如果部分直埋光缆去除加强芯，则无法探测；第五，光纤识别仪方式，需要开剥光缆，对线路传输具有一定影响，如果不开剥光缆，则只能查找两端的尾纤；最后，如果使用红光源，则无法探测路由，测试距离较短。光缆普查仪是专门针对光通信系统中光缆线路施工及维护而设计的只能仪表，是为光缆施工、验收及运维技术人员量身定做的新型仪表。使用光缆普查仪时，使用人员只需要轻轻敲击光缆，即可轻松找出目标光纤所在，仪表内置喜用可将敲击信息转化为音频和视频信号，换言之，我们可以听到或者看到目标光纤所在。光缆普查仪可完全取代以往切害J、弯折、冷冻等方法，是一种全新的不损伤光缆的技术，其强大的应用功能，可大大减少光缆传输网络工程的时间和管理成本，极大的提高工作效率。
技术实现思路
本专利技术针对现有的技术存在上述问题，提出了光缆普查仪，其能方便的检测目标光纤的端面质量。本专利技术通过下列技术方案来实现:光缆普查仪，其特征在于，包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，所述激光发生单元发射光信号通过所述第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。在上述的光缆普查仪中，所述第一耦合器与所述控制器之间设置有参考臂，第一耦合器与压电陶瓷之间设有传感臂。在上述的光缆普查仪中，所述控制器单元包括用于控制参考臂中光信号的偏振态并将该光信号与预设的信号光进行匹配偏振控制单元和用于提升动态范围的多档位测量单元。动态范围是光缆普查仪的一个重要参数，越大的动态范围测量距离越远，因ADC精度、运放噪声等限制，单档位无法达到比较大的动态范围。在上述的光缆普查仪中，所述多档位测量单元包括模拟选择器/分配器及其外围电路。通过使用模拟开关与若干电阻实现了高精度的多档位信号放大。在上述的光缆普查仪中，所述显示模块为示波器。送入示波器，则可以用电信号演示干涉光的强弱以及变化。在上述的光缆普查仪中，所述显示模块为PC。送入PC，就可以直接观察两束光的干涉动态过程。与现有技术相比，本专利技术具有以下优点:1、具有超长动态测量范围，适合不同距离测试，最长可达90Km ;2、将目标光纤/光缆的机械干扰转换为音频信号和图形显示。3、可轻松找到含目标光纤的光缆。4、无需繁琐设置，操作方便，简单易用。【附图说明】图1是本专利技术的原理示意图。图2是本专利技术的多档位测量单元的电路原理图。【具体实施方式】以下是本专利技术的具体实施例，并结合附图对本专利技术的技术方案作进一步的描述，但本专利技术并不限于这些实施例。如图1所示，本光缆普查仪包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，激光发生单元发射光信号通过第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。第一耦合器与控制器之间设置有参考臂，第一耦合器与压电陶瓷之间设有传感臂。需要说明的是，显示模块为示波器或者PC。将多个光纤环绕在柱状压电陶瓷上用来抵消因温度的变化而产生的相位波动，获得相位正交偏置条件。光纤偏振控制单元用来控制参考臂中传播的参考光的偏振态，使参考光和信号光的偏振态相互匹配。第一耦合器起分波器作用，第二耦合器起和波器作用且使参考臂信号与传感臂信号产生干涉。电探测器用于检测从第二耦合器出来的干涉光。最终，从光电探测器出来的干涉光，可以送入PC或者示波器。如果送入示波器，则可以用电信号演示干涉光的强弱以及变化，这也是与传统的Mach-Zehnder干涉仪的不同之处，可以形象地演示两束光的干涉过程；如果送入PC，就可以直接观察两束光的干涉动态过程。控制器单元包括用于控制参考臂中光信号的偏振态并将该光信号与预设的信号光进行匹配偏振控制单元和用于提升动态范围的多档位测量单元。动态范围是光缆普查仪的一个重要参数，越大的动态范围测量距离越远，因ADC精度、运放噪声等限制，单档位无法达到比较大的动态范围。动态范围是光缆普查仪的一个重要参数，越大的动态范围测量距离越远。因ADC精度、运放噪声等限制，单档位无法达到比较大的动态范围。因此本申请采用多档位测量设计，如图2所示，多档位测量单元包括模拟选择器/分配器及其外围电路。通过使用模拟开关与若干电阻实现了高精度的多档位信号放大。本文中所描述的具体实施例仅仅是对本专利技术精神作举例说明。本专利技术所属
的技术人员可以对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，但并不会偏离本专利技术的精神或者超越所附权利要求书所定义的范围。【主权项】1.光缆普查仪，其特征在于，包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，所述激光发生单元发射光信号通过所述第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。2.根据权利要求1所述的光缆普查仪，其特征在于，所述第一耦合器与所述控制器之间设置有参考臂，第一耦合器与压电陶瓷之间设有传感臂。3.根据权利要求2所述的光缆普查仪，其特征在于，所述控制器单元包括用于控制参考臂中光信号的偏振态并将该光信号与预设的信号光进行匹配偏振控制单元和用于提升动态范围的多档位测量单元。4.根据权利要求3所述的光缆普查仪，其特征在于，所述多档位测量单元包括模拟选择器/分配器及其外围电路。5.根据权利要求1-4任意一项所述的光缆普查仪，其特征在于，所述显示模块为示波器。6.根据权利要求1-4任意一项所述的光缆普查仪，其特征在于，所述显示模块为PC。【专利摘要】本专利技术提供了光缆普查仪，属于通信
它解决了现有技术不能方便的检测目标光纤的端面质量的问题。本光缆普查仪包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，激光发生单元发射光信号通过第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。本光缆普查仪能够方便的检测出目标光纤的端面质量，检测距离远，操作方便，简单易用。【IPC分类】H04B10/07【公开号】CN105141356【申请号】CN20151021766本文档来自技高网...

【技术保护点】
光缆普查仪，其特征在于，包括激光发生单元、控制器单元、压电陶瓷、第一耦合器、第二耦合器、光电探测器和显示模块，所述激光发生单元发射光信号通过所述第一耦合器拆分为两路光信号分别经控制器单元和压电陶瓷进入第二耦合器进行干涉，第二耦合器输出的干涉光经光探测器输送给显示模块。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：夏震宇，杨明，
申请(专利权)人：浙江天创信测通信科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33