本实用新型专利技术涉及晶体谐振器类，具体是一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于：包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端，可以自由伸缩。本实用新型专利技术测试头安装时可以清楚确认探针与晶体谐振器脚位的对位情况，便于调整对位精度，对位完成后，先将测试座本体固定在测试设备上，再将与探针接触的集成电极板固定在测试座本身上。本实用新型专利技术提高了接触对位精度，提升了频率测试精度，保证了测试效率及良品率。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶体谐振器类，具体是一种小型晶体谐振器用测试头，尤其涉及一种针对频率微调机内的超小型晶体谐振器用测试头。
技术介绍
石英晶体谐振器是各类通讯电子数码产品中配套关键元件之一，近年来随着智能通讯及各种数字化技术的发展，这类数码产品对与之配套的石英晶体谐振器小型化要求也越来越高，石英晶体谐振器外形也越来越小，为了提高石英晶体谐振器的频率精度，在生产的过程中需要边测试边进行频率调整，至到达到目标频率，频率的测试是通过测试头探针接触石英晶体谐振器基座上的引线脚，但是由于石英晶体谐振器外形越来越小，基座上的引线脚可测试接触面积也越来越小，测试头探针与基座引线脚对位也越来越困难，接触精度差不仅引起频率测试不准确，也使生产过程中测试效率及良品率很低。现有技术中，晶体谐振器测试头都是通过用2-4根探针直接穿过集成电路板及测试座本体，接触对位过程是通过大致目测多次校正的方式进行，不仅效率低，而且接触对位精度不高，直接影响了频率测试精度，生产良率也难以提高。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有晶体谐振器测试头的技术缺陷，提供一种小型晶体谐振器用测试头，以提高接触对位精度，提升频率测试精度，保证测试效率及良品率。本技术采用以下技术方案:一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端，可以自由伸缩。本技术上下固定板均有两组各四个探针孔，八个探针穿过上下固定板探针孔，可以同时测试二颗晶体谐振器。本技术测试头本体上端开有两个沉孔螺孔，用于固定与探针联接的集成线路板；测试头本体开有两个锁紧孔，探针与晶体谐振器脚位对准后，通过螺栓固定在测试设备上。本技术测试头本体左右两端打有通孔，用于安装一对滑动轴承。测试头工作时，下固定板通过一对卡簧固定在滑动轴承上，在重力的作用下垂直向外延伸。本技术测试头通过采用透明上下固定板，中空的测试头本体，可自由伸缩的下固定板，安装时可以方清楚确认探针与晶体谐振器脚位的对位情况，便于调整对位精度，对位完成后，先将测试座本体固定在测试设备上，再将与探针接触的集成电极板固定在测试座本身上。本技术提高了接触对位精度，提升了频率测试精度，保证了测试效率及良品率。【附图说明】图1本技术结构示意图。图2为上固定板结构示意图。图3为下固定板结构示意图。图4为滑动轴承结构示意图。图5为测试探针结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术的【具体实施方式】进行详细阐述:如图1-5所示，一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体1，以及测试头本体上固定板2和下固定板3。测试头本体I中间是中空的，上固定板2和下固定板3都是透明有机玻璃材质。上固定板2和下固定板3上按基座引线脚与探针4的接触位置开有两组各四个探针孔，工作时安装八根探针4，可以同时测试两颗晶体谐振器产品，上固定板2通过测试头本体I上的一对定位梢6固定于测试头本体I上，下固定板3通过测试头本体I上的一对滑动轴承7固定于测试头的下端，可以自由伸缩。安装时探针4下端固定在下固定板探针孔9内，上端固定于上固定板探针孔10内。测试头本体I开有两个锁紧孔5，探针与晶体谐振器脚位对准后，通过测试头本体I上的一对螺栓穿过锁紧孔5固定在测试设备上。本技术测试头本体I左右两端打有通孔，用于安装一对滑动轴承7。测试头工作时，下固定板3通过一对卡簧11固定在滑动轴承7上，在重力的作用下垂直向外延伸。本技术测试头本体I上端开有两个沉孔螺孔8-A和8-B，用于固定与探针4联接的集成线路板。本技术测试头上下固定板为全透明泰氟隆材质。本技术晶体谐振器测试座采用中空的测试座本体1，上下透明材质的探针固定板，联接在上固定板上的集成线路板及测试板二次进行安装，保证了第一次安装测试座时探针与小型化晶体谐振器引脚的对位精度，同时，下固定板3因固定在测试座本体的一对滑动轴承7上，在重力的作用下垂直向下自然延伸，测试时由于产品叠放导致探针伸缩行程不足时，下固定板3可以向上滑动一段行程，避免了测试探针折断的情况。本技术特别适用于频率微调机内的超小型化晶体谐振器用测试头。【主权项】1.一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端。2.根据权利要求1所述的一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:上下固定板均有两组各四个探针孔，八个探针穿过上下固定板探针孔。3.根据权利要求1或2所述的一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:测试头本体左右两端打有通孔，用于安装所述的滑动轴承，下固定板通过一对卡簧固定在滑动轴承上。4.根据权利要求1或2所述的一种石英晶体谐振器用测试头，其特征在于:测试头本体开有两个锁紧孔，探针与晶体谐振器脚位对准后，通过螺栓固定在测试设备上。5.根据权利要求1或2所述的一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:测试头本体上端开有两个沉孔螺孔，用于固定与探针联接的集成线路板。6.根据权利要求1或2所述的一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于:上下固定板为全透明泰氟隆材质。【专利摘要】本技术涉及晶体谐振器类，具体是一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于：包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端，可以自由伸缩。本技术测试头安装时可以清楚确认探针与晶体谐振器脚位的对位情况，便于调整对位精度，对位完成后，先将测试座本体固定在测试设备上，再将与探针接触的集成电极板固定在测试座本身上。本技术提高了接触对位精度，提升了频率测试精度，保证了测试效率及良品率。【IPC分类】G01R31/00【公开号】CN204789797【申请号】CN201520442885【专利技术人】辜批林, 王明才, 廖其飞, 吴宗泽, 池旭明, 王臻 【申请人】浙江东晶电子股份有限公司【公开日】2015年11月18日【申请日】2015年6月25日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于：包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：辜批林，王明才，廖其飞，吴宗泽，池旭明，王臻，
申请(专利权)人：浙江东晶电子股份有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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