【技术实现步骤摘要】
本技术属于试验设备
，具体涉及到一种X射线粉末衍射仪块状试样样品台。
技术介绍
X射线粉末衍射仪目前已经成为研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的必要检测分析仪器。常用于对样品进行物相分析、精密测定点阵参数、晶粒(嵌镶块)大小和微观应力的测定以及结构分析。在实际检测过程中，X射线粉末衍射仪用于块状固体样品需要通常需要配备价格昂贵的多功能样品台，对于较小的块状固体样品使用多功能样品台颇有大材小用之嫌，会造成资源的极大浪费。
技术实现思路
针对目前X射线粉末衍射仪用于块状固体样品测试所存在的问题，本技术的目的在于提供一种X射线粉末衍射仪块状固体样品台。本技术的目的是通过下述技术方案来实现的。—种X射线粉末衍射仪块状试样样品台，包括环形台，及沿环形台一侧延伸的夹持部，环形台为镂空结构，沿所述环形台的周壁上径向等间距设有若干个透孔，透孔为便于旋进紧固螺丝的紧固螺口。进一步地，所述紧固螺丝上设有防滑纹。进一步地，样品台和紧固螺丝由轻质金属材质制成，所述轻质金属材质包括铝材、钛镁合金或铝合金。与现有技术比较，本技术的优点在于:该样品台操作方便、造价低廉，采用其用于X射线粉末衍射仪的块状固体样品测试可以避免因使用多动能样品台所造成的资源浪费。【附图说明】图1为本技术的块状试样样品台的俯视图；图2为本技术的块状试样样品台的A-A剖面图；图3为本技术的紧固螺丝主视图。图中:1、环形台；2、夹持部；3、紧固螺口 ；4、防滑纹；5、紧固螺丝。【具体实施方式】现结合附图和实施例对本技术的技术方案进行进一步说明，但是本技术不仅限于下列实施方式。如图1、图2所示，该X射线...
【技术保护点】
一种X射线粉末衍射仪块状试样样品台，其特征在于：包括环形台，及沿环形台一侧延伸的夹持部，环形台为镂空结构，沿所述环形台的周壁上径向等间距设有若干个透孔，透孔为便于旋进紧固螺丝的紧固螺口。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘璇，周春生，张国春，崔孝炜，王之宇，郭家林，杨娇，南宁，
申请(专利权)人：商洛学院，
类型：新型
国别省市：陕西;61
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