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用于测定介质的介电特性的传感器和方法技术

技术编号:12279935 阅读:117 留言:0更新日期:2015-11-05 15:32
建议用于测定介质(205)的介电特性的传感器(300)。所述传感器(300)具有带有至少一个贯通接触部(203、204)的衬底(301、302)和关于衬底(301)的上表面平面地被布置的波导管(12)。所述波导管(12)能够通过至少一个贯通接触部(203、204)与分析设备(20)连接。另外,所述波导管(12)被设立用于,从分析设备(20)接收输入信号并且向分析设备(20)输出输出信号,其中输入信号和输出信号的特性在波导管(12)与介质(205)接触时指示介质(205)的介电特性。通过关于所述衬底(301)平面地布置波导管(12),能够实现更大的测量范围和改善的测量精度。另外,通过所述平面的结构实现紧凑的结构方式。此外建议用于借助于传感器测定介质的介电特性的方法以及传感器装置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及。此外本专利技术涉及具有这样的传感器的传感器装置以及分析设备。
技术介绍
在不同的
上可能需要确定介质的一个或多个介电特性。这样的确定可以例如借助微波实现,其中可以使用不同的方法,如例如透射测量、反射测量或者谐振测量。在透射测量中,介电特性基于信号通过介质或者导体的通行(透射)被测定。在反射测量中,介电特性基于信号在介质处或者借助于介质的反射被测定。所述谐振测量基于介质的谐振特性(也即振动特性)的测定,所述谐振特性重又可以被使用用于测定介电特性。这些测量的结果可以被考虑用于测定介质的介电特性,尤其复介电常数。这些特性可以说明介质的不同的其他特性。例如在介质中葡萄糖、酒精或者盐的浓度属于此。所述介电常数的确定可能在不同的领域中是期望的,如在医学中或者还在工业设备中、例如在过程测量仪表设施的范围内。在此情况下值得期望的是,已经可以确定小的浓度变化,对此高的测量精度是需要的。
技术实现思路
因此本专利技术的任务是,在测量精度方面改善介质的介电特性的测定。因此,建议用于测定介质的介电特性的传感器。所述传感器具有带有至少一个贯通接触部的衬底和关于衬底的上表面平面地被布置的波导管。所述波导管能够通过至少一个贯通接触部与分析设备连接。此外,所述波导管被设立用于,从分析设备接收输入信号并且向分析设备输出输出信号,其中输入信号和输出信号的特性在波导管与介质接触时指示介质的介电特性。利用所建议的传感器,透射测量和反射测量可以被执行。通过所述传感器的平面的结构,介质的介电特性的测量精度的改善被实现。此外可以实现紧凑的测量单元,由此所述传感器能够在大
中被使用。因为所述传感器可以具有小的尺寸,所以所述传感器还可以移动地被使用。所述传感器可以例如在医学领域中作为移动设备被使用,所述移动设备也可以直接地对人执行测量,其中所述介质可以对应于皮肤。因此可以取消取样。此外,所述传感器可以在不同的工业设备中作为固定地安装的设备或者作为移动的设备被使用。在此情况下,同样地可以使所述传感器直接与所述介质接触,由此可以取消取样。在所描述的传感器中,波导管关于衬底平面地被布置。印刷电路板可以例如被作为衬底使用。所述衬底可以由介电材料组成或者具有所述介电材料。所述波导管可以是任何类型的波导管,其可以关于所述衬底的上表面平面地被布置。“关于所述衬底的上表面平面地”就此而论可以意味着在所述衬底的上表面上平面地或者与所述衬底的上表面平面地。优选地是平面的波导管。通过所述平面的布置可以实现紧凑的传感器单元。“平面的(Planar)”可以被理解为波导管的布置,其中传感器装置的上表面是平的或者平坦的。所述波导管能够通过贯通接触部与分析设备连接。贯通接触部就此而论表示孔,所述孔从衬底的上表面穿过所述衬底延伸到衬底的相反侧。所述分析设备可以是任意的设备,其适合于向波导管发送输入信号,从所述波导管接收输出信号并且基于这两个信号的特性测定介质的介电特性。所述测定可以例如基于输入信号和输出信号的相位和/或振幅的比较实现,因为所述输入信号和输出信号的相位和/或振幅与材料有关地、即与介质有关地改变。通过波导管发送的信号在波导管周围产生散射场。该(电磁)散射场穿过所述介质。在此,例如输入信号和输出信号的相位和/或振幅改变。这些改变可以被使用用于测定介质的(一个或多个)介电特性。所述输入信号由分析设备产生。只要要执行的测量是透射测量,那么所述输入信号在波导管的一个末端处被馈入到波导管中,并且在波导管的另一末端处作为输出信号又被分析设备接收。在反射测量的情况下,输入信号在一个末端处被馈入到波导管中。在另一末端处,该另一末端在该情况下是开放的、也即未电连接的,信号从波导管进入介质中并且至少部分地被所述介质反射,并且被反馈到波导管中。该被反馈的信号重新被分析设备作为输出信号接收。所述分析设备可以例如是网络分析器。这样的网络分析器可以是矢量网络分析器(VNA)0该分析器可以被使用用于测量电测量对象的散射参数。散射参数表示测量对象的反射特性和透射特性。与这里描述的传感器关联地,概念“测量对象”涉及介质。所述介质可以采用固态、液态或者气态的状态。在此此外可以是液体或者气体。通过这里描述的传感器,因此提供成本低的用于测定介质的介电特性的设备。该设备提供在大的测量范围上的介电特性的测定。所述传感器可以在不取样的情况下被使用,并且因此在操纵上比传统的传感器更简单。在一种实施方式中,所述波导管在衬底的上表面上平面地被布置。根据该实施方式,所述波导管是平面的波导管,其被布置在衬底的上表面上。就此而论平面地意味着所述波导管是平坦的并且与衬底共同地构成平的面。在另一实施方式中,所述波导管是带状线。带状线可以是微带状线、共面线或者开槽线(Schlitzleitung)。其他类型的带状线或者其他平面的波导管也是可能的。这些类型的波导管提供以下优点,即所述波导管可以在例如传统的印刷电路板的衬底上平面地被布置。带状线通常由一个或多个薄的、能传导的条带组成,所述条带被施加在电介质(例如衬底)上。在另一实施方式中,所述衬底具有至少两个贯通接触部,并且所述波导管通过至少两个贯通接触部能够与分析设备的输入端子和输出端子连接。以这种方式,所述波导管可以利用其两个末端与所述分析设备连接。在该情况下,所述分析设备可以是双端口分析设备。所述布置被使用用于透射测量,其中输入信号通过分析设备被馈入到波导管的一个末端中,并且输出信号在波导管的另一末端处被接收。一旦所述波导管与要检查的介质接触,也即“被加负载”,输出信号的特性相比于输入信号改变。例如所谓的散射参数(S参数)可以被测定。该S参数作为频率的函数被测量并且说明反射和透射的值。从所述S参数中可以借助于合适的方法测定介质的介电特性、例如介电常数。在另一实施方式中,波导管的一个末端与衬底平面地布置。在该实施方式中,所述波导管被这样布置,使得仅波导管的一个末端布置在衬底的上表面处,并且所述波导管穿过贯通接触部伸展。波导管在衬底的上表面处的末端与衬底平面地布置。在另一实施方式中,所述波导管被构造为开放式导体。开放式导体、也即仅利用一个末端耦合到分析设备上而另一末端无电连接的导体如上所述被使用用于反射测量。被馈入到波导管中的信号在开放的末端处从所述波导管出来。通过所述要检查的介质,所述信号至少部分地又被反馈到波导管中。根据该反馈,S参数同样可以被测定。所述网络分析器可以在该情况下被构造为单端口。在另一实施方式中,所述衬底具有介电材料。所述衬底可以是印刷电路板,其由介电材料组成。在另一实施方式中,保护层被布置在衬底的上表面上方。这样的保护层可以用于防止污染或者还防止湿气通过所述介质。所述保护层可以例如是薄膜。作为用于保护层的材料,例如聚对二甲苯C或者硅树脂可以被使用。这些材料可以在高的温度范围上被使用。其他材料同样可以被使用。优选地,所述材料应当不影响波导管的高频特性。所述保护层可以是非常薄的、例如几微米厚、例如在5至10微米范围内,这同样有助于不影响波导管的高频特性。 在另一实施方式中,所述衬底具有下衬底层和上衬底层。两个衬底层可以由同一材料制成。所述分析设备可以被集成在下衬底层中。在另一实施方式中,接地层被布置在上衬底层和下衬底层之间。所述接本文档来自技高网
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【技术保护点】
用于测定介质(205)的介电特性的传感器(10),具有:衬底(11),所述衬底具有至少一个贯通接触部(13),和波导管(12),所述波导管关于衬底(11)的上表面平面地被布置,其中所述波导管(12)能够通过至少一个贯通接触部(13)与分析设备(20)连接,其中所述波导管(12)被设立用于,从分析设备(20)接收输入信号,并且向分析设备(20)输出输出信号,其中输入信号和输出信号的特性在波导管(12)与介质(205)接触时指示介质(205)的介电特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:A萨纳蒂DJ米勒F波普拉瓦
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:德国;DE

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