磁检测型编码器用磁屏蔽罩和磁检测型编码器制造技术

本发明专利技术提供磁检测型编码器用磁屏蔽罩和磁检测型编码器，磁检测型编码器用磁屏蔽罩包括软磁性部和非磁性部，软磁性部以覆盖磁检测元件和磁铁的方式形成，并且具有开口部，该开口部用于避免所述软磁性部的一部分妨碍来自所述磁铁的磁场通过所述磁检测元件，所述非磁性部设置在所述软磁性部的所述开口部上。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】磁检测型编码器用磁屏蔽罩和磁检测型编码器相关申请的交叉参考本申请要求于2014年3月4日向日本特许厅提交的日本专利申请2014-042044号的优先权，其全部内容以引用的方式并入本文。
本专利技术涉及磁检测型编码器用的磁屏蔽罩和具有该磁屏蔽罩的磁检测型编码器。
技术介绍
由于磁检测型编码器利用磁性而动作，所以如果受到外部磁场的影响，则有可能误动作。为了屏蔽外部磁场，磁检测型编码器的编码器室被磁屏蔽罩覆盖。磁屏蔽罩通常由铁材料等软磁性体形成。例如，日本公开公报特开平7-35572号中公开了与该磁屏蔽罩相关的技术。上述文献中记载的磁编码器具有:罩，覆盖信号处理电路、磁检测器和磁鼓；以及支架，固定连接上述罩。支架和罩由软磁性体形成。按照日本公开公报特开平7-35572号的磁编码器，由于支架和罩由软磁性体形成，所以能够屏蔽从外部作用的泄漏磁通。为了屏蔽外部磁性的影响，以往由铁材料等软磁性体构成的磁屏蔽罩几乎没有间隙且均匀地围绕编码器室。这是编码器的整体重量增加的主要原因。此外，当磁屏蔽罩接近磁检测元件时，用于使磁检测元件动作的磁通进入到磁屏蔽罩内。这种情况对磁检测元件的磁检测特性产生影响。为了抑制上述情况，需要充分确保磁检测元件和磁屏蔽罩的距离。因此，在以往的结构中，磁检测型编码器的小型化是有限的。
技术实现思路
本专利技术的一个目的在于提供不容易对用于使磁检测元件动作的磁场产生影响且能够屏蔽外部磁场的磁检测型编码器用磁屏蔽罩和具有该磁屏蔽罩的磁检测型编码器。此外，本专利技术的目的还在于提供轻量的磁检测型编码器用磁屏蔽罩和具有该磁屏蔽罩的磁检测型编码器。本专利技术的磁检测型编码器用磁屏蔽罩(本磁屏蔽罩)包括软磁性部和非磁性部，软磁性部以覆盖磁检测元件和磁铁的方式形成，并且具有开口部，所述开口部用于避免所述软磁性部的一部分妨碍来自所述磁铁的磁场通过所述磁检测元件，所述非磁性部设置在所述软磁性部的所述开口部上。本磁屏蔽罩具有磁通容易通过的软磁性部和磁通难以通过的非磁性部。上述软磁性部例如可以配置在不容易对磁检测元件的动作磁场产生影响的部位上。上述非磁性部可以配置在形成用于使磁检测元件动作的磁场的范围内。磁检测元件和形成用于使该磁检测元件动作的磁场的磁铁，例如以在没有磁屏蔽罩的状态下能够得到适当的动作磁场的方式配置。当上述软磁性部接近磁检测元件配置时，所述磁铁形成的用于使该磁检测元件动作的磁通(通过所述磁检测元件的磁通)有可能进入软磁性部。由此，有可能对磁检测元件的动作产生影响。因此，在本磁屏蔽罩中，所述软磁性部具有开口部，该开口部用于避免所述软磁性部的一部分妨碍来自所述磁铁的磁场通过所述磁检测元件。此外，所述非磁性部设置在所述软磁性部的所述开口部上。因此，在本磁屏蔽罩中，所述非磁性部配置在所述磁铁形成的用于使该磁检测元件动作的磁场(通过磁检测元件的磁场)容易进入的范围内。在上述结构中，不像现有技术那样由软磁性体完全包围编码器室。因此，有可能导致对来自外部的磁场的磁屏蔽性能局部下降。但是，本专利技术的专利技术者们通过实验得出:通过例如与内部的磁检测元件的特性配合来适当地配置软磁性部和非磁性部，与由软磁性体均匀地包围编码器室的结构的以往的磁屏蔽罩相比，能够使本磁屏蔽罩具有进一步良好地对来自外部的磁场进行屏蔽的性能。本磁屏蔽罩具有软磁性部和非磁性部。软磁性部例如可以配置在不容易对磁检测元件的动作磁场产生影响的部位上。非磁性部可以配置在形成用于使磁检测元件动作的磁场的范围内。因此，本磁屏蔽罩即便使该磁屏蔽罩和磁检测元件之间的距离变小，也不容易对用于使磁检测元件进行原本的动作的磁场产生影响。并且，本磁屏蔽罩可以屏蔽外部磁场。此外，相对于软磁性体，可以使非磁性部为轻量构件。在这种情况下，与由软磁性体完全包围编码器室的结构相比，可以使本磁屏蔽罩轻量化。【附图说明】图1是第一实施方式的磁检测型编码器的纵断面图。图2是第一实施方式的磁检测型编码器的横断面图。图3是第一实施方式的磁屏蔽罩的外观结构的立体图。图4是用于说明本来的磁通流动的图。图5是以往的磁屏蔽罩的外观结构的立体图。图6是用于说明以往的磁屏蔽罩中的磁通流动的图。图7是用于说明磁检测元件的动作磁场的变化的图。图8是用于说明第一实施方式的磁屏蔽罩的外部磁场屏蔽状况的图。图9是第二实施方式的磁屏蔽罩的一个例子的立体图。图10是第二实施方式的磁屏蔽罩的另一个例子的立体图。【具体实施方式】在下面的详细说明中，出于说明的目的，为了提供对所公开的实施方式的彻底的理解，提出了许多具体的细节。然而，显然可以在没有这些具体细节的前提下实施一个或更多的实施方式。在其它的情况下，为了简化制图，示意性地示出了公知的结构和装置。下面，参照附图，对第一、第二实施方式的磁检测型编码器用磁屏蔽罩和具有该磁屏蔽罩的磁检测型编码器进行说明。第一、第二实施方式的磁检测型编码器用磁屏蔽罩具有软磁性部和非磁性部。软磁性部以覆盖磁检测元件和磁铁的方式形成，并且具有开口部，该开口部用于避免所述软磁性部的一部分妨碍来自所述磁铁的磁场通过所述磁检测元件，所述非磁性部设置在所述软磁性部的所述开口部上。软磁性部可以配置在用于使磁检测元件动作的磁通不容易进入的部位、即不容易对磁检测元件的动作磁场产生影响的部位。非磁性部可以配置在形成有用于使磁检测元件动作的磁场的范围内。因此，即使磁检测元件和磁屏蔽罩的距离较小，本实施方式的磁检测型编码器用磁屏蔽罩也不容易对用于使磁检测元件进行原本的动作的磁场产生影响。并且，本实施方式的磁检测型编码器用磁屏蔽罩能够屏蔽外部磁场。〔第一实施方式〕首先，参照图1至图3，对第一实施方式的磁检测型编码器和磁屏蔽罩的结构进行说明。图1是第一实施方式的磁检测型编码器的纵断面图。图2是第一实施方式的磁检测型编码器的横断面图。图3是第一实施方式的磁屏蔽罩的外观结构的立体图。第一实施方式的磁屏蔽罩用于磁检测型的编码器。如图1所示，磁检测型编码器100包括磁鼓1、磁检测元件3和电路基板4。磁鼓(检测用磁铁)I具有磁铁，该磁铁形成用于使磁检测元件3 (后述)动作的磁场。磁鼓I例如由强磁性体的圆盘形成。强磁性体通过等间隔地被磁化为N、S磁极来形成磁铁11。在强磁性体的圆盘的背面中心部设置有转动轴2。利用设置在未图示的支架上的轴承，将转动轴2支承成转动自如。磁检测元件3用于进行磁检测。磁检测元件3例如检测磁鼓I被磁化的磁极的位置，并将其转换为电信号。在本实施方式中，磁检测元件3例如设置成与磁鼓当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种磁检测型编码器用磁屏蔽罩，其特征在于，包括软磁性部和非磁性部，所述软磁性部以覆盖磁检测元件和磁铁的方式形成，所述软磁性部具有开口部，所述开口部用于避免所述软磁性部的一部分妨碍来自所述磁铁的磁场通过所述磁检测元件，所述非磁性部设置在所述软磁性部的所述开口部上。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：牧内一浩，庄司祐大，
申请(专利权)人：山洋电气株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP