检测电路、方法和像素电路技术

本发明专利技术公开了一种检测电路、方法和像素电路。该检测电路包括第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。本发明专利技术中既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，特别涉及一种检测电路、方法和像素电路。
技术介绍
随着显示技术的发展，有机发光二极管(Organic Light-Emitting D1de，OLED)显示装置的应用越来越广泛。OLED显示装置可包括多个像素和用于驱动像素的像素驱动电路，其中，每个像素均包括0LED，像素驱动电路可包薄膜晶体管(Thin Film Transistor，简称:TFT)和电容。在OLED显示装置中，由于每个像素对应的TFT的阈值电压Vth、迀移率、寄生电容和沟道宽度/长度等特定因素是不同的，因此OLED显示装置在显示时会产生亮度不均匀的问题。为解决上述问题，可采用数据补偿的方法对该OLED显示装置进行数据补偿，例如:通过外部补偿电路对OLED显示装置中的TFT进行数据补偿。在对TFT进行数据补偿之前，需要对OLED显示装置中的TFT的特性参数进行检测。但是，现有技术中仅存在能够对TFT的工艺参数进行检测的电路，还没有一种既能够对TFT的特性参数进行检测又能够对OLED的特性参数进行检测的电路。
技术实现思路
本专利技术提供一种检测电路、方法和像素电路，用于实现既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。为实现上述目的，本专利技术提供了一种检测电路，包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接。可选地，所述第一检测模块包括:第一开关管、第二开关管、第三开关管和存储电容，所述驱动模块包括驱动管；所述第一开关管的控制极连接至第一控制线，所述第一开关管的第一极连接至数据线和负载模块，所述第一开关管的第二极连接至第三开关管的第二极和存储电容的第一端；所述第二开关管的控制极连接至第二控制线，所述第二开关管的第一极连接至基准电源，所述第二开关管的第二极连接至驱动管的控制极和存储电容的第二端；所述第三开关管的控制极连接至第三控制线，所述第三开关管的第一极连接至第一电源，所述第三开关管的第二极连接至驱动管的第一极和存储电容的第一端；所述驱动管的控制极连接至存储电容的第二端，所述驱动管的第二极连接至发光器件的第一电极。可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极。可选地，所述发光器件的第二电极连接至第二电源。可选地，所述负载模块包括负载电容。可选地，所述驱动模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率；所述负载模块的特性参数包括阈值电压或者电子迀移率。为实现上述目的，本专利技术提供了一种像素电路，包括上述检测电路和像素补偿电路；所述像素补偿电路用于根据所述驱动模块的特性参数对所述驱动模块进行补偿以及根据所述发光器件的特性参数对发光器件进行补偿。为实现上述目的，本专利技术提供了一种检测方法，所述方法基于检测电路，所述检测电路包括:第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接；所述方法包括:在预充电阶段，数据线向负载模块提供预充电电压；在第一检测阶段，负载模块通过第一检测模块和驱动模块进行放电，以检测出驱动模块的特性参数；在第二检测阶段，负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电，以检测出发光器件的特性参数。可选地，所述第二检测模块包括第四开关管，所述第四开关管的控制极连接至第四控制线，所述第四开关管的第一极连接至数据线和负载模块的第一端，所述第四开关管的第二极连接至发光器件的第一电极；所述负载模块通过第二检测模块和发光器件进行放电包括:所述第四开关管开启，负载模块通过第四开关管和发光器件进行放电。可选地，所述负载模块包括负载电容。可选地，所述驱动模块包括驱动管。本专利技术具有以下有益效果:本专利技术提供的检测电路、方法和像素电路的技术方案中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，从而使得本专利技术既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。【附图说明】图1为本专利技术实施例一提供的一种检测电路的结构示意图；图2为本专利技术实施例二提供的一种检测电路的结构示意图；图3为实施例二中检测电路处于预充电阶段的等效电路图；图4为实施例二中检测电路处于第一检测阶段的等效电路图；图5为实施例二中检测电路处于第二检测阶段的等效电路图。【具体实施方式】为使本领域的技术人员更好地理解本专利技术的技术方案，下面结合附图对本专利技术提供的检测电路、方法和像素电路进行详细描述。图1为本专利技术实施例一提供的一种检测电路的结构示意图，如图1所示，该检测电路包括该检测电路包括:第一检测模块11、第二检测模块12、负载模块13、发光器件14和驱动模块15，第一检测模块11和驱动模块15以及负载模块13连接，第二检测模块12和发光器件14以及负载模块13连接。在预充电阶段，数据线DL向负载模块13提供预充电电压；在第一检测阶段，负载模块13通过第一检测模块11和驱动模块15进行放电，以检测出驱动模块15的特性参数；在第二检测阶段，负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以检测出发光器件14的特性参数。本实施例中，驱动模块15的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第一检测模块11、驱动模块15和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出驱动模块15的特性参数。本实施例中，负载模块13的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出发光器件14的特性参数。本实施例提供的检测电路中，第一检测模块和驱动模块以及负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及负载模块连接，驱动模块和发光器件连接，从而使得本实施例既可以检测驱动模块的特性参数又可以检测发光器件的特性参数。本实施例中采用数据线作为检测线，将数据线和检测线的功能合并，无需再单独设置检测线，从而降低了电路复杂度和制造成本。图2为本专利技术实施例二提供的一种检测电路的结构示意图，如图2所示，该检测电路包括:第一检测模块11、第二检测模块12、负载模块13、发光器件14和驱动模块15，第一检测模块11和驱动模块15以及负载模块13连接，第二检测模块12和发光器件14以及负载模块13连接。在预充电阶段，数据线DL向负载模块13提供预充电电压；在第一检测阶段，负载模块13通过第一检测模块11和驱动模块15进行放电，以检测出驱动模块15的特性参数；在第二检测阶段，负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以检测出发光器件14的特性参数。进一步地，驱动模块15还和发光器件14连接。本实施例中，驱动模块15的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则驱动模块15通过第一检测模块11、驱动模块15和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出驱动模块15的特性参数。本实施例中，负载模块13的特性参数可包括阈值电压或者电子迀移率等。则负载模块13通过第二检测模块12和发光器件14进行放电，以供外部检测电路检测出发光器件14的特性参数。本本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测电路，其特征在于，包括：第一检测模块、第二检测模块、负载模块、发光器件和驱动模块，第一检测模块和驱动模块以及所述负载模块连接，第二检测模块和发光器件以及所述负载模块连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李永谦，王龙彦，盖翠丽，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11