一种显示面板的检测电路及其使用方法技术

本发明专利技术提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，所述检测电路包括：第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线，当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开。本发明专利技术解决了现有技术不能检测显示面板异常的技术问题，提高了显示效果。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板的检测电路及其使用方法
本专利技术涉及显示器领域，特别是涉及一种显示面板的检测电路及使用方法。
技术介绍
现有的显示面板包括多个像素单元，每个像素单元包括主像素部和子像素部，为了解决大视角色偏的问题，通常将主像素部的亮度设置成大于子像素部的亮度，从而提高显示效果。现有的检测电路1，如图1所示，其包括第一扫描检测线11和第二扫描检测线12、公共检测线13，像素单元101-105，每行像素单元对应设置有公共电极线14、主扫描线15和次扫描线16，其中奇数行的像素单元101、103、105的主扫描线连接第一扫描检测线11，偶数行的像素单元102或者104的主扫描线连接第二扫描检测线12，且第k+2m行像素单元的次扫描线连接第k行像素单元的主扫描线(k≥0，m≥1)。现有的检测电路，只能检测主像素部和子像素部能否发亮。但是，如果在制程中分享电容与子像素部的像素电极之间存在着ITO(透明导电层)残留，会造成子像素部的像素电极和分享电容之间出现短路，从而使得子像素部的亮度不能被拉低。当子像素部的像素电极充电时，分享电容也充电，使得两者电位相同，当子像素部的像素电极充完电时，由于分享电容的上极板与子像素部的像素电极电位相同，使得子像素部不能向分享电容分享一部分电荷，导致子像素部的电位无法被拉低，此时子像素部的亮度出现异常，即显示面板出现异常。因此有必要对显示面板的异常进行检测；而使用现有的检测电路并不能检测显示面板的异常。故，有必要提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，以解决现有技术所存在的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种显示面板的检测电路及其使用方法，以解决现有技术的检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，以提高显示效果。为解决上述问题，本专利技术提供的技术方案如下：本专利技术实施例提供一种显示面板的检测电路，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应设置有主扫描线、次扫描线、公共电极线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线，用于控制所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；所述检测电路包括：第一扫描检测线和第二扫描检测线，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；公共检测线，连接每行所述像素单元的公共电极线，用于向每行所述像素单元提供公共信号；其中所述第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开，其中所述第一时间段大于所述第二时间段，k≥0，m≥1。在本专利技术的显示面板的检测电路中，所述第k+2m行像素单元的公共电极线上设置有薄膜晶体管；根据所述第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制所述薄膜晶体管的断开和闭合。在本专利技术的显示面板的检测电路中，所述薄膜晶体管的栅极连接所述第k+2m行像素单元的公共电极线；所述薄膜晶体管的源极连接所述第k行像素单元的主扫描线；所述薄膜晶体管的漏极连接所述第k+2m行像素单元的次扫描线。在本专利技术的显示面板的检测电路中，所述检测电路包括亮度检测装置，所述亮度检测装置用于将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成检测结果。在本专利技术的显示面板的检测电路中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。本专利技术还提供一种上述检测电路的使用方法，其包括：向所述第一扫描检测线输入第一高电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一低电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k+1行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k+1行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k+1行像素单元的所述子像素部不进行充电；检测所述第2k+1行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。在本专利技术的显示面板的检测电路的使用方法中，所述方法还包括：向所述第一扫描检测线输入第一低电平电压，向所述第二扫描检测线输入第一高电平电压，以及在所述第一时间段内向所述公共检测线输入第二高电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部进行充电，且在所述第一时间段内，所述第2k行像素单元的所述主像素部和所述子像素部的电荷并未饱和；在所述第二时间段内，向所述公共检测线输入第二低电平电压，以对所述第2k行像素单元的所述主像素部继续充电，对所述第2k行像素单元的所述子像素部不进行充电；检测所述第2k行像素单元的所述子像素部的亮度是否异常，生成检测结果。在本专利技术的显示面板的检测电路的使用方法中，将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成所述检测结果。在本专利技术的显示面板的检测电路的使用方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度大于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度异常。在本专利技术的显示面板的检测电路的使用方法中，当所述检测结果为所述子像素部的亮度小于或等于所述预设亮度阈值时，所述子像素部的亮度正常。本专利技术的显示面板的检测电路及其使用方法，通过薄膜晶体管控制其中一行像素单元的次扫描线和另一行像素单元的主扫描线的连接状态，解决了现有检测电路不能检测显示面板异常的技术问题，从而提高显示效果。为让本专利技术的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：附图说明图1为现有技术的检测电路的结构示意图；图2为本专利技术的液晶显示面板的结构示意图。具体实施方式以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本专利技术可用以实施的特定实施例。本专利技术所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本专利技术，而非用以限制本专利技术。在图中，结构相似的单元是以相同标号表示。请参照图2，图2为本专利技术的液晶显示面板的结构示意图。所述液晶显示面板包括阵列基板、彩膜基板以及设置在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶层，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元201-205，每行所述像素单元对应设置有公共电极线24、主扫描线25、次扫描线26；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线24控制所述主像素部和所述子像素部进行充电：当所述主扫描线24输入信号为高电平时，向所述主像素部和所述子像素部进行充电，当所述主扫描线24输入信号为低电平时，不向所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应设置有主扫描线、次扫描线、公共电极线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线，用于控制所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；所述检测电路包括：第一扫描检测线和第二扫描检测线，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；公共检测线，连接每行所述像素单元的公共电极线，用于向每行所述像素单元提供公共信号；其中所述第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开，其中所述第一时间段大于所述第二时间段，k≥0，m≥1。...

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板包括阵列基板，所述阵列基板包括：数据线、扫描线、以及由所述数据线和所述扫描线限定的多个像素单元，所述多个像素单元组成多行像素单元，所述像素单元对应设置有主扫描线、次扫描线、公共电极线；其中每个所述像素单元包括主像素部和子像素部；所述主扫描线，用于控制所述主像素部和所述子像素部进行充电，使所述主像素部和所述子像素部转换为第一显示状态；所述次扫描线，用于控制所述子像素部进行电荷分配，使所述子像素部转换为第二显示状态；所述检测电路包括：第一扫描检测线和第二扫描检测线，分别用于向所述像素单元提供扫描信号；公共检测线，连接每行所述像素单元的公共电极线，用于向每行所述像素单元提供公共信号；其中所述第一扫描检测线连接第2k+1行像素单元的主扫描线，所述第二扫描检测线连接第2k行像素单元的主扫描线，根据第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线的连接状态；当所述子像素部转换为第一显示状态的第一时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线连接至第k行像素单元的主扫描线；当所述子像素部转换为第一显示状态的第二时间段内，使得第k+2m行像素单元的次扫描线与第k行像素单元的主扫描线断开，其中所述第一时间段大于所述第二时间段，k≥0，m≥1。2.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述第k+2m行像素单元的公共电极线上设置有薄膜晶体管；根据所述第k+2m行像素单元的公共电极线的公共信号控制所述薄膜晶体管的断开和闭合。3.根据权利要求2所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述薄膜晶体管的栅极连接所述第k+2m行像素单元的公共电极线；所述薄膜晶体管的源极连接所述第k行像素单元的主扫描线；所述薄膜晶体管的漏极连接所述第k+2m行像素单元的次扫描线。4.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述检测电路包括亮度检测装置，所述亮度检测装置用于将所述子像素部的亮度与预设亮度阈值比较，生成检测结果。5.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑娜，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44