一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构制造技术

技术编号:11917442 阅读:141 留言:0更新日期:2015-08-20 21:39
本实用新型专利技术公开了一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构,通过设计多级一体式串联结构将全箭电连接器串联起来进行通路检查,将监测结果送地面测控系统;通过设计分级串联结构对每一级多个连接器的连接状态进行通路检查并将结果分别送至箭上各级监测器,并通过无线方式传输至地面。每一种监测结构为独立运行方式,两种监测结构可互为冗余,提高了连接状态监测的可靠性,设计实现性强,具有较高的工程使用价值。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构,本技术属于运载火箭控制

技术介绍
多级运载火箭通常采用分布式智能化控制方案以实现箭上供配电与时序控制功能,级间信号流量相对较大,信号通路多,对全箭分离电连接器的可靠性提出了较高要求。同时,飞行状态中力学、热学、电磁学环境较为恶劣,如在飞行试验过程中,级间分离电连接器因受力热等应力影响未能可靠连接或分离失败,将导致级间信号断路或短接,产生严重后果。为在连接与分离异常情况下对系统提供更多的故障分析信息,不论在地面测试还是飞行中都需要对级间分插(分插为电连接器的通用称法)的连接状态进行实时监测。
技术实现思路
本技术的技术解决问题是:克服现有技术的不足,提供一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构,本技术通过设计多级一体式串联结构将全箭电连接器串联起来进行通路检查,每一级监测结构为独立运行,两种监测结构可互为冗余,提高了连接状态监测的可靠性,设计实现性强,具有较高的工程使用价值。本技术的技术解决方案是:一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构包括:M个第一级插排1-1T、1-2P..1-MT, M个第二级插排2-1Τ、2-2Τ...2-ΜΤ…M个第N级插排Ν_1Τ、Ν-2Τ…N-MT ;Μ个第一级插座 1-1Ζ、1-2Ζ...1-ΜΖ、Μ 个第二级插座 2-1Ζ、2-2Ζ...2-Μ Z…M 个第 N 级插座 Ν_1Ζ、Ν_2Ζ…N-M Z ;M 个第一级插座 1-1Ζ、1-2Ζ...1-Μ Ζ、Μ 个第二级插座 2-1Ζ、2_2Ζ...2_Μ Z…M 个第 N级插座Ν-1Ζ、Ν-2Ζ…N-M Z的插座上均有若干个插孔;Μ个第一级插排1_1Τ、1_2Τ...1_ΜΤ、Μ个第二级插排2-1Τ、2-2Τ...2-ΜΤ…M个第N级插排Ν_1Τ、Ν-2Τ…N-MT上均有若干个插针;第一级插排1-1T的第一插针的一端连接地面测控系统,另一端连接到第一级插座1-1Z的第一个插孔上;第一级插座1-1Z的第二个插孔连接第二级插排2-1Τ的第一插针的一端;第二级插排2-1Τ的第一插针的另一端连接第二级插座2-1Ζ的第一个插孔上;第二级插座2-1Ζ的第二个插孔连接第三级插排3-1Τ的第一插针的一端,顺序连接,依次保证插针1-1T到N-1T与插座1-1Z到N-1Z相连,直到第N级插排N-1T的的第一插针另一端连接第N级插座N-1Z的第一个插孔上;第N级插座N-1Z的第一个插孔上与第N级插座N-1Z的第二个插孔通过导线连接;第N级插座N-1Z的第三个插孔与第N-1级插排(N-1)-1T的第二插针的一端相连;第N-1级插排(N-1)-1T的第二插针的另一端与Ν-2级的插座(Ν-2)-1Ζ的第三个插孔相连,顺序连接,依次保证第二插排N-1T到1-1T与插座N-1Z到1-1Z相连,直到第一级插排1-1T的第二插针的一端连接第二级插座2-1Ζ的第三个插孔上;第一级插排1-1T的第二插针的另一端针通过导线与第一级插排1-2T的第一插针的一端相连;插排1-2T、2-2T、3-2T…N-2T与插座1-2Ζ、2_2Ζ、3_2Ζ…Ν-2Ζ的顺序连接方式、插排1-3Τ、2-3Τ、3-3Τ…Ν-3Τ与插座1-3Ζ、2_3Ζ、3_3Ζ…Ν-3Ζ的顺序连接方式…插排1-MT、2-ΜΤ、3-ΜΤ…N-MT 与插座 1-MZ、2-MZ、3-MZ…N-MZ 的顺序连接方式与 1_1T、2-1T、3_1T…N-1T与1-1Z、2-1Z、3-1Z…N-1Z的顺序连接方式相同;第一级插座1-1Z、第二级插座2-1Z、第三级插座3-1Z…第N级插座N-1Z中的第四插孔与相应级别的监测器相连;第一级插座1-1Z、第二级插座2-1Z、第三级插座3-1Z…第N级插座N-1Z中的第五插孔与第一级插座1-2Z、第二级插座2-2Z、第三级插座3-2Z…第N级插座N-2Z中的第四插孔相连;第一级插座1-2Z、第二级插座2-2Z、第三级插座3-2Z…第N级插座N-2Z中的第五插孔与第一级插座1-3Z、第二级插座2-3Z、第三级插座3-3Z…第N级插座N-3Z中的第四插孔相连,依次相互串联,直到第一级插座1-(N-1)Z、第二级插座2-(Ν-1)Ζ、第三级插座3-(Ν-1)Ζ...第N级插座N-(N-1)Z中的第五插孔与第一级插座1-NZ、第二级插座2-NZ、第三级插座3-NZ…第N级插座N-NZ中的第四插孔相连;第一级插座1-NZ、第二级插座2-NZ、第三级插座3-NZ…第N级插座N-NZ中的第五插孔与相应级别的监测器相连;第N 级插座 N-1Z、N-2Z…N-M Z 的第七插孔与 N-1 级插排(N-l)-lT, (N_1)-2T...(N-1)-MT的第三插针的一端相连,插排(N-1)-1T、(N-1)-2T...(N-1)-MT的第三插针的另一端相连通过导线与插排(N-l)-lT、(N-1)-2T...(N-1)-MT的第四插针的一端相连;插排(N-1) -1T、(N-1) -2T...(N-1) -MT的第四插针的另一端,与第N级插座N_1Z、N_2Z…N-M Z的第八插孔相连;其余各级插座的第七和第八插孔和插排的第三和第四插针的连接方式与第N级插座 N-1Z、N-2Z…N-M Z 与 N-1 级插排(N_1)_1T、(N_1)_2T...(N-1)-MT 的连接方式一样。本技术与现有技术相比的有益效果是:(I)本技术通过设计全箭串联结构与分级串联结构,实现了对全箭电连接器连接状态监测的冗余设计,在最大程度上提高了可靠性,为运载火箭研制的顺利进行提出了有效改进,具有较大的经济效益和社会效益;该方法具有简单实用、可实现性强的特点,可在后续运载火箭的研制任务中广泛应用(2)本技术通过设计多级一体式串联结构将全箭电连接器串联起来进行通路检查,每一级监测结构为独立运行,两种监测结构可互为冗余,提高了连接状态监测的可靠性,设计实现性强,具有较高的工程使用价值。【附图说明】图1为本技术技术结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术的【具体实施方式】进行进一步的详细描述。本技术通过设计多级一体式串联结构将全箭电连接器串联起来进行通路检查,将监测结果送地面测控系统;通过设计分级串联结构对每一级多连接器的连接状态进行通路检查并将结果分别送至箭上各级监测器。多级一体式串联结构测试方法与分级串联结构测试方法独立工作,两者对连接状态的监测可互为冗余,提高了测试可靠性。如图1所示,本技术本技术的技术解决方案是:一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构包括:M个第一级插排1-1T、1-2P..1-MT,M个第二级插排2-1Τ、2-2Τ...2-ΜΤ…M个第N级插排Ν_1Τ、Ν-2Τ…N-MT ;Μ个第一级插座 1-1Ζ、1-2Ζ...1-ΜΖ、Μ 个第二级插座 2-1Ζ、2-2Ζ...2-Μ Z…M 个第 N 级插座 Ν_1Ζ、Ν_2Ζ…N-M Z ;M 个第一级插座 1-1Ζ、1-2Ζ...1-Μ Ζ、Μ 个第二级插座 2-1Ζ、2_2Ζ...2_Μ Z…M 个第 N级插座Ν-1Ζ、Ν-2Ζ…N-M Z的插座上均有若干个插孔;Μ个第一级插排1_1Τ、1_2Τ...1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种全箭分离电连接器接插可靠性监测结构,其特征在于包括:M个第一级插排1‑1T、1‑2T…1‑MT、M个第二级插排2‑1T、2‑2T…2‑MT…M个第N级插排N‑1T、N‑2T…N‑MT;M个第一级插座1‑1Z、1‑2Z…1‑MZ、M个第二级插座2‑1Z、2‑2Z…2‑M Z…M个第N级插座N‑1Z、N‑2Z…N‑M Z;M个第一级插座1‑1Z、1‑2Z…1‑M Z、M个第二级插座2‑1Z、2‑2Z…2‑MZ…M个第N级插座N‑1Z、N‑2Z…N‑M Z的插座上均有若干个插孔;M个第一级插排1‑1T、1‑2T…1‑MT、M个第二级插排2‑1T、2‑2T…2‑MT…M个第N级插排N‑1T、N‑2T…N‑MT上均有若干个插针;第一级插排1‑1T的第一插针的一端连接地面测控系统,另一端连接到第一级插座1‑1Z的第一个插孔上;第一级插座1‑1Z的第二个插孔连接第二级插排2‑1T的第一插针的一端;第二级插排2‑1T的第一插针的另一端连接第二级插座2‑1Z的第一个插孔上;第二级插座2‑1Z的第二个插孔连接第三级插排3‑1T的第一插针的一端,顺序连接,依次保证插针1‑1T到N‑1T与插座1‑1Z到N‑1Z相连,直到第N级插排N‑1T的的第一插针另一端连接第N级插座N‑1Z的第一个插孔上;第N级插座N‑1Z的第一个插孔上与第N级插座N‑1Z的第二个插孔通过导线连接;第N级插座N‑1Z的第三个插孔与第N‑1级插排(N‑1)‑1T的第二插针的一端相连;第N‑1级插排(N‑1)‑1T的第二插针的另一端与N‑2级的插座(N‑2)‑1Z的第三个插孔相连,顺序连接,依次保证第二插排N‑1T到1‑1T与插座N‑1Z到1‑1Z相连,直到第一级插排1‑1T的第二插针的一端连接第二级插座2‑1Z的第三个插孔上;第一级插排1‑1T的第二插针的另一端针通过导线与第一级插排1‑2T的第一插针的一端相连;插排1‑2T、2‑2T、3‑2T…N‑2T与插座1‑2Z、2‑2Z、3‑2Z…N‑2Z的顺序连接方式、插排1‑3T、2‑3T、3‑3T…N‑3T与插座1‑3Z、2‑3Z、3‑3Z…N‑3Z的顺序连接方式…插排1‑MT、2‑MT、3‑MT…N‑MT与插座1‑MZ、2‑MZ、3‑MZ…N‑MZ的顺序连接方式与1‑1T、2‑1T、3‑1T…N‑1T与1‑1Z、2‑1Z、3‑1Z…N‑1Z的顺序连接方式相同;第一级插座1‑1Z、第二级插座2‑1Z、第三级插座3‑1Z…第N级插座N‑1Z中的第四插孔与相应级别的监测器相连;第一级插座1‑1Z、第二级插座2‑1Z、第三级插座3‑1Z…第N级插座N‑1Z中的第五插孔与第一级插座1‑2Z、第二级插座2‑2Z、第三级插座3‑2Z…第N级插座N‑2Z中的第四插孔相连;第一级插座1‑2Z、第二级插座2‑2Z、第三级插座3‑2Z…第N级插座N‑2Z中的第五插孔与第一级插座1‑3Z、第二级插座2‑3Z、第三级插座3‑3Z…第N级插座N‑3Z中的第四插孔相连,依次相互串联,直到第一级插座1‑(N‑1)Z、第二级插座2‑(N‑1)Z、第三级插座3‑(N‑1)Z…第N级插座N‑(N‑1)Z中的第五插孔与第一级插座1‑NZ、第二级插座2‑NZ、第三级插座3‑NZ…第N级插座N‑NZ中的第四插孔相连;第一级插座1‑NZ、第二级插座2‑NZ、第三级插座3‑NZ…第N级插座N‑NZ中的第五插孔与相应级别的监测器相连;第N级插座N‑1Z、N‑2Z…N‑M Z的第七插孔与N‑1级插排(N‑1)‑1T、(N‑1)‑2T…(N‑1)‑MT的第三插针的一端相连,插排(N‑1)‑1T、(N‑1)‑2T…(N‑1)‑MT的第三插针的另一端相连通过导线与插排(N‑1)‑1T、(N‑1)‑2T…(N‑1)‑MT的第四插针的一端相连;插排(N‑1)‑1T、(N‑1)‑2T…(N‑1)‑MT的第四插针的另一端,与第N级插座N‑1Z、N‑2Z…N‑M Z的第八插孔相连;其余各级插座的第七和第八插孔和插排的第三和第四插针的连接方式与第N级插座N‑1Z、N‑2Z…N‑M Z与N‑1级插排(N‑1)‑1T、(N‑1)‑2T…(N‑1)‑MT的连接方式一样。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董沛君王焱宁郭波涛王慧慧董文彬涂远方
申请(专利权)人:北京航天自动控制研究所中国运载火箭技术研究院
类型:新型
国别省市:北京;11

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