一种PCB测试连接器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种PCB测试连接器，其包括基座、浮动压板和多个阵列排布的探针，浮动压板悬浮地设在基座上端面的下沉槽内，基座和浮动压板上设有贯通的若干通孔，探针设在通孔中，探针包括套筒和设在套筒两端的上、下针头，上、下针头之间通过弹簧连接，套筒固定在通孔的孔壁上，上、下针头的前端在弹簧呈无形变状态时位于通孔的孔口以下，通孔的孔口处设有锥形的单向防尘罩，单向防尘罩锥口朝外，由三片相同的扇形软胶片构成，浮动压板与基座的下沉槽槽底之间设有弹性体，浮动压板与基座之间通过滑动柱体滑动连接。在测试PCB的针脚时，浮动压板受力向下，使得上、下针头向外突出与外部电性连接，测试完成后，针头缩回通孔内，不易受损。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及线路板测试领域，具体涉及一种使用寿命长，探针不易受损的PCB测试模组。
技术介绍
在PCB板的生产过程中，为了验证PCB板的质量，需要对PCB板进行各种检测试验，通常需要对PCB板的外观缺陷、开路/短路、IC等元器件的功能等进行测试。其中，对PCB板的外观缺陷的测试通过对PCB板的视觉检测进行，对PCB板的开路/短路、IC等元器件的功能测试通过对PCB板的电测试进行。目前对PCB板的电测试工具通常包括载板和固定在载板上的多个探针，随着现代芯片工艺的发展，最小线宽逐步减小，芯片管脚的尺寸也越来越小，这样与其配套使用的PCB板上的电极将越来越密，这就要求用以测试这些PCB板的治具上的探针更细、排列更紧密。因此普通的治具已不适合用于这些PCB板的测试，而发展了探针治具，随着对集成电路的测试要求越来越高，近年来也出现了一种改进后的探针测试工具，此种探针测试工具由于采用了直径非常小的探针，因此针脚的密度能够适应电极、晶圆分布越来越密的PCB板和晶片，然而此种改良的探针测试工具其探针存在易受损的弊端，即其探针在不用时针头依然暴露在外面，又因为探针直径非常小，长时间暴露在空气中很容易发生金属表面氧化，形成氧化层降低了微针的导电性能，影响了测试的准确性；另外，在没有使用时，露置在外的探针因磕碰等原因也易造成弯曲变形，保管较为不便。同时，用于容置探针的开放通孔容易进入灰尘，造成探针导电性变差，针头与套筒之间的滑动灵活性下降。
技术实现思路
为了解决上述技术存在的缺陷，本技术提供一种使用寿命长，探针不易受损的PCB测试模组。本技术实现上述技术效果所采用的技术方案是:一种PCB测试连接器，包括基座、浮动压板和多个阵列排布的探针，所述浮动压板悬浮地设在所述基座上端面的下沉槽内，所述基座和所述浮动压板上设有贯通的若干通孔，所述探针设在所述通孔中，所述探针包括套筒和弹性连接在所述套筒两端的上针头和下针头，其中，所述上针头和所述下针头的前端在无受力状态时位于所述通孔的孔口以下，所述通孔的孔口处设有锥形的单向防尘罩，该单向防尘罩锥口朝外。上述的一种PCB测试连接器，所述单向防尘罩由三片结构相同的扇形软胶片组合构成，所述单向防尘罩在受到向外作用力时呈张开状态。上述的一种PCB测试连接器，所述套筒固定在所述通孔的孔壁上，所述上针头和所述下针头之间通过弹簧连接。上述的一种PCB测试连接器，所述浮动压板与所述基座的下沉槽槽底之间设有弹性体，所述浮动压板与所述基座之间通过滑动柱体滑动连接。本技术的有益效果为:本技术在测试PCB的针脚时，浮动压板受力向下，可使得上针头和下针头向外突破单向防尘罩的限制，从通孔的孔口突出与外部针脚电性连接。在测试完成后，浮动压板无受力状态时，上针头和下针头的前端在套筒内的弹簧拉伸形变作用力下缩回通孔内，使得探针不易受损，同时，此时闭合状态单向防尘罩可防止外部灰尘进入通孔内，保证了通孔内部的洁净度。【附图说明】图1为本技术的结构示意图；图2为图1中II部分的放大示意图；图3为本技术所述单向防尘罩的主视图；图4为本技术所述探针的结构示意图。图中:1-基座、2-浮动压板、3-通孔、4-探针、5-弹性体、6-滑动柱体、7-单向防尘罩、41-套筒、42-上针头、43-下针头、44-弹簧、71-扇形软胶片。【具体实施方式】下面参照说明书附图和具体实施例对本技术作进一步说明:参照图1至图4所示，一种PCB测试连接器，包括基座1、浮动压板2和多个阵列排布的探针4。基座I和浮动压板2均为绝缘材料制成，浮动压板2悬浮地设在基座I上端面的下沉槽内。基座I和浮动压板2上设有贯通的若干通孔3，探针4设在通孔3中。探针4包括套筒41和弹性连接在套筒41两端的上针头42和下针头43，套筒41固定在通孔3的孔壁上。其中，作为本技术的一种改进，上针头42和下针头43的前端在无受力状态时位于通孔3的孔口以下，即上针头42和下针头43的前端藏匿在通孔3内。进一步的，为防止外部灰尘进入通孔3中，通孔3的孔口处设有锥形的单向防尘罩7，该单向防尘罩7的锥口朝外，其在受到向外的作用力时可开启。具体的，在本技术的优选实施例中，该单向防尘罩7由三片结构相同的扇形软胶片71组合构成，单向防尘罩7在受到探针4两端针头施加的向外作用力时，三片扇形软胶片71发生形变，朝外张开，针头突破单向防尘罩7的限制。上针头42和下针头43之间通过弹簧44连接，在浮动压板2未受力，也即未进行针脚测试时，弹簧44呈自然无形变的状态；当浮动压板2受力被压力时，上针头42的前端与通孔3上端的单向防尘罩7接触，使得弹簧44受力发生压缩形变，当浮动压板2下压到一定程度时，弹簧44的压缩形变力使得上针头42和下针头43突破单向防尘罩7的限制，从通孔3中露置出来，与外部的针脚电性连接，使得待测PCB板的针脚和测试设备的针脚之间导通。为使浮动压板2可悬浮地设在基座I上端面的下沉槽内，浮动压板2与基座I的下沉槽槽底之间设有弹性体5，该弹性体5可为多组弹簧。为防止浮动压板2在受力时发生侧向的偏移，浮动压板2与基座I之间设有滑动柱体6，滑动柱体6使得浮动压板2只能沿其作上下的滑动，避免了侧向偏移，进一步保护了探针。综上所述，本技术在测试PCB的针脚时，浮动压板受力向下，可使得上针头和下针头向外突破单向防尘罩的限制，从通孔的孔口突出与外部针脚电性连接。在测试完成后，浮动压板无受力状态时，上针头和下针头的前端在套筒内的弹簧拉伸形变作用力下缩回通孔内，使得探针不易受损，同时，此时闭合状态单向防尘罩可防止外部灰尘进入通孔内，保证了通孔内部的洁净度。以上显示和描述了本技术的基本原理、主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本技术的原理，在不脱离本技术精神和范围的前提下本技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本技术的范围内，本技术要求的保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定。【主权项】1.一种PCB测试连接器，包括基座、浮动压板和多个阵列排布的探针，所述浮动压板悬浮地设在所述基座上端面的下沉槽内，所述基座和所述浮动压板上设有贯通的若干通孔，所述探针设在所述通孔中，所述探针包括套筒和弹性连接在所述套筒两端的上针头和下针头，其特征在于，所述上针头和所述下针头的前端在无受力状态时位于所述通孔的孔口以下，所述通孔的孔口处设有锥形的单向防尘罩，该单向防尘罩锥口朝外。2.根据权利要求1所述的一种PCB测试连接器，其特征在于，所述单向防尘罩由三片结构相同的扇形软胶片组合构成，所述单向防尘罩在受到向外作用力时呈张开状态。3.根据权利要求1所述的一种PCB测试连接器，其特征在于，所述套筒固定在所述通孔的孔壁上，所述上针头和所述下针头之间通过弹簧连接。4.根据权利要求1所述的一种PCB测试连接器，其特征在于，所述浮动压板与所述基座的下沉槽槽底之间设有弹性体，所述浮动压板与所述基座之间通过滑动柱体滑动连接。【专利摘要】本技术公开了一种PCB测试连接器，其包括基座、浮动压板和多个阵列排布的探针，浮动压板悬浮地设在基座上端面的下沉槽内，基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种PCB测试连接器，包括基座、浮动压板和多个阵列排布的探针，所述浮动压板悬浮地设在所述基座上端面的下沉槽内，所述基座和所述浮动压板上设有贯通的若干通孔，所述探针设在所述通孔中，所述探针包括套筒和弹性连接在所述套筒两端的上针头和下针头，其特征在于，所述上针头和所述下针头的前端在无受力状态时位于所述通孔的孔口以下，所述通孔的孔口处设有锥形的单向防尘罩，该单向防尘罩锥口朝外。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨龙寿，杨苑，曾桓海，吴舒艺，傅汉雄，李胜运，
申请(专利权)人：梅县梅雁旋窑水泥有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44