部件检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种部件检查装置。所述部件检查装置包括：透射板，安设至少一个检查对象部件；摄像头部，设置在所述透射板的上方并拍摄所述检查对象部件；照明部，设置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述检查对象部件提供照明；反射部，设置在所述透射板的下方并将所述照明部提供的光中透过所述透射板的光反射至所述摄像头部；及偏光部，阻断所述照明部提供的光中被所述检查对象部件反射的光进入所述摄像头部，使由所述照明部提供并透过所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透过所述透射板的光通过以进入所述摄像头部。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种部件检查装置，尤其涉及一种用于检查插入印刷电路板上的部件的位置等的部件检查装置。
技术介绍
在电子设备内至少有一个印刷电路板构成电路，而在印刷电路板上安装有各种种类和大小的电子部件。在此，电子部件是指可在印刷电路板上构成电路的集成电路、二极管、电容器、电阻器、晶体管等电子部件。一般而言，用于在印刷电路板上安装多种电子部件的安装线包括部件安装装置和部件检查装置。部件安装装置完成将各种电子部件放置于各印刷电路板的规定位置的安装作业，而部件检查装置完成检查电子部件的安装位置和/或电子部件的焊接状态等电子部件的安装状态的作业。尤其是，用于检查电子部件的位置的一般的部件检查装置在玻璃面板的上面安设部件，在玻璃面板的下部设置背光板(back light pannel)以向玻璃面板提供照明之后，使用位于玻璃面板上部的摄像头拍摄部件的影像来检查部件的位置。但是，现有技术的利用背光板的部件检查装置因为结构上的问题不能向背光板连接外部电源。因此，背光板利用干电池等内部电源提供照明。但是，因为干电池的寿命有限，经常发生背光亮度改变或在检查过程中因干电池的电源不足需中断检查的情况等。另外，因为背光的亮度难以调节，在拍摄影像过亮或过暗的情况下，由于部件的影像扭曲，经常出现难以测量部件的准确位置的情况。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术之不足而提供一种在提供稳定的照明的同时，可确认准确的部件位置的部件检查装置。本专利技术目的不限于上述目的，而对于本领域技术人员，未提及的其他目的可通过下面的记载将变得更加明了。为达到上述目的，本专利技术实施例的部件检查装置包括:透射板，安设至少一个检查对象部件；摄像头部，设置在所述透射板的上方并拍摄所述检查对象部件；照明部，设置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述检查对象部件提供照明；反射部，设置在所述透射板的下方并将所述照明部提供的光中透过所述透射板的光反射至所述摄像头部；及偏光部，阻断所述照明部提供的光中被所述检查对象部件反射的光进入所述摄像头部，使由所述照明部提供并透过所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透过所述透射板的光通过以进入所述摄像头部。根据一实施例，所述偏光部包括:第一偏振滤波器，使所述照明部提供的光中偏振为第一偏振光的光通过；第二偏振滤波器，使重新透过所述透射板的光中偏振为第二偏振光的光通过以进入所述摄像头部。根据一实施例，所述第一偏振滤波器设置在所述照明部和所述透射板之间，而所述第二偏振滤波器设置在所述摄像头部和所述透射板之间。根据一实施例，由所述照明部提供的光在通过所述第一偏振滤波器的过程中偏振为第一偏振光，而所述偏振为第一偏振光的光中被所述检查对象部件反射的光被所述第二偏振滤波器阻断进入所述摄像头部。根据一实施例，所述反射部将在通过所述第一偏振滤波器的过程中偏振为第一偏振光的光中透过所述透射板的变换为所述第二偏振光反射至所述摄像头部。根据一实施例，所述反射部包括第一棱镜片及设置在所述第一棱镜片下部的第二棱镜片，其中，所述第一棱镜片向所述第二棱镜片折射及扩散偏振为所述第一偏振光并透过所述透射板的光，而所述第二棱镜片将通过所述第一棱镜片的偏振为所述第一偏振光的光变换为所述第二偏振光并反射至所述摄像头部。根据一实施例，所述第一棱镜片由具有三角形截面的多个第一棱镜向上而形成，而所述第二棱镜片由具有三角形截面的多个第二棱镜向下而形成。根据一实施例，所述多个第一棱镜的偏向图案和所述多个第二棱镜的偏向图案相互垂直。根据一实施例，所述反射部包括由多个棱镜向下而形成的棱镜片。根据一实施例，所述多个棱镜的偏向图案与所述棱镜片的界面形成45度的偏向角。本专利技术的其他具体事项，将通过下面的详细说明及附图变得更加明了。本专利技术的实施例至少具有如下效果:因为用于拍摄部件的位置的照明部位于透射板的上方，因此，可利用稳定的外部电源提供照明。即使摄像头部和照明部位于检查对象部件的上方，也能利用偏振滤波器获得清晰的部件影像。本专利技术的效果不限于所述内容，更多的效果包含于本说明书中。【附图说明】图1是本专利技术实施例的部件检查装置的概略示意图；图2是本专利技术实施例的部件检查装置的偏光部的概略示意图；图3是本专利技术第一实施例的反射部的概略示意图；图4是本专利技术第二实施例的反射部的概略示意图；图5是利用本专利技术第一实施例的反射部的部件检查原理示意图；图6是在没有附着本专利技术实施例的偏光部的情况下的拍摄图像；图7是在附着本专利技术实施例的偏光部的情况下的拍摄图像。附图标记:1:部件检查装置 10:拍摄部11:摄像头部12:透镜13:照明部20:偏光部21:滤波器框架 22:第一偏振滤波器23:第二偏振滤波器30:透射板40、140:反射部41:第一棱镜片41a:第一棱镜41b ??第一谷42:第二棱镜片42a:第二棱镜42b:第二谷50:支撑框架60:检查对象部件140a:棱镜140b:谷【具体实施方式】本专利技术的优点及特征和实现方法将通过结合附图和将要详细描述的实施例变得明了。但是，本专利技术不受下述实施例的限制而可通过各种形式实现，本实施例的目的旨在更好地说明本专利技术，为本专利技术所属
的技术人员理解提供帮助，而本专利技术只受权利要求书的限制。在本说明书中，相同的附图标记指示相同的元件。另外，记载于本说明书的实施例将参考作为本专利技术的理想示例图的截面图及/或概略图进行说明，因此，根据制造技术和/或允许误差等，示例图的形状有可能会变形。另夕卜，为便于说明，本专利技术中的各附图有可能被放大或缩小表示。在本说明书中，相同的附图标记指示相同的要素。在本说明书中，在没有特别说明的情况下，单数也可以指复数。用于说明书的“包括”(comprises)及/或“包含” (comprising)不排除所涉及的结构、步骤、动作和/或元件中包括或添加一个以上的其他结构、步骤、动作和/或元件。表示空间相对位置的术语“下”(below)、“在…下方”(beneath)、“下部”(lower)、“在…上方” (above)、“上部” (upper)等用于描述图中各要素之间的相互关系。在本说明书中，相同的附图标记指示相同的要素。下面，结合附图对本专利技术的部件检查装置的实施例进行详细说明。图1是本专利技术实施例的部件检查装置的概略示意图。如图1所示，本专利技术实施例的部件检查装置I包括拍摄部10、偏光部20、透射板30、反射部40及支撑框架50。拍摄部10包括摄像头部11、透镜部12及照明部13。摄像头部11是用于拍摄至少一个检查对象部件60的位置的结构，设置于检查对象部件60及透射板30的上方。检查对象部件60是安装在印刷电路板(未图示)上的各种电子部件。摄像头部11的图像检测部件可选用CCD(Charge Coupled Device,电荷f禹合器件)或 CMOS (Complementary metal-oxide semiconductor,互补金属氧化物半导体)等拍摄元件。图1表示设置一个摄像头部11的示例，但部件检查装置I也可以具备拍摄不同位置的多个摄像头部11。在所述摄像头部11的下部设置有透镜部12。透镜部12的焦距可以是摄像头部11和检查对象部件60之间的距离，并且可具备使透射板30的一定区域形成为拍摄图像的倍率。在具备多个摄像头部1本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种部件检查装置，包括：透射板，安设至少一个检查对象部件；摄像头部，设置在所述透射板的上方并拍摄所述检查对象部件；照明部，设置在所述透射板的上方并向所述透射板及所述检查对象部件提供照明；反射部，设置在所述透射板的下方并将所述照明部提供的光中透过所述透射板的光反射至所述摄像头部；偏光部，阻断所述照明部提供的光中被所述检查对象部件反射的光进入所述摄像头部，使由所述照明部提供并透过所述透射板的光中被所述反射部反射且重新透过所述透射板的光通过以进入所述摄像头部。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：潘种亿，
申请(专利权)人：三星泰科威株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR