基于双滤光片切换器的测试机制造技术

本实用新型专利技术公开了基于双滤光片切换器的测试机，它包括处理器，用于处理信号并控制测试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号；磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用于输入设置运行参数；参数存储器，用于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示器，用于显示测试机的运行结果；处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数存储器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。它能实现多通道多次连续测试，工作效率高，测试过程安全可靠，方便常规作业；测试参数模式、测试次数、正反驱动时间和测试时间间隔可调，适用性更强。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及到设备运行情况的测试装置，特别涉及一种基于双滤光片切换器 的测试机。
技术介绍
双滤光片切换器，IR-CUT，全称IR-Cut Removable，IR-CUT里面有红外截止或 吸收滤光片和光谱滤光片两个滤光片，其内有两个窗口，可依需要左右移动，白天只允许 760nm或780nm以下波长的光线进入，避免了白天的彩色失真。晚上只允许760nm或780nm 以上波长的红外光线进入，避免760nm或780nm以下波长的可见光对红外光的干扰，从而 修正白天偏色问题，提升夜晚亮度具有夜视功能。由于双滤光片切换器需要不断地进行切 换，所以IR-CUT是摄像机和照相机等设备中最容易出问题的部件，一般的IR-CUT的切换寿 命为能在 _30~80摄氏度的环境下使用10万次，IR-CUT寿命测试是摄像机品质要求的一 个重要参数，工作电压的设置、切换器的材质、驱动电机或电磁的性能都会影响IR-CUT的 使用寿命，在不同条件下测试IR-CUT的可靠性如何，是客户关心的问题，而目前依靠的大 多是人工测试，一般需要几天的时间，而人工测试不仅需要专人守护，而且不能调整运行参 数、如工作电压、电机正反向工作时间、切换间隔时间等、测试质量难以得到保证，效率非常 之低。
技术实现思路
针对上述现有技术中双滤光片切换器人工测试存在的问题，本技术提供了一 种自动运行、实现多通道多次连续测试，运行模式和参数可调、运行参数可保存的基于双滤 光片切换器的测试机。 本技术要解决的技术问题所采取的技术方案是：基于双滤光片切换器的测试 机，包括处理器，用于处理信号并控制测试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干 路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号； 磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用 于输入设置运行参数；参数存储器，用于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示 器，用于显示测试机的运行结果； 所述霍尔传感器的输出端通过磁阀电机反馈电路连接处理器的输入端，所述参数 输入键盘的输出端连接处理器的输入端，所述处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数 存储器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。 进一步地，所述参数输入键盘包括模式参数键、测试次数键、进位控制键、加控制 键、确认键。 本技术的有益效果：与人工测试相比，1、能实现多通道多次连续测试，工作 效率明显提高，测试过程安全可靠，方便常规作业；2、测试参数模式、测试次数、正反驱动时 间和测试时间间隔可调，适用性更强。【附图说明】 图1为本技术的硬件连接示意框图， 图2为本技术的霍尔传感器电路连接示意图， 图3为本技术的正反驱动信号时序图。 在图中，C1、电容1 C2、电容2 D1、电源指示灯 DS5、比较器输出结果指示灯 R1、串联电阻1 R2、串联电阻2 R3、上拉电阻1 R4、限流电阻1 R5、限流电阻2 R6、上 拉电阻2 R7、限流电阻3 T1、正向驱动时间T2、驱动间隔时间T3、反向驱动时间U4、 槽型光耦U3A、电压比较器。【具体实施方式】 为了使本领域技术人员更好地理解本技术的技术方案，下面根据附图结合具 体实施方式来进一步详细描述本技术。 如图1所示，基于双滤光片切换器的测试机，包括处理器，用于处理信号并控制测 试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔 传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号；磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器 接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用于输入设置运行参数；参数存储器，用 于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示器，用于显示测试机的运行结果； 所述霍尔传感器的输出端通过磁阀电机反馈电路连接处理器的输入端，所述参数 输入键盘的输出端连接处理器的输入端，所述处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数 存储器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。 考虑到测试机需要用到的I/O端口比较多，所述处理器选用Microchip公司的 PIC24HJ 128GP506高性能单片机(具体电路图为已知，可参见其说明书)，可用引脚56个 (也可选择其他适用的单片机)、具体I/O端口分配表见表1， 表1 I/O端口分配表【主权项】1. 基于双滤光片切换器的测试机，其特征在于：包括处理器，用于处理信号并控制测 试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔 传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号；磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器 接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用于输入设置运行参数；参数存储器，用 于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示器，用于显示测试机的运行结果； 所述霍尔传感器的输出端通过磁阀电机反馈电路连接处理器的输入端，所述参数输入 键盘的输出端连接处理器的输入端，所述处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数存储 器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。2. 根据权利要求1所述的双滤光片切换器的测试机，其特征在于：所述参数输入键盘 包括模式参数键、测试次数键、进位控制键、加控制键、确认键。【专利摘要】本技术公开了基于双滤光片切换器的测试机，它包括处理器，用于处理信号并控制测试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号；磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用于输入设置运行参数；参数存储器，用于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示器，用于显示测试机的运行结果；处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数存储器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。它能实现多通道多次连续测试，工作效率高，测试过程安全可靠，方便常规作业；测试参数模式、测试次数、正反驱动时间和测试时间间隔可调，适用性更强。【IPC分类】G01M11-02【公开号】CN204479275【申请号】CN201520212040【专利技术人】文海明 【申请人】文海明【公开日】2015年7月15日【申请日】2015年4月10日本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于双滤光片切换器的测试机，其特征在于：包括处理器，用于处理信号并控制测试机运行；磁阀电机正反驱动电路，用于驱动若干路被测试的双过滤片切换器工作；霍尔传感器，用于接收双过滤片切换器发出的反馈信号；磁阀电机反馈电路，用于将霍尔传感器接收到的反馈信号发送至处理器；参数输入键盘，用于输入设置运行参数；参数存储器，用于存储参数输入键盘所输入的运行参数；液晶显示器，用于显示测试机的运行结果；所述霍尔传感器的输出端通过磁阀电机反馈电路连接处理器的输入端，所述参数输入键盘的输出端连接处理器的输入端，所述处理器的输出端分别连接液晶显示器、参数存储器、磁阀电机正反驱动电路的输入端。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：文海明，
申请(专利权)人：文海明，
类型：新型
国别省市：江西;36