本发明专利技术提供了一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系统，根据待测频点数目及GAP周期，以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量，由此当待测频点数目多时，可相应减少进行GSM邻区测量的GAP；当待测频点数目少时，可相应增加进行GSM邻区测量的GAP，从而避免了当LTE需要测量的频点数目比较多时，由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足，无法满足协议要求的问题。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及移动通信
，特别涉及一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系 统。
技术介绍
当LTE模式下进行业务并要求进行GSM邻区测量时，该就要求终端在LTE的连接 态能够周期性地捕获到GSM邻区的同步信道（SCH)。该是通过接收GSM网络发出的SB(同 步脉冲）实现的，通过解码SB中携带的BSIC信息，就可W获得GSM的峽号和定时信息。SB 的位置处于GSM的51复峽的1、11、21、31、41个150中，如图1中的编号8所示。 协议规定在LTE处于RRC_C0NNECT邸下，对异频或者异系统邻区进行测量需要使 用测量GAP。测量GAP是协议规定专口用于进行异频或者异系统邻区测量的一个长度为6ms 的连续时间片。测量GAP配置如表1所示：【主权项】1. 一种LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于，包括： 获取待测频点数目及GAP周期； 根据待测频点数目及GAP周期，以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。2. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为O个、GAP周期为40ms时，每隔O个或者1个GAP分配1个 GAP进行GSM邻区测量。3. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个或者5个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。4. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个或者5个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。5. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。6. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。7. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。8. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时，每隔0个或者2个GAP分配1个 GAP进行GSM邻区测量。9. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时，每隔0个、1个、2个、3个或者6个 GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。10. 如权利要求1所述的LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时，每隔0个、1个、2个、3个、5个、6 个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。11. 一种LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于，包括： 检测模块，用以获取待测频点数目及GAP周期； 分配模块，用以根据待测频点数目及GAP周期，以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区 测量。12. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时，每隔0个或者1个GAP分配1个 GAP进行GSM邻区测量。13. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时，每隔O个、1个、2个或者5个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。14. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个或者5个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。15. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。16. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。17. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时，每隔0个、1个、2个、3个、4个、5 个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP 分配1个GAP进行GSM邻区测量。18. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时，每隔0个或者2个GAP分配1个 GAP进行GSM邻区测量。19. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时，每隔0个、1个、2个、3个或者6个 GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。20. 如权利要求11所述的LTE模式下GSM邻区测量系统，其特征在于， 当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时，每隔0个、1个、2个、3个、5个、6 个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。【专利摘要】本专利技术提供了一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系统，根据待测频点数目及GAP周期，以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量，由此当待测频点数目多时，可相应减少进行GSM邻区测量的GAP；当待测频点数目少时，可相应增加进行GSM邻区测量的GAP，从而避免了当LTE需要测量的频点数目比较多时，由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足，无法满足协议要求的问题。【IPC分类】H04W24-00, H04W36-00【公开号】CN104754660【申请号】CN201310747001【专利技术人】唐旭明, 阮黎明 【申请人】联芯科技有限公司【公开日】2015年7月1日【申请日】2013年12月30日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LTE模式下GSM邻区测量方法，其特征在于，包括：获取待测频点数目及GAP周期；根据待测频点数目及GAP周期，以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：唐旭明，阮黎明，
申请(专利权)人：联芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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