一种场效应管的测试电路制造技术

本实用新型专利技术涉及器件测试技术领域，本实用新型专利技术提供一种场效应管的测试电路，测试电路包括控制电路、第一测试源、第一开关器件、第二开关器件以及第三开关器件，控制电路控制第一开关器件、第二开关器件以及第三开关器件处于导通状态，使第一测试源、场效应管的栅极、第一源极测试端、第二源极测试端、第一漏极测试端、第二漏极测试端以及地形成测量回路，并在第一测试源输出电流时检测测量回路的电压值，根据电压值和电流值测试场效应管的接触阻抗。通过测试源和多个开关器件即可对场效应管进行测试，不必采用专用机台，只要满足相应场效应管相应的电流和电压要求，即可进行测试，提高测试电路的利用率，对场效应管测试的通用性强，同时降低了运营成本。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及器件测试
，尤其涉及一种场效应管的测试电路。
技术介绍
目前，对场效应管的测试主要分为直流测试和交流测试两部分，其中，对场效应管的直流测试主要包括对栅源极漏电(IGSS)、漏源极漏电(IDSS)、导通阻抗(RDSON)以及开启电压(VTH)等参数的测试，现有技术中对场效应管的直流参数测试，主要是采用分立器件的专用测试机测试，如JUNO、ACCO 8002等机台。使用专用机台的一个缺陷是其他IC产品无法在此机台进行测试，导致机台的通用性不强，此外，对于面临激烈竞争的测试厂而言，如果没有场效应管的测试而导致机台空闲，将造成很大的成本浪费，因此机器的通用性和利用率至关重要；此外，专用测试机的缺点还包括:无法对场效应管测试接触阻抗；场效应管的漏电测试精度要求比较高，通常在InA以下，使用专用测试机不能保证漏电测试的精度。综上所述，现有技术中存在专用测试机不能进行场效应管接触阻抗的测试以及漏电测试精度低的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种场效应管的测试电路，旨在解决针对现有技术中存在专用测试机不能进行场效应管接触阻抗的测试以及漏电测试精度低的问题。本技术是这样实现的，一种场效应管的测试电路，所述测试电路包括控制电路、第一测试源、第一开关器件、第二开关器件以及第三开关器件，所述场效应管上设有第一源极测试端、第二源极测试端、第一漏极测试端以及第二漏极测试端，所述第一源极测试端通过所述场效应管的源极与第二源极测试端连接，所述第一漏极测试端通过所述场效应管的漏极与第二漏极测试端连接；所述第一测试源连接所述场效应管的栅极，所述场效应管的栅极连接所述第一开关器件的输入端，所述第一开关器件的输出端连接所述第一源极测试端，所述第二开关器件的输入端连接所述第二源极测试端，输出端连接所述第一漏极测试端，所述第三开关器件的输入端连接所述第二漏极测试端，输出端接地，所述控制电路的第一输出端连接所述第一开关器件的控制端，所述控制电路的第二输出端连接所述第二开关器件的控制端，所述控制电路的第三输出端连接所述第三开关器件的控制端；所述控制电路控制所述第一开关器件、所述第二开关器件以及所述第三开关器件处于导通状态，使所述第一测试源、所述场效应管的栅极、所述第一源极测试端、所述第二源极测试端、所述第一漏极测试端、所述第二漏极测试端以及地形成测量回路，并在所述第一测试源输出电流时检测所述测量回路的电压值，根据所述电压值和所述第一测试源的输出电流值获取所述场效应管的接触阻抗。所述测试电路还包括第二测试源、第四开关器件第一开关电路、测试电阻以及运算放大芯片；所述第四开关器件的输入端连接第二测试源，输出端连接所述场效应管的漏极，所述第一开关电路的输入端连接所述场效应管的栅极，输出端连接所述运算放大芯片的输入端和测试电阻的第一端，所述测试电阻的第二端连接所述运算放大芯片的输出端，所述控制电路的第四输出端连接所述第四开关器件的控制端，所述控制电路的第五输出端连接所述第一开关电路的控制端；所述控制电路控制所述第二开关器件、所述第四开关器件和所述第一开关电路处于导通状态，使所述场效应管的源极和漏极连接在一起，使所述场效应管的栅极连接所述运算放大芯片的输入端，并在所述第二测试源输出电流时检测所述运算放大芯片的输出电压值，根据所述输出电压值和所述测试电阻的阻值获取所述场效应管的栅极和漏极之间的漏电电流。所述第一开关电路包括第五开关器件、第六开关器件以及第七开关器件，所述第五开关器件、所述第六开关器件以及所述第七开关器件串连在一起，所述第五开关器件输入端连接所述场效应管的栅极；所述第五开关器件在断开时连接所述第一测试源，在闭合时连接所述第六开关器件的输入端；所述第六开关器件在断开时连接所述第七开关器件的输入端，在闭合时连接所述场效应管的漏极；所述第七开关器件在断开时接地，在闭合时连接所述运算放大芯片的输入端。所述第一开关器件、第二开关器件、第三开关器件、第四开关器件、第五开关器件、第六开关器件以及第七开关器件为双刀双掷开关。所述测试电路还包括第二开关电路，所述第二开关电路的输入端连接所述场效应管的源极，输出端连接所述运算放大芯片的输入端和所述测试电阻的第一端；所述控制电路控制所述第四开关器件、所述第一开关电路及所述第二开关电路处于导通状态，使所述场效应管的栅极和源极连接所述运算放大芯片的输入端，并在所述第二测试源输出电流时检测所述运算放大芯片的输出电压值，根据所述输出电压值和所述测试电阻的阻值获取所述场效应管的源极和漏极之间的漏电电流。所述第二开关电路包括第八开关器件、第九开关器件以及第十开关器件，所述第八开关器件、所述第九开关器件以及所述第十开关器件串连在一起，所述第八开关器件输入端连接所述场效应管的源极，所述第八开关器件在断开时连接所述第九开关器件的输入端，在闭合时接地，所述第九开关器件在闭合时连接所述第十开关器件的输入端，所述第十开关器件在断开时连接所述场效应管的漏极，在闭合时连接所述运算放大芯片的输入端。所述第八开关器件、所述第九开关器件以及所述第十开关器件为双刀双掷开关。所述测试电路还包括第一二极管和第二二极管，所述第一二极管的阴极连接所述运算放大芯片的输入端和第二二极管的阳极，所述第一二极管的阳极与所述的第二二极管的阴极共地连接。本技术提供一种场效应管的测试电路，通过两个测试源和多个开关器件即可对场效应管进行测试，不必采用专用机台，只要满足相应场效应管相应的电流和电压要求，即可以进行测试，提高了测试电路的利用率，对场效应管测试的通用性强，同时降低了运营成本。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路的结构示意图；图2是本技术另一种实施例提供的一种场效应管的测试电路的结构示意图；图3是本技术另一种实施例提供的一种场效应管的测试电路的结构示意图；图4是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路中第一开关器件的电路图；图5是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路中第二开关器件的电路图；图6是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路中第三开关器件的电路图；图7是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路中第四开关器件的电路图；图8是本技术一种实施例提供的一种场效应管的测试电路中第一开关电路的电路图；...

【技术保护点】
一种场效应管的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括控制电路、第一测试源、第一开关器件、第二开关器件以及第三开关器件，所述场效应管上设有第一源极测试端、第二源极测试端、第一漏极测试端以及第二漏极测试端，所述第一源极测试端通过所述场效应管的源极与第二源极测试端连接，所述第一漏极测试端通过所述场效应管的漏极与第二漏极测试端连接；所述第一测试源连接所述场效应管的栅极，所述场效应管的栅极连接所述第一开关器件的输入端，所述第一开关器件的输出端连接所述第一源极测试端，所述第二开关器件的输入端连接所述第二源极测试端，输出端连接所述第一漏极测试端，所述第三开关器件的输入端连接所述第二漏极测试端，输出端接地，所述控制电路的第一输出端连接所述第一开关器件的控制端，所述控制电路的第二输出端连接所述第二开关器件的控制端，所述控制电路的第三输出端连接所述第三开关器件的控制端；所述控制电路控制所述第一开关器件、所述第二开关器件以及所述第三开关器件处于导通状态，使所述第一测试源、所述场效应管的栅极、所述第一源极测试端、所述第二源极测试端、所述第一漏极测试端、所述第二漏极测试端以及地形成测量回路，并在所述第一测试源输出电流时检测所述测量回路的电压值，根据所述电压值和所述第一测试源的输出电流值获取所述场效应管的接触阻抗。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟东，李明志，朱小齐，赵泽源，古力，刘晓凤，宋湘南，
申请(专利权)人：山东贞明半导体技术有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37