一种电子设备及其工作状态的控制方法、控制单元技术

本发明专利技术公开了一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，该电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元；该方法包括：获取图像采集单元从投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应第一图像的第一特征描述信息和/或对应第二图像的第二特征描述信息；根据第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将第一特征描述信息与数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将第二特征描述信息与数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制第一投影单元从第一工作状态调整到第二工作状态。本发明专利技术还公开了一种电子设备和控制单元。

【技术实现步骤摘要】
一种电子设备及其工作状态的控制方法、控制单元
本专利技术涉及电子设备的控制领域，尤其涉及一种电子设备及其工作状态的控制方法、控制单元。
技术介绍
现有技术中，在实现对电子设备的激光投影器的工作状态控制时，采用的还是一种反复手动调校的方式，这种方式不仅操作复杂、操作难度和工作量大，而且调校误差也很大。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种电子设备及其工作状态的控制方法、控制单元，以至少实现对电子设备的激光投影器的工作状态的智能化的、高精度的自适应控制。本专利技术的技术方案是这样实现的：一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述方法包括：获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。一种电子设备，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述电子设备还包括：控制单元，用于获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。一种控制单元，应用于电子设备，所述电子设备还包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述控制单元包括：图像获取子单元，用于获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；图像分析子单元，用于对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；状态调整子单元，用于根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。本专利技术提供的一种电子设备及其工作状态的控制方法、控制单元，实现了对电子设备的激光投影器的工作状态的智能化的、高精度的自适应控制。附图说明图1为本专利技术实施例的一种电子设备工作状态的控制方法的流程图；图2为本专利技术实施例的电子设备的投影示意图；图3为本专利技术实施例的一种电子设备的组成结构示意图；图4为本专利技术实施例的一种控制单元的组成结构示意图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术的技术方案进一步详细阐述。本专利技术实施例所提供的一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，该电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集投影平面上的图像；如图1所示，主要包括以下步骤：步骤101，获取图像采集单元从投影平面采集到的第一图像和/或第二图像。步骤102，对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息。步骤103，根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制第一投影单元从第一工作状态调整到第二工作状态。具体的，可以根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值、和/或第二特征描述信息与所述第二特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。优选的，在所述第一投影单元处于第一工作状态之前，所述方法还包括：获取电子设备在不同环境下分别处于第一投影单元和/或第二投影单元的最佳工作状态时，图像采集单元从投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对处于最佳工作状态下采集到的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息和/或第二特征比对信息存入数据库中；生成第一投影单元的状态调整策略并存入数据库中。也就是说，图1所示的控制方法至少包括以下三种具体实施方式：方式一，首先，获取电子设备在不同环境下分别处于第一投影单元的最佳工作状态时，图像采集单元从投影平面采集到的第一图像，对处于最佳工作状态下采集到的第一图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息存入数据库中，并生成第一投影单元的状态调整策略存入数据库中，方式一中的状态调整策略是指基于第一特征的状态调整策略；然后，获取第一投影单元处于第一工作状态时图像采集单元从投影平面采集到的第一图像，对获取的所述第一图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息；再根据所述第一特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。具体的，根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。方式二，首先，获取电子设备在不同环境下分别处于第一投影单元的最佳工作状态时，图像采集单元从投影平面采集到的第二图像，对处于最佳工作状态下采集到的第二图像进行特征分析，得到相应的第二特征比对信息存入数据库中，并生成第一投影单元的状态调整策略存入数据库中，方式二中的状态调整策略是指基于第二特征的状态调整策略；然后，获取第一投影单元处于第一工作状态时图像采集单元从投影平面采集到的第二图像，对获取的所述第二图像进行特征分析，得到对应所述第二图像的第本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述方法包括：获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。

【技术特征摘要】
1.一种电子设备工作状态的控制方法，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述方法包括：获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态；其中，所述第一特征描述信息为第一图像的灰度值和/或第一图像的光斑面积，所述第一特征比对信息为灰度和/或光斑面积的比对值；所述第二特征描述信息为所述第二图像的面积大小，所述第二特征比对信息为面积比对值。2.根据权利要求1所述电子设备工作状态的控制方法，其特征在于，所述根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态，包括：根据所述第一特征描述信息与所述第一特征比对信息之间的差值、和/或第二特征描述信息与所述第二特征比对信息之间的差值，查询所述数据库中预存的状态调整策略得到相应的状态调整值，并根据所述状态调整值控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态。3.根据权利要求1所述电子设备工作状态的控制方法，其特征在于，对获取的所述第一图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息，包括：提取所述第一图像中的至少一个特征区域，并对所提取的特征区域进行特征分析得到相应的区域特征描述信息；将与所述至少一个特征区域相应的所述区域特征描述信息进行汇总分析得到所述第一图像的第一特征描述信息。4.根据权利要求1所述工作状态的控制方法，其特征在于，在所述第一投影单元处于第一工作状态之前，所述方法还包括：获取所述电子设备在不同环境下分别处于所述第一投影单元和/或第二投影单元的最佳工作状态时，所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对处于最佳工作状态下采集到的第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到相应的第一特征比对信息和/或第二特征比对信息存入所述数据库中；生成所述第一投影单元的状态调整策略并存入所述数据库中。5.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括第一投影单元、第二投影单元和图像采集单元，所述第一投影单元用于向投影平面投射第一图像，且所述第一投影单元处于第一工作状态，所述第二投影单元用于向所述投影平面投射第二图像，所述图像采集单元用于采集所述投影平面上的图像；所述电子设备还包括：控制单元，用于获取所述图像采集单元从所述投影平面采集到的第一图像和/或第二图像；对获取的所述第一图像和/或第二图像进行特征分析，得到对应所述第一图像的第一特征描述信息和/或对应所述第二图像的第二特征描述信息；根据所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查询数据库，将所述第一特征描述信息与所述数据库中保存的对应第一特征比对信息进行比较、和/或将所述第二特征描述信息与所述数据库中保存的对应第二特征比对信息进行比较，并根据比较结果控制所述第一投影单元从所述第一工作状态调整到第二工作状态；其中，所述第一特征描述信息为第一图像的灰度值和/或第一图像的光斑面积，所述第一特征比对信息为灰度和/或光斑面积的比对值；所述第二特征描述信息为所述第二图像的面积大小，所述第二特征比对信息为面积比对值...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡先伟，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11