嵌入式设备CPU总线故障注入测试系统及测试方法技术方案

技术编号:11515860 阅读:150 留言:0更新日期:2015-05-28 10:48
本发明专利技术提供了一种嵌入式设备CPU总线故障注入测试系统及测试方法,该系统包括:上位机平台,上位机平台主要运行故障注入软件等;故障注入主机,通过以太网和上位机平台之间进行上传数据以及下达命令参数功能;故障注入探头,提供不同的CPU接口功能,对于不同的CPU更换不同的探头;被测试设备,被测试设备中主要运行被测试软件,被测试设备的所有信号通过接口与故障注入探头连接。本发明专利技术通过上位机平台设置故障设定参数,下达故障注入指令,通过参数组合可以进行非常丰富的故障注入类型,满足嵌入式系统全面的故障注入类型要求,使用灵活方便。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种嵌入式设备CPU总线故障注入测试系统,其特征在于,包括:上位机平台,上位机平台主要运行故障注入软件,设置故障注入参数,下达故障注入设定以及故障数据分析功能;故障注入主机,故障注入主机通过以太网和上位机平台之间进行上传数据以及下达命令参数功能,同时故障注入主机还完成对被测试设备程序进行查看、过滤、追踪三大功能;故障注入探头,故障注入探头提供不同的CPU接口功能,对于不同的CPU更换不同的探头;被测试设备,被测试设备中主要运行被测试软件,被测试设备的所有信号通过接口与故障注入探头连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:范存伟张谋晶孔祥雷
申请(专利权)人:上海创景计算机系统有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1