一种电子束低频轰击去除硅料中氧的方法技术

技术编号:11512075 阅读:92 留言:0更新日期:2015-05-27 18:36
本发明专利技术属于用电子束熔炼的技术领域,特别涉及一种电子束低频轰击去除硅料中氧的方法,步骤包括装料、抽真空、电子枪预热、电子束轰击硅料和冷却后取料,电子束轰击硅料直到硅料全部熔化后,再调节电子束频率为5~10Hz,进行5~15min的电子束低频轰击。本发明专利技术的显著效果是电子束的低频化增强了扰动效果,提高生产效率10%以上,减少能耗1%~5%。经过5~15min的轰击熔炼,杂质氧的去除率达到88~95%;可使多晶硅铸锭底料以及单晶棒头尾料得到很好的重复利用;与不进行除氧工艺的多晶硅料相比,提高电池片的光电转换效率0.1%以上,工艺条件温和易于操作,生产周期短,技术稳定,生产效率高。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种电子束低频轰击去除硅料中氧的方法,步骤包括装料、抽真空、电子枪预热、电子束轰击硅料和冷却后取料,其特征在于:所述的电子束轰击硅料是:直到硅料全部熔化后,再调节电子束频率为5~10Hz,进行5~15min的电子束低频轰击。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:郭校亮王登科姜大川安广野谭毅
申请(专利权)人:青岛隆盛晶硅科技有限公司
类型:发明
国别省市:山东;37

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