【技术实现步骤摘要】
一种长期演进技术LTE前导信号的检测方法和系统
本专利技术涉及通信
,特别是涉及一种长期演进技术LTE前导信号的检测方法和系统。
技术介绍
长期演进技术(LongTermEvolution,LTE)前导(Preamble)信号的检测性能在协议3GPP36.141中进行了规定,由两个参数来限定:虚检概率(Pfa)和检测概率(Pd),并要求虚检概率(Pfa)不高于0.1%,且检测概率(Pd)不低于99%。为了使参数指标的表示方法一致,定义了漏检概率(Pfd),Pfd=1-Pd,则LTEPreamble信号的检测性能可由虚检概率(Pfa)不高于0.1%,且漏检概率(Pfd)不高于1%进行等价描述。LTE支持的Preamble格式如表1所示。其中的参数均由协议3GPP36.211定义,其中,Ts为LTE系统的最小时间间隔,为1/30.72*10^6s,Tcp为循环前缀(CyclicPrefix,CP)的长度,Tseq为preamble序列的有效负荷(payload)长度,即premble序列的整体长度为Tcp+Tseq。Preamble格式TCPTSEQ03168·Ts24576·Ts121024·Ts24576·Ts26240·Ts2·24576·Ts321024·Ts2·24576·Ts4448·Ts4096·Ts表1LTE的每个小区都有64个preamble序列可用为随机接入的前导序列,由于是对preamble序列进行盲检测,所以在接收端需要预设检测门限,设为TH,当盲检测的信号超过TH时,判定检测到preamble信号,反之则无,在对全部64个pre ...
【技术保护点】
一种长期演进技术LTE前导信号的检测方法,其特征在于,包括:对N个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率和漏检概率;根据所述虚检概率、初始检测门限、预设步长、样本数量和虚检概率指标确定虚检门限值,其中,N为自然数,N小于等于所述样本数量;根据所述漏检概率、所述虚检门限值、所述预设步长、所述样本数量和漏检概率指标确定漏检门限值;根据所述漏检门限值对N个子帧内的LTE前导信号进行检测。
【技术特征摘要】
1.一种长期演进技术LTE前导信号的检测方法,其特征在于,包括:对N个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率和漏检概率;根据所述虚检概率、初始检测门限、预设步长、样本数量和虚检概率指标确定虚检门限值,其中,N为自然数,N小于等于所述样本数量,所述根据所述虚检概率、初始检测门限、预设步长、样本数量和虚检概率指标确定虚检门限值的步骤,包括:根据所述初始检测门限和所述预设步长确定对N个子帧进行盲检测时的检测门限,其中,N大于0;将所述虚检概率小于所述虚检概率指标时的检测门限确定为虚检门限值;其中,当N等于0时,所述检测门限为所述初始检测门限;根据所述漏检概率、所述虚检门限值、所述预设步长、所述样本数量和漏检概率指标确定漏检门限值,所述根据所述漏检概率、所述虚检门限值、所述预设步长、所述样本数量和漏检概率指标确定漏检门限值的步骤,包括:根据所述虚检门限值和所述预设步长确定对N个子帧进行盲检测时的检测门限,其中,N大于0;将所述漏检概率小于所述漏检概率指标时的检测门限确定为漏检门限值;其中,当N等于0时,所述检测门限为所述虚检门限值;根据所述漏检门限值对N个子帧内的LTE前导信号进行检测。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述初始检测门限和所述预设步长确定对N个子帧进行盲检测时的检测门限,其中,N大于0,包括:当N大于0时,将所述初始检测门限与所述预设步长的正整数倍相加,得到对N个子帧进行盲检测时的检测门限。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述虚检概率小于所述虚检概率指标时的检测门限确定为虚检门限值,包括:判断所述虚检概率是否小于所述虚检概率指标;若小于,将获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限确定为所述虚检门限值;若不小于,对N+1个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率,并根据获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限;继续判断N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率是否小于所述虚检概率指标;若不小于,继续对N+2个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N+2个子帧内的LTE前导信号的虚检概率,并根据获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+2个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限;继续判断N+2个子帧内的LTE前导信号的虚检概率是否小于所述虚检概率指标,直至N+M个子帧内的LTE前导信号的虚检概率小于所述虚检概率指标,将获取N+M个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限确定为所述虚检门限值,其中,M为正整数,N+M小于等于所述样本数量。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限,包括:将获取N个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限与所述预设步长相加,作为获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限;所述根据获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+2个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限,包括:将获取N+1个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限与所述预设步长相加,作为获取N+2个子帧内的LTE前导信号的虚检概率时的检测门限。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述虚检门限值和所述预设步长确定对N个子帧进行盲检测时的检测门限,其中,N大于0,包括:当N大于0时,将所述虚检门限值与所述预设步长的正整数倍相加,得到对N个子帧进行盲检测时的检测门限。6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述将所述漏检概率小于所述漏检概率指标时的检测门限确定为漏检门限值,包括:判断所述漏检概率是否小于所述漏检概率指标;若小于,将获取N个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限确定为所述漏检门限值;若不小于,对N+1个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N+1个子帧内的LTE前导信号的漏检概率,并根据获取N个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+1个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限;继续判断N+1个子帧内的LTE前导信号的漏检概率是否小于所述漏检概率指标;若不小于,继续对N+2个子帧进行盲检测,根据检测结果获取N+2个子帧内的LTE前导信号的漏检概率,并根据获取N+1个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+2个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限;继续判断N+2个子帧内的LTE前导信号的漏检概率是否小于所述漏检概率指标,直至N+M个子帧内的LTE前导信号的漏检概率小于所述漏检概率指标,将获取N+M个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限确定为所述漏检门限值,其中,M为正整数,N+M小于等于所述样本数量。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据获取N个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限和所述预设步长,确定获取N+1个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测门限,包括:将获取N个子帧内的LTE前导信号的漏检概率时的检测...
【专利技术属性】
技术研发人员:卜天,
申请(专利权)人:大唐联仪科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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