FOG邦定结构的阻抗检测电路及其检测方法技术

技术编号:11381881 阅读:92 留言:0更新日期:2015-05-01 04:53
本发明专利技术的FOG邦定结构的阻抗检测电路及其检测方法,包括:驱动芯片,所述驱动芯片包括一电压输入模块和一模数转换模块,所述FOG邦定结构电连接在所述电压输入模块与所述模数转换模块之间,所述电压输入模块向所述FOG邦定结构提供可调的电压,所述模数转换模块采集所述FOG邦定结构输出的电压;其中,所述FOG邦定结构的邦定阻抗为第一电阻R1,所述驱动芯片内部的模拟电阻为第二电阻R2,所述FOG邦定结构、所述电压输入模块以及所述模数转换模块之间连线上的等效电阻为第三电阻R3。本发明专利技术中,可以在工作状态下测试邦定阻抗,对邦定阻抗进行实时测试,保证显示面板稳定工作。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种FOG邦定结构的阻抗检测电路,其特征在于,包括:驱动芯片,所述驱动芯片包括一电压输入模块和一模数转换模块,所述FOG邦定结构电连接在所述电压输入模块与所述模数转换模块之间,所述电压输入模块向所述FOG邦定结构提供可调的电压,所述模数转换模块采集所述FOG邦定结构输出的电压;其中,所述FOG邦定结构的邦定阻抗为第一电阻R1,所述驱动芯片内部的模拟电阻为第二电阻R2,所述FOG邦定结构、所述电压输入模块以及所述模数转换模块之间连线上的等效电阻为第三电阻R3。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张志华
申请(专利权)人:昆山国显光电有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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