本发明专利技术公开一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值；首先定义单频点的DK DF值,然后为matlab程序指定双极点模型的最大频率点和最小频率点；最后根据公式计算相关其他频率点的DK DF值,并把结果输出到文件中。通过本发明专利技术能够得到材料的各个频点的参数，从而提高仿真精度,更好的服务于硬件设计和开发。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值；首先定义单频点的DK DF值,然后为matlab程序指定双极点模型的最大频率点和最小频率点；最后根据公式计算相关其他频率点的DK DF值,并把结果输出到文件中。通过本专利技术能够得到材料的各个频点的参数，从而提高仿真精度,更好的服务于硬件设计和开发。【专利说明】一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法
本专利技术涉及电子领域，PCB LAYOUT信号完整性设计及仿真领域，具体地说是一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法。
技术介绍
随着总线速率越来越高，PCB材料本身对信号的影响也越来越大，利用仿真手段对PCB进行建模也越来越困难。这主要是由于高频率信号下，PCB介质材料的损耗DK(介电常数)值会随着频率的变化而变化，DF (损耗角正切)值也会随着频率的变化而变化。而一般情况下我们只能拿到单个或几个频率点的DK DF值。 当前各大PCB材料厂商提供的PCB材料DK，DF基本上都是只有一个频率点的值，譬如1GHz，这种计算方法在总线速率较低的情况下是没有问题的，当总线速率提高到5GHz,此种计算方法就表现出了他的局限性，在总线信号对应的其他高频段也都表现出了计算不准确的现象，这种现象很大程度上减小了高速信号仿真评估的准确性。至此，在全频段范围内都存在的DK DF值的方法，便成为高速仿真迫切需要解决的问题。
技术实现思路
针对现有技术的不足之处，本专利技术提出了一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法。 本专利技术所述一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，解决所述技术问题采用的技术方案如下:利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值。 所述一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，首先定义单频率点的DK DF值，然后为matlab程序指定双极点模型的最大频率点和最小频率点；最后根据公式计算相关其他频率点的DK DF值，并把结果输出到文件中。 本专利技术的一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法与现有技术相比具有的有益效果是:本专利技术利用Matlab软件，可以通过数学公式的建模来推导出其他频点的DK DF值，就能够得到材料的各个频点的参数，从而提高仿真精度，更好的服务于硬件设计和开发。 【专利附图】【附图说明】 附图1为单频点DK DF推导多频点DK DF的方法的示意图。 【具体实施方式】 为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参考附图，对本专利技术所述一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法进一步详细说明。 本专利技术所述一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，其主要利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值。MATLAB是美国MathWorks公司出品的商业数学软件，用于算法开发、数据可视化、数据分析以及数值计算的高级技术计算语言和交互式环境。双极点模型是业界认可的一种推算材料DK DF的算法模型。 实施例1:本实施例所述一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，如附图1所示，其主要步骤如下:首先定义单频率点的DK DF值，比如IGHz频率点的DK DF值，然后为matlab程序指定双极点模型的最大频率点和最小频率点；最后根据公式计算相关其他频率点的DK DF值，并把结果输出到文件中。 实施本实施例所述方法时，可以从PCB介质材料厂商得到最高频率和最低频率，并找到该材料在IGhz时候的DK、DF的值；再利用程式分析其他频点的DK DF的值，最后输出到文件中。 本实施例所述单频点DK DF推导多频点DK DF的方法中，主要程序内容如下: %%%%输入区 DK1G=3.5DFlG=0.008%%%解析范围Radmin=1 %rad/sRadmax=200E9 %rad/sFmin=Radmin/(2*pi) Fmax=Radmax/(2*pi)ml=logl0(Radmin)m2=logl0(Radmax)%%%%运算区 ERilG=DKlG*DFlG X=(ERi1G*(m2-ml)*log(10))/(-pi/2) Y=DKlG- (_x*log(lell/(2*pi*le9)))/((m2_ml)*log(10))%%%%输出变量 F=Fmin:1E7:Fmax Frad=F*2*pi Er_f=y+ (-x*log (Radmax./Frad)) / ((m2_ml) *log (10)) _0.02 %0.02 为修正值 Eri_f= (x* (-pi/2))/((m2-ml) *log (10)) tand_f=Eri_f./Er_f save Er_f.txt -ascii F Er_f tand_f plotyy (F, Er_f, F, tand_f).上述【具体实施方式】仅是本专利技术的具体个案，本专利技术的专利保护范围包括但不限于上述【具体实施方式】，任何符合本专利技术的权利要求书的且所属
的普通技术人员对其所做的适当变化或替换，皆应落入本专利技术的专利保护范围。【权利要求】1.一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，其特征在于，利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值。2.根据权利要求1所述一种单频点DKDF推导多频点DK DF的方法，其特征在于，首先定义单频点的DK DF值，然后为matlab程序指定双极点模型的最大频率点和最小频率点；最后根据公式计算相关其他频率点的DK DF值，并把结果输出到文件中。3.根据权利要求2所述一种单频点DKDF推导多频点DK DF的方法，其特征在于，首先定义IGHz频率点的DK DF值。【文档编号】G06F17/50GK104504208SQ201410831509【公开日】2015年4月8日 申请日期:2014年12月29日 优先权日:2014年12月29日 【专利技术者】龚艳鸿 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种单频点DK DF推导多频点DK DF的方法，其特征在于，利用matlab软件对PCB介质材料进行建立双极点模型，由单频点的DK和DF的值来推导出各个频点的DK DF的值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：龚艳鸿，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37
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