【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测温电路,特别涉及一种采用PNP晶体管测温的高精度测温芯片电路。
技术介绍
在温度控制系统、工业系统、温度计、消费品、热感测系统等各种非极限温度的温度测试场合,经常需要耐磨耐碰,体积小,走线简单,使用方便,适用于各种狭小空间的数字测温设备。高精度测温芯片采用PNP晶体管作为测温元件,降低了工艺的限制,节约了成本,高精度测温芯片通信端口少,最少可以采用两线连接,同时可以并联多个该测温芯片,实现远距离多点测温。高精度数字测温电路的这些优点,使得其广泛应用于各种需要测温的场合。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题: 有鉴于此,本专利技术的目的是提供一种在当今流行的MOS工艺下,采用寄生PNP管进行温度测试,再对这些模拟值数字化,进一步量化成一一对应的数字温度,储存到片内储存器中,通过总线和外部主机通信,完成相应的功能。采用PNP测温,要实现高精度的测量值,就需要克服PNP本身的电流增益β小及饱和电流受工艺影响大、运放输入失调以及电流镜的失配等问题。 (二)技术方案 图2所示。该电路包括: 产生VBE部分203、206,由晶体管和能被修调的电阻组成,实现对工艺偏差的修调。 产生ΔVBE部分201、202、204、205,由DEMCLK、DEM及晶体管组成, 减少电流镜失配引起的误差。 电路采用动态匹配技术,斩波技术,抵消电流增益及对VBE进行修调等方法来减少误差,最后由生成公式(1-1),对式(1-1)数字量化降比特即得到数字温度值,如公式(1-2)。(其 ...
【技术保护点】
一种采用PNP晶体管测温的高精度测温芯片电路,其特征在于其主要由PNP检测电路101、模数转换器(ADC)部分102、数字电路部分103组成。
【技术特征摘要】
1.一种采用PNP晶体管测温的高精度测温芯片电路,其特征在于其主要由PNP检测电路101、模数转换器(ADC)部分102、数字电路部分103组成。
2.根据权利要求1所述的高精度测温芯片电路,其特点在于,PNP检测电路101中PNP管的尺寸都一样,运放采用了斩波的方法减少输入失调和低频噪声,MOS电流管采用了动态单...
【专利技术属性】
技术研发人员:不公告发明人,
申请(专利权)人:北京七芯中创科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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