试验系统及服务器技术方案

技术编号:11024199 阅读:94 留言:0更新日期:2015-02-11 12:49
服务器(300)保存多个配置数据(306)。测试器硬件(100)能够根据保存在可改写的非易失性存储器(102)中的配置数据(306)而改变至少其功能的一部分,且能够对DUT(4)供给电源电压、向DUT(4)发送信号、接收来自DUT(4)的信号。信息处理装置(200)在(i)装配试验系统(2)时,响应用户的输入而从服务器(300)中获取配置数据(306),并向非易失性存储器(102)中写入。另外信息处理装置(200)在(ii)进行DUT(4)的试验时,执行测试程序,对测试器硬件(100)进行控制,并且能够处理由测试器硬件(100)获取到的数据。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试验系统及服务器
[0001 ] 本专利技术涉及一种试验装置。
技术介绍
近几年,在各种各样的电子仪器中利用的半导体设备的种类涉及非常多的方面。作为半导体设备,举例(i) DRAM (Dynamic Random Access Memory:动态随机存取存储器)或闪存器等的存储设备、(ii) CPU (Central Processing Unit:中央处理器)或MPU(Micro-Processing Unit:微处理器)、微控制器等的处理器、或者(iii)数字/模拟混载设备、SoC(System On Chip:系统级芯片)等的多功能设备。为了试验这些半导体设备,利用半导体试验装置(以下、仅称为试验装置)。 半导体设备的试验项目主要地大致被分为功能验证试验(仅称为功能试验)和DC(直流)试验。在功能验证试验中,判定DUT (被试验设备)是否按照设计正常地动作,并且获取不良部位的确定、表示DUT的性能的评价值。在DC试验中,进行DUT的漏电流测定、动作电流(电源电流)测定、耐压等的测定。 功能验证试验、DC试验的具体性内容按照半导体设备的种类而呈多样化。 例如在存储器的功能验证试验中,首先在存储器中写入规定的测试模式。接着,从存储器中读出写入到DUT中的数据,并将这些数据与期待值进行比较,生成表示比较结果的合格/失效数据。即使是相同的存储器,在RAM和闪存器中,被写入的测试模式不同。另夕卜,进行写入、读出的单位或顺序也不同。 在D/A转换器的功能验证试验中,向其输入端子赋予以规定的范围扫描值的数字信号。然后,对于各个数字值而测定从D/A转换器中输出的模拟电压。其结果,测定出偏移电压、增益。 相反地,在A/D转换器的功能验证试验中,向其输入端子赋予以规定的范围扫描的模拟电压。然后,对于各个模拟电压而测定从A/D转换器中输出的数字值。其结果,测定出 INL(Integral Nonlinearity:积分非线性)、DNL(Differential Nonlinearity:微分非线性)。 微控制器、数字/模拟混载设备、SoC等在其内部包含RAM、闪存器、D/A转换器、A/D转换器,并且需要进行各自的功能验证试验。 另外在大多数的半导体设备中,执行边界扫描测试。 在本说明书中,将包括试验项目、测试模式的形式、测试顺序、测试条件等的概念称为试验算法。
技术实现思路
本专利技术要解决的问题 以往,在市场上出售按照半导体设备的种类、或者按照试验项目而专门设计或者最佳化的试验装置,作为用户的半导体设备的设计者、制造者需要购买与DUT的种类、试验项目相对应的试验装置。另外,为了通过某些试验装置来实施未以标准支持的试验,需要另外购买该试验中所需的追加性硬件,并且需要安装在试验装置中。 并且,试验装置不能以其单体进行动作,需要用于控制该试验装置的测试程序。在以往,为了执行所期望的试验,用户需要利用软件制作支援工具来制作用于控制试验装置的测试程序,从而这些成了用户的负担。 尤其半导体设备根据世代而其规格变更的比较多,按照每种规格有可能试验算法不同。换句话说用户在每次规格变更时,需要自己重新制作大量的测试程序。 并且,以往的试验装置主要是将大量生产时的检查作为目的而设计,因此尺寸较大,还非常昂贵。这一点成了达到大量生产阶段之前的设计和/或开发阶段中的、有效地应用试验装置的妨碍。在以往,想检查开发阶段的半导体设备的用户,需要单独准备电源装置、任意波形发生器、示波器或数字化仪,并且组合这些来构筑单独的试验系统,测定所期望的特性。 作为一个例子,假设有个用户只想检查处理器的漏电流。在以往的处理器用试验装置中也具备漏电流的测定功能,但是仅仅为了测定这些而购买、使用巨大并且昂贵的试验装置,不太现实。因而,在以往用户需要利用生成对于处理器的电源电压的电源装置、测定漏电流的电流表、用于将处理器控制成所期望的状态(矢量)的控制器来构筑测定系统。 另外想对A/D转换器进行评价的用户,需要利用生成对于A/D转换器的电源电压的电源装置、控制A/D转换器的输入电压的任意波形发生器来构筑测定系统。 如此,单独地构筑的试验系统缺乏通用性,另外其控制、得到的数据的处理也比较复杂。 此外在这里说明的问题不能当作是本领域技术人员的普通的技术认识,这些是本专利技术人单独研究的问题。 本专利技术是鉴于上述问题而完成的,其某些方案的举例的一个目的是为了提供能够解决上述的问题中的至少一个问题,更具体而言是为了提供能够简单且适当地对各种各样的种类的被试验设备进行试验的试验装置。 用于解决问题的方法 本专利技术的某些方案与对被试验设备进行试验的试验系统相关。试验系统具备服务器、测试器硬件、以及信息处理装置。 服务器保存多个配置数据,所述多个配置数据的各个配置数据用于向试验系统提供不同的功能。测试器硬件由与试验系统相关的服务提供者来设计、提供。测试器硬件包括可改写的非易失性存储器,能够根据保存在该非易失性存储器中的配置数据而改变至少其功能的一部分。测试器硬件至少能够对被试验设备供给电源电压、能够向被试验设备发送信号、能够接收来自被试验设备的信号。 信息处理装置在(i)装配试验系统时,获取适合于用户指定的试验内容的配置数据,向测试器硬件的非易失性存储器中写入配置数据。并且信息处理装置在(ii)进行被试验设备的试验时,执行测试程序,根据测试程序对测试器硬件进行控制,并且能够处理由测试器硬件获取到的数据。 在该方案中,测试器硬件并不具有限于特定的设备、试验项目的结构,而是设计成具有能够对应各种各样的设备、试验项目的通用性。并且,由服务提供者或者第三者来准备最适合于各种各样的种类的被试验设备、试验内容的配置数据,并且保存在服务器中。 用户选择最适合检查对象的被试验设备的配置数据、并且写入到测试器硬件的非易失性存储器中,从而能够对被试验设备进行试验。根据该方案,不需要按照被试验设备的种类、试验项目准备单独的试验装置(硬件),因此,能够减轻用户的成本上的负担。 另外,在开发新的设备、需要以往不存在的试验的情况下,能够由服务提供者或者第三者来提供用于实现该试验的配置数据。因而用户在测试器硬件的处理能力的范围内,能够对从现在到将来开发的设备进行试验。 另外在以往,在检查开发阶段的半导体设备时,需要单独准备电源装置、任意波形发生器、示波器、数字化仪等,并且对这些进行组合,测定所期望的特性,但是根据该试验系统,如果准备信息处理装置和测试器硬件,则能够简单且适当地对各种各样的半导体设备进行试验。 如果测试器硬件将设计开发阶段中的使用为前提,则使能够同时测定的被试验设备的数量、即通道数较少即可,另外能够将与信息处理装置的协调动作作为前提来进行设计,并且根据需要能够妥协其性能的一部分。因而测试器硬件与大量生产用的试验装置相t匕,能够廉价地、又非常紧凑地、具体而言以台式机大小、可携带地构成。 在这种情况下,根据用户的观点,能够按照每个研究者和/或开发者、或者每个研究开发组持有测试器硬件。根据服务提供者的观点,能够催促测试器硬件的普及,并且能够扩大收益的机会。 另外由于以往的试验装置比较庞大,因此,其移动不太现实,用户本文档来自技高网
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试验系统及服务器

【技术保护点】
一种试验系统,其对被试验设备进行试验,所述试验系统的特征在于,具备:服务器,其保存多个配置数据,所述多个配置数据的各个配置数据用于向所述试验系统提供不同的功能;测试器硬件,其包括可改写的非易失性存储器,能够根据保存在该非易失性存储器中的配置数据而改变至少其功能的一部分,且至少能够对所述被试验设备供给电源电压、能够向所述被试验设备发送信号、能够接收来自所述被试验设备的信号;以及信息处理装置,其被构成为,(i)在装配所述试验系统时,从所述服务器中获取适合于用户指定的试验内容的所述配置数据,向所述测试器硬件的所述非易失性存储器中写入所述配置数据,(ii)在进行所述被试验设备的试验时,执行测试程序,根据所述测试程序对所述测试器硬件进行控制,并且能够处理由所述测试器硬件获取到的数据。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.06.04 JP 2012-1275231.一种试验系统,其对被试验设备进行试验, 所述试验系统的特征在于,具备: 服务器,其保存多个配置数据,所述多个配置数据的各个配置数据用于向所述试验系统提供不同的功能; 测试器硬件,其包括可改写的非易失性存储器,能够根据保存在该非易失性存储器中的配置数据而改变至少其功能的一部分,且至少能够对所述被试验设备供给电源电压、能够向所述被试验设备发送信号、能够接收来自所述被试验设备的信号;以及 信息处理装置,其被构成为,(i)在装配所述试验系统时,从所述服务器中获取适合于用户指定的试验内容的所述配置数据,向所述测试器硬件的所述非易失性存储器中写入所述配置数据,(ii)在进行所述被试验设备的试验时,执行测试程序,根据所述测试程序对所述测试器硬件进行控制,并且能够处理由所述测试器硬件获取到的数据。2.根据权利要求1所述的试验系统,其特征在于, 所述服务器具备: 存储部,其保存所述多个配置数据及数据库; 数据库登记部,其接收来自用户的与所述试验系统相关的服务的利用申请,并将所述用户的信息及所述用户指定的所述信息处理装置的识别信息登记在所述数据库中; 认证部,其进行所述用户的登录认证; 列表显示部,其显示所述多个配置数据的列表; 下载控制部,其响应来自所述用户的所述配置数据的下载要求,向所述信息处理装置提供所述配置数据;以及 授权码发行部,其从所述用户接收所述配置数据的使用许可的申请,对于应该许可的用户发行第一授权码。3.根据权利要求2所述的试验系统,其特征在于, 所述信息处理装置中执行的所述测试程序由控制程序和程序模块的组合构成,所述程序模块嵌入到所述控制程序中且规定试验算法, 所述服务器的所述存储部中保存有作为多个所述程序模块的、各自规定不同的试验算法的多个程序模块, 所述列表显示部显示所述多个程序模块的列表, 所述下载控制部响应来自用户的所述程序模块的下载要求,向所述信息处理装置提供所述程序模块, 所述授权码发行部从所述用户接收所述程序模块的使用许可的申请,对于应该许可的用户发行第二授权码。4.根据权利要求1所述的试验系统,其特征在于, 与所述试验系统相关的服务提供者在由用户使用配置数据之前,发行包括成为许可对象的所述配置数据的识别信息和应该许可使用的所述信息处理装置的识别信息的第一授权码, 所述信息处理装置获取保存在当前连接的所述测试器硬件的所述非易失性存储器中的所述配置数据的信息, 在存在包括该配置数据的识别信息的所述第一授权码的情况下,能够对该第一授权码中包括的所述信息处理装置的识别信息是否与自身的识别信息一致进行判定, 所述测试器硬件在一致的情况下,能够根据所述配置数据而进行动作。5.根据权利要求4所述的试验系统,其特征在于, 所述第一授权码还包括表示所述配置数据的使用被许可的使用许可期间的数据,所述信息处理装置能够对所述配置数据的使用时刻是否包括在所述使用许可期间内进行判定, 所述测试器硬件在所述使用时刻包括在所述使用许可期间内的情况下,能够根据所述配置数据而进行动作。6.根据权利要求1至5中任一项所述的试验系统,其特征在于, 所述信息处理装置中执行的所述测试程序由控制程序和程...

【专利技术属性】
技术研发人员:木村学渡边利明铃木武久
申请(专利权)人:株式会社爱德万测试
类型:发明
国别省市:日本;JP

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