断料检知器制造技术

技术编号:11004085 阅读:170 留言:0更新日期:2015-02-05 10:50
本实用新型专利技术关于一种断料检知器,供设于一产品成型机具,该产品成型机具包括至少一供成型产品的模具及一供自该至少一模具中取出产品的机械手臂,该断料检知器包括至少一非接触式侦测模组,各该非接触式侦测模组包括一发射部、一接收部及一电性连接该接收部的判断单元,该发射部可控制地朝位于该机械手臂上的该产品或该模具内用于成型该产品的模穴面发射一侦测源,该判断单元根据该接收部接收该侦测源的状态判断成型该产品的模具内是否有残料。

【技术实现步骤摘要】
断料检知器
本技术与检知器有关,特别是有关于一种断料检知器。
技术介绍
随着科技的发展,成型机多已朝向自动化发展,所有程序皆由电脑独立控制,成型作业中,若成型品从模穴取出时未顺利脱模,而机具仍持续作动,将导致模具压伤,造成无法修复的损失;现今产品成型机上通常会装设一种检知器,该检知器是透过监视摄影机撷取模穴内影像来判断是否有残料留于模穴中,进而控制驱动装置进行下一动作。中国台湾专利1389791及中国专利CN201717996U所揭露的断料检知器即属此类。 然而,在此类已知断料检知器中,该监视摄影机易受外在环境的光线变化、人员走动的阴影或机具震动等因素影响而造成误判;再者,利用CCD镜头为主的该监视摄影机,对于透明物件的辨识率极差,且使实用性大大降低,存在亟待改善的缺弊。 因此,有必要提供一种新颖且具有进步性的断料检知器,以解决上述的问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种断料检知器,可通过不易受环境干扰的讯号作为侦测源,并利用侦测源的直线前进、反射或耗时的特性来直接或间接判断模穴中是否留有残料,藉此达到降低检知器因外在环境因素而误判的风险;再者,该断料检知器在侦测产品时,完全不会受产品的材质或颜色影响。 为实现上述目的,本技术采取以下技术方案: 本技术提供一种断料检知器,供设于一产品成型机具,该产品成型机具包括至少一供成型产品的模具及一供自该至少一模具中取出产品的机械手臂,该断料检知器包括至少一非接触式侦测模组,各该非接触式侦测模组包括一发射部、一接收部及一电性连接该接收部的判断单元,该发射部可控制地朝位于该机械手臂上的该产品发射一侦测源,该判断单元根据该接收部接收该侦测源的状态判断成型该产品的模具内是否有残料。 所述非接触式侦测模组为光电感测器,所述发射部为一投光器,所述接收部为一受光器。 所述投光器及所述受光器分别设于所述产品的相对两侧。 所述投光器及所述受光器设于所述产品的同侧。 所述光电感测器另包括一反射片,该反射片与所述投光器及所述受光器设于所述产品的相对两侧。 所述非接触式侦测模组为超音波感测器,所述发射部为一发射电路,所述接收部为一接收电路。 所述发射电路及所述接收电路设于所述产品的同侧。 所述发射电路及所述接收电路分别设于所述产品的相对两侧。 所述非接触式侦测模组为雷射感测器,所述发射部为一雷射发射器,所述接收部为一雷射接收器。 所述雷射发射器及所述雷射接收器设于所述产品的同侧。 本技术另提供一种断料检知器,供设于一产品成型机具,该产品成型机具包括至少一供成型产品的模具,该断料检知器包括:至少一非接触式侦测模组。各该非接触式侦测模组包括一发射部、一接收部及一电性连接该接收部的判断单元,该发射部可控制地发射一侦测源,该侦测源发射至该模具内用于成型该产品的模穴面后反射至该接收部接收,该判断单元根据该接收部接收该侦测源的状态判断该模穴面上是否有残料。 所述非接触式侦测模组为光电感测器,所述发射部为一投光器,所述接收部为一受光器,所述投光器及所述受光器设于该模穴面的同侧。 所述非接触式侦测模组为超音波感测器,所述发射部为一发射电路,所述接收部为一接收电路,所述发射电路及所述接收电路设于该产品的同侧。 所述非接触式侦测模组为雷射感测器,所述发射部为一雷射发射器,所述接收部为一雷射接收器,所述雷射发射器及所述雷射接收器设于该产品的同侧。 本技术的有益效果是:本技术断料检知器可通过不易受环境干扰的讯号作为侦测源,并利用侦测源的直线前进、反射或耗时的特性来直接或间接判断模穴中是否留有残料,藉此达到降低检知器因外在环境因素而误判的风险;再者,该断料检知器在侦测产品时,完全不会受产品的材质或颜色影响。 【附图说明】 图1为本技术一较佳实施例的产品示意图。 图2为本技术一较佳实施例的示意图。 图3为本技术一较佳实施例的局部示意图。 图4为本技术一较佳实施例的非接触式侦测模组示意图。 图4a为本技术一较佳实施例的发射部示意图。 图4b为本技术一较佳实施例的接收部示意图。 图5为本技术另一较佳实施例的示意图。 图6为本技术另一较佳实施例的一非接触式侦测模组示意图。 图7为本技术又一较佳实施例的局部示意图。 图8为本技术又一较佳实施例的非接触式侦测模组示意图。 图9为本技术一较佳实施例的一超音波感测器示意图。 图10为本技术一较佳实施例的另一超音波感测器示意图。 图11为本技术一较佳实施例的一雷射感测器示意图。 图12为本技术再一较佳实施例的示意图。 图13为本技术再一较佳实施例的一非接触式侦测模组示意图。 图14为本技术一较佳实施例的时间差法示意图。 图15为本技术一较佳实施例的三角测距法示意图。 附图标号:1:断料检知器;10:广品成型机具;11 旲具;110 旲穴面;12:广品;13:机械手臂;20:发射部;21:接收部;22:判断单元;23:侦测源;24:反射片;25:计时器。 【具体实施方式】 以下将通过较佳实施例说明本技术的结构特征及其预期达成的功效,但非用以限制本技术所欲保护的范畴,合先叙明。 请参考图1至4,其显示本技术的一较佳实施例,本技术的断料检知器I供设于一产品成型机具10,该产品成型机具10包括至少一供成型产品12的模具11及一供自该至少一模具11中取出产品12的机械手臂13,该断料检知器I包括至少一非接触式侦测模组,各该非接触式侦测模组包括一发射部20、一接收部21及一电性连接该接收部的判断单元22,该发射部20可控制地朝位于该机械手臂13上的该产品12发射一侦测源23,该判断单元22根据该接收部21接收该侦测源23的状态判断成型该产品12的模具11内是否有残料,更详细地说,该侦测源23朝该产品12发射,若该产品12有破损,则该侦测源23可穿过;若该产品12为完整状态,该侦测源23则会被该产品12阻挡。 在本实施例中,该非接触式侦测模组为光电感测器,该发射部20为一投光器,该接收部21为一受光器,进一步说,该投光器投出的光源为可见光,再更进一步说,该光源也可为不可见光,以避免该光电感测器受外在环境的光线干扰;可理解的是,在另一实施例中,该非接触式侦测模组可为超音波感测器,该发射部20为一发射电路,该接收部21为一接收电路,该发射电路可发射一超音波,并由该接收电路接收该超音波,进一步说,若以超音波作为侦测源,可避免周遭的温度以及环境中的紫外光和红外光影响判读结果;在另一实施例中,该非接触式侦测模组可为雷射感测器,该发射部20为一雷射发射器,该接收部21为一雷射接收器,可理解的是,若以雷射源作为侦测源,可让侦测源在行进过程中,不易散失能量,侦测更为精准。 请参考图3至4,该投光器(发射部20)及该受光器(接收部21)分别设于该产品12的相对两侧,更详细地说,在此实施例中,该投光器(发射部20)设于该模具11上,该产品12由该机械手臂13夹取,该受光器(接收部21)设于机械手臂13上,且该投光器(发射部20)、该受光器(接收部21)及该产品12为直线本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种断料检知器,供设于一产品成型机具,该产品成型机具包括至少一供成型产品的模具及一供自该至少一模具中取出产品的机械手臂,其特征在于,该断料检知器包括:至少一非接触式侦测模组,各该非接触式侦测模组包括一发射部、一接收部及一电性连接该接收部的判断单元,该发射部可控制地发射一侦测源,该侦测源朝位于该机械手臂上的该产品发射,该判断单元根据该接收部接收该侦测源的状态判断成型该产品的模具内是否有残料。

【技术特征摘要】
1.一种断料检知器,供设于一产品成型机具,该产品成型机具包括至少一供成型产品的模具及一供自该至少一模具中取出产品的机械手臂,其特征在于,该断料检知器包括: 至少一非接触式侦测模组,各该非接触式侦测模组包括一发射部、一接收部及一电性连接该接收部的判断单元,该发射部可控制地发射一侦测源,该侦测源朝位于该机械手臂上的该产品发射,该判断单元根据该接收部接收该侦测源的状态判断成型该产品的模具内是否有残料。2.如权利要求1所述的断料检知器,其特征在于,所述非接触式侦测模组为光电感测器,所述发射部为一投光器,所述接收部为一受光器。3.如权利要求2所述的断料检知器,其特征在于,所述投光器及所述受光器分别设于所述产品的相对两侧。4.如权利要求2所述的断料检知器,其特征在于,所述投光器及所述受光器设于所述产品的同侧。5.如权利要求4所述的断料检知器,其特征在于,所述光电感测器另包括一反射片,该反射片与所述投光器及所述受光器设于所述产品的相对两侧。6.如权利要求1所述的断料检知器,其特征在于,所述非接触式侦测模组为超音波感测器,所述发射部为一发射电路,所述接收部为一接收电路。7.如权利要求6所述的断料检知器,其特征在于,所述发射电路及所述接收电路设于所述产品的同侧。8.如权利要求6所述的断料检知器,其特征在于,所述发射电路及所述接收电路分别设于所述产品的...

【专利技术属性】
技术研发人员:庄健民曾羣伦袁嘉廷
申请(专利权)人:新钜科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:中国台湾;71

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