光模块老化和温度循环系统及其工作流程技术方案

本发明专利技术涉及一种光模块老化和温度循环系统，其特征在于，包括光模块接口、单片机、电源接口、通信接口、电源、监控装置以及温度控制系统；多个光模块均连接至光模块接口，光模块接口与单片机连接，单片机通过通信接口与监控装置连接，监控装置与电源和温度控制系统连接；其中，电源通过电源接口同时与单片机和光模块接口连接。本发明专利技术还提供一种光模块老化和温度循环系统的工作流程。光模块老化和温度循环系统，在光模块老化过程中，通过单片机查找并控制光模块，实时监控老化过程中光模块的状态，根据环境的变化调整老化或温度循环状态，并且在出现问题时及时报警，避免损失，从而提高光模块的可靠性以及稳定性。

【技术实现步骤摘要】
光模块老化和温度循环系统的工作流程
本专利技术涉及一种光模块老化和温度循环系统及其工作流程，属于光通信领域。
技术介绍
随着光通信技术的发展，人们对网络的需求日益旺盛，在追求上网速度的同时，也越来越注重网络的稳定性以及可靠性，而在整个光网络中，光模块具有十分重要的地位，光模块的可靠性以及稳定性决定了网络的质量。光模块在批量生产之前都会进行可靠性试验，验证光模块在设计、材料以及工艺方面的缺陷，以评价产品在实际使用、运输和储存的环境条件下的性能，发现问题及时解决，在可靠性试验完成后，进行批量生产时，对光模块的老化及温度循环筛选至关重要，通过这种方式筛除早期失效达到提高可靠性的目的，传统的方法是将光模块放在老化和温度循环环境中，给光模块加上电，经过12或者24小时以后取出，再进行后续生产，这种方式在整个老化及温度循环过程中光模块的状态不确定，容易出现环境温度过高或偏低等现象，工作电压等参数不确定，给老化、温度循环带来了隐患，从而达不到早期筛选的作用。因此有必要设计一种光模块老化和温度循环系统及其工作流程，以克服上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术之缺陷，提供了一种可以实时监控光模块状态的光模块老化和温度循环系统及其工作流程，其可提高光模块的可靠性以及稳定性。本专利技术是这样实现的：本专利技术提供一种光模块老化和温度循环系统的工作流程，该系统包括光模块接口、单片机、电源接口、通信接口、电源、监控装置以及温度控制系统，多个光模块均连接至所述光模块接口，所述光模块接口与所述单片机连接，所述单片机通过所述通信接口与所述监控装置连接，所述监控装置与所述电源和所述温度控制系统连接，其中，所述电源通过所述电源接口同时与所述单片机和所述光模块接口连接，所述光模块接口与所述单片机直接连接有模块选中线、时钟线、地线以及数据线，该工作流程包括以下步骤：步骤一：通过监控装置查询光模块类型，并确认老化或温度循环条件；步骤二：通过监控装置设置老化或温度循环条件；步骤三：通过监控装置查询光模块老化或温度循环状态；步骤四：判断光模块老化或温度循环状态是否正常，若不正常，则返回至步骤二，重新设置老化或温度循环条件；步骤五：若光模块老化或温度循环状态正常，则开始进行老化或温度循环，并将开始时间写入光模块内部；步骤六：实时判断光模块老化或温度循环状态是否满足要求；若不满足，则调整老化或温度环境，直至满足要求；步骤七：结束老化或温度循环，并将结束时间写入光模块内部，并记录老化或温度循环时间。进一步地，在老化和温度循环过程中，当温度或电压在光模块正常工作范围的5%以内时，监控装置不做处理；当大于5%小于10%时，上报警告状态，并对环境进行调整；当超过10%以上时，上报告警，必要时切断电源。进一步地，由于起始温度没有达到光模块温度要求，在温度达到要求以前，不计入老化时间，直到温度达到要求，监控装置开始计时，并确定老化开始时间。进一步地，单片机通过模块选中线，选中不同的光模块，通过时钟线、地线和数据线读取光模块的实时温度、电压、偏置电流以及发射功率，并通过通信接口反馈给监控装置，在老化过程中实时监控光模块的工作状态本专利技术具有以下有益效果：所述光模块老化和温度循环系统，在光模块老化过程中，通过单片机查找并控制光模块，实时监控老化过程中光模块的状态，根据环境的变化调整老化或温度循环状态，并且在出现问题时及时报警，避免损失，从而提高光模块的可靠性以及稳定性。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。图1为本专利技术实施例提供的光模块老化和温度循环系统的结构框图；图2为本专利技术实施例提供的光模块老化和温度循环系统的工作流程的示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1和图2，本专利技术实施例提供一种光模块老化和温度循环系统，包括光模块接口、单片机、电源接口、通信接口、电源、监控装置以及温度控制系统。如图1，多个光模块（指光模块1～光模块N）均连接至所述光模块接口，所述光模块接口与所述单片机连接，在本较佳实施例中，所述光模块接口通过I2C总线与所述单片机连接，其中，I2C(Inter－IntegratedCircuit)总线是一种两线式串行总线，用于连接微控制器及其外围设备。所述单片机通过所述通信接口与所述监控装置连接，实现监控光模块电压、温度、偏置电流和发射功率上报等信息，并根据老化和温度循环环境，将光模块老化、温度循环起止时间记录到光模块内部。所述监控装置与所述电源和所述温度控制系统连接，通过光模块的状态实时调整系统电源电压和温度。其中，所述电源通过所述电源接口同时与所述单片机和所述光模块接口连接，实现给光模块供电。另外，所述光模块接口与所述单片机直接连接有模块选中线、时钟线、地线以及数据线。图2是本专利技术提供的光模块老化和温度循环系统的工作流程示意图，其中，工作流程示意图的温循为温度循环的简称。该流程包括以下步骤：步骤一：通过监控装置查询光模块类型，并确认老化或温度循环条件；步骤二：通过监控装置设置老化或温度循环条件；步骤三：通过监控装置查询光模块老化或温度循环状态；步骤四：判断光模块老化或温度循环状态是否正常，若不正常，则返回至步骤二，重新设置老化或温度循环条件；步骤五：若光模块老化或温度循环状态正常，则开始进行老化或温度循环，并将开始时间写入光模块内部；步骤六：实时判断光模块老化或温度循环状态是否满足要求；若不满足，则调整老化或温度环境，直至满足要求；步骤七：结束老化或温度循环，并将结束时间写入光模块内部，并记录老化或温度循环时间。如图2，监控装置查询光模块类型并确认老化、温度循环时间及条件，然后设置电源及温度控制系统，在环境未达到需要的条件以前，查询光模块老化或温度循环状态并判断是否符合光模块要求，如不符合模块老化或温度循环要求，需要重新设置环境指标，直到满足光模块老化或温度循环要求为止。开始老化或温度循环以后，将起始时间写入模块内部，开始计时，在老化或温度循环过程中，实时判断环境是否满足光模块要求，如不满足，将对老化或温度循环环境进行微调，直到满足要求，当老化或温度循环结束以后，将结束时间、老化或温度循环条件、总时间以及温度循环次数写入模块内部信息，供查询。如图1，光模块老化和温度循环系统的具体工作流程如下：1.监控装置的数据库内存有所有光模块老化或温度循环环境配置要求，光模块插入光模块接口，置于老化或温度循环环境中以后，监控装置通过通信接口和单片机查找光模块型号，确认该型号的电源以及老化、温度循环环境配置要求；2.监控装置设置光模块的老化、温度循环环境，控制电源输出电压和电流，将环境温度设置为光模块老化、温度循环需要的温度；3.电源通过电源接口以及光模块接口给单片机和光模块供电，实现光本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光模块老化和温度循环系统，其特征在于，包括光模块接口、单片机、电源接口、通信接口、电源、监控装置以及温度控制系统；多个光模块均连接至所述光模块接口，所述光模块接口与所述单片机连接，所述单片机通过所述通信接口与所述监控装置连接，所述监控装置与所述电源和所述温度控制系统连接；其中，所述电源通过所述电源接口同时与所述单片机和所述光模块接口连接。

【技术特征摘要】
1.一种光模块老化和温度循环系统的工作流程，该系统包括光模块接口、单片机、电源接口、通信接口、电源、监控装置以及温度控制系统，多个光模块均连接至所述光模块接口，所述光模块接口与所述单片机连接，所述单片机通过所述通信接口与所述监控装置连接，所述监控装置与所述电源和所述温度控制系统连接，其中，所述电源通过所述电源接口同时与所述单片机和所述光模块接口连接，所述光模块接口与所述单片机直接连接有模块选中线、时钟线、地线以及数据线，其特征在于，该工作流程包括以下步骤：步骤一：通过监控装置查询光模块类型，并确认老化或温度循环条件；步骤二：通过监控装置设置老化或温度循环条件；步骤三：通过监控装置查询光模块老化或温度循环状态；步骤四：判断光模块老化或温度循环状态是否正常，若不正常，则返回至步骤二，重新设置老化或温度循环条件；步骤五：若光模块老化或温度循环状态正常，则开始进行老化或温度循环，并将开始时间写入光模块内...

【专利技术属性】
技术研发人员：穆磊，田军，李岩，陈龙，
申请(专利权)人：武汉电信器件有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42