间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构及制作方法技术

技术编号:10979380 阅读:155 留言:0更新日期:2015-01-30 16:03
本发明专利技术揭示了一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构的制作方法,包括如下步骤:准备一衬底,在氢气气氛下高温处理衬底;在处理好的衬底表面依次生长缓冲层、n-GaN层;在n-GaN层上周期性生长MQW有源层;在MQW有源层上依次生长p-GaN及P型接触层;所述MQW有源层由至少两个多量子阱层组成,每个所述多量子阱层由InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层构成,且每个多量子阱中的各层均在同温下生长。本发明专利技术经过这中间的间隔退火处理,其晶面取向更为统一,晶格质量更高;得到高质量的量子阱结构层,发光效率提高10%以上,节省了大量原有在多量子阱层中升降温时间,产能提升明显;使低温GaN材料的表面平滑化,从而实现垒的均匀二维生长,得到高质量的多量子阱材料。

【技术实现步骤摘要】
间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构及制作方法
本专利技术属于LED外延技术生长领域,尤其涉及一种多次间断式退火重结晶生长多量子阱LED外延结构及制作方法。
技术介绍
LED目前已经进入商业化生产阶段,如何在获得高质量外延片的前提下,进一步缩短外延片的生长时间以提高产能已经成为业界的一个重点。目前均采用MOCVD进行外延片的商业化生产,但由于InGaN量子阱和GaN量子垒生长的温度气氛存在差别,InGaN量子阱层在高温环境及H2生长氛围下In易析出及解离,不能有效形成器件及量子阱层,而GaN量子垒层则需在高温下生长,才能获得较高的晶体质量。所以为能同时得到高质量的InGaN阱材料和GaN垒材料,需要采用不同的温度生长多量子阱。现在的生长工艺中,一般使用温差环境生长LED多量子阱,即在不同的温度下生长阱和垒,如专利201210124792.4,在750-900℃范围内生长InGaN阱,在800-1000℃的温度范围内生长GaN垒。这种生长机制本身即是个矛盾的垒晶过程。但为了达到市场的波长需求,需要相对的低温生长量子阱层,为了达到较高内量子效率,较好束缚电子空穴对在量子阱中辐射复合发光,又需要在高温下生长量子垒层,故在生长InGaN/GaN多量子阱过程中需要不断的切换阱和垒生长所需的温度,但温度越高对于InGaN量子阱层的破坏就越严重。这个矛盾是制约现在GaN基LED外延技术发展的主要瓶颈之一,同时,在这种生长模式下,由于需要不停的切换高低生长温度,需要大量的温度Ramp,导致现有LED产业的外延产能整体偏低;考虑到在MOCVD外延生长LED整个外延工艺中,MQW生长时间占据了总外延片生长时间的一半,所以如何缩短MQW生长时间又能得到高质量的垒材料,成为提高GaN基LED外延片生产效率的一个主要因素。在目前的工艺条件下同温生长多量子阱,又无法满足结构设计对于高质量量子垒的需求,形成的量子垒位错密度大,无法有效形成电子空穴对有效势垒,影响发光效率。
技术实现思路
鉴于上述现有技术存在的缺陷,本专利技术的目的是提出一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构及制作方法。本专利技术的目的,将通过以下技术方案得以实现:一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构的制作方法,包括如下步骤:S1,准备一衬底,在氢气气氛下高温处理衬底;S2,在处理好的衬底表面依次生长缓冲层、n-GaN层;S3,在n-GaN层上周期性生长MQW有源层;S4,在MQW有源层上依次生长p-GaN及P型接触层;所述S3中MQW有源层由至少两个多量子阱层组成,每个所述多量子阱层由InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层构成,且每个多量子阱中的各层均在同温下生长。优选地,所述MQW有源层的生长包括如下步骤:S31,在气氛为氮气环境下,生长厚度为1-5nm的第一InGaN量子阱层,所述氮气的流量为20-70L;S32,在生长完的第一InGaN量子阱层上,继续生长厚度为1-3nm的第一GaN保护层,以用于保护InGaN量子阱层中In组分在随后的氢气生长氛围中发生解离;S33,切换气氛,采用间断式退火生长厚度为5-25nm的GaN量子垒层;以上各层的生长条件相同,包括温度与压力,均为,温度750~900℃,压力50~1000mbar。优选地,所述S33中的GaN量子垒层包括至少两层相互间隔设置的GaN量子垒薄层与量子垒退火层。优选地,所述S33中GaN量子垒层的生长采用间隔式退火生长,包括如下步骤:S331,通入MO源,生长厚度为1-3nm的GaN量子垒薄层,所述载气为氮气或氮气与氢气混合气;S332,生长完毕后停止通MO源,切换气体氛围为氢气,其余生长条件不变,保持10-60S的间隔,使上一步骤生长的GaN量子垒薄层在氢气氛围下进行退火处理,形成量子垒退火层;退火温度也保持一致,该温度下为GaN退火,进行有效晶格重铸的最佳温度,所述退火处理的时间即是停止通MO源的时间。所述的间断式生长GaN量子垒层,具体是指,GaN量子垒层不采用一次性长完,中间间隔一定退火时间,采用不同的载气氛围。由于退火处理使已经生长的GaN量子垒层中质量不佳的晶格部分,在随后的退火重铸步骤中,被及时有效的解离分解出结构层,可及时处理掉质量不高的晶格部分,保留下晶格质量较高的功能层,进行完该退火重铸处理后,再继续生长下一层GaN量子垒层,如此往复,即可得到所需要的一定厚度的,但有较高质量的GaN量子垒层。S333,完成以上一层量子垒层的生长,重复S331、S332进行后续量子垒层的生长。5.根据权利要求4所述的间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构的制作方法,其特征在于:所述量子垒层中的每个GaN量子垒薄层厚度相同。6.一种间断式退火同温生长的多量子阱LED外延结构,其特征在于:包括一衬底,所述衬底上依次生长有缓冲层、n-GaN层、MQW有源层、p-GaN及P型接触层,所述MQW有源层包括至少两层多量子阱层,所述多量子阱层由下至上依次包括InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层,所述GaN量子垒层由至少一层间隔生长的GaN量子垒薄层与量子垒退火层。本专利技术突出效果为:(1)、经过这中间的间隔退火处理,其晶面取向更为统一,晶格质量更高;(2)得到高质量的同温量子阱结构层,且其发光效率较原有的差温式生长的MQW结构层高出10%以上,效果明显。(3)节省了大量原有在多量子阱层中升降温时间,产能提升明显;(4)使低温GaN材料的表面平滑化,从而实现垒的均匀二维生长,得到高质量的多量子阱材料;(5)采用本专利技术生长的新型同温量子阱层生长LED外延片,单Run次时间节省15min。(6)外延片制作成10mil*16mil芯片后亮度得到明显的改善,发光效率较原有的差温式生长的MQW结构层高出10%。以下便结合实施例附图,对本专利技术的具体实施方式作进一步的详述,以使本专利技术技术方案更易于理解、掌握。附图说明图1是本实施例中的同温量子阱结构示意图。图2是本实施例中同温生长量子阱过程中载气切换时的生长示意图。图3是传统差温式生长多量子阱层后AFM量测量子垒的表面形貌图。图4是采用间断式多次重结晶退火生长同温多量子阱层结构后AFM量测量子垒的表面形貌图。具体实施方式本专利技术提供了一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构及制作方法,本方法采用Aixtron公司MOCVD设备进行外延生长,使用NH3、TMGa/TEGa、TMIn分别作为N、Ga、In源。一种间断式退火同温生长的多量子阱LED外延结构,包括一衬底,所述衬底上依次生长有缓冲层、n-GaN层、MQW有源层、p-GaN及P型接触层,所述MQW有源层包括至少两层多量子阱层,一般采用5-20个,本实施例中生长为15个。所述多量子阱层由下至上依次包括InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层,所述GaN量子垒层由至少一层间隔生长的GaN量子垒薄层与量子垒退火层。一般为达到实际的发光需求,采用3-20层GaN量子垒薄层。以上所述的外延结构的制作方法,包括如下步骤:S1,准备一衬底,在氢气气氛下高温处理衬底;S2,在处理好的衬底表面依次生长缓冲层、n-GaN层;S3,在n-GaN层上周期性生长MQW有源层;所述MQW有源层由至少两个多量本文档来自技高网
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间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构及制作方法

【技术保护点】
一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构的制作方法,包括如下步骤:S1,准备一衬底,在氢气气氛下高温处理衬底;S2,在处理好的衬底表面依次生长缓冲层、n‑GaN层;S3,在n‑GaN层上周期性生长MQW有源层;S4,在MQW有源层上依次生长p‑GaN及P型接触层;其特征在于:所述S3中MQW有源层由至少两个多量子阱层组成,每个所述多量子阱层由InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层构成,且每个多量子阱中的各层均在同温下生长。

【技术特征摘要】
1.一种间断式退火同温生长多量子阱LED外延结构的制作方法,包括如下步骤:S1,准备一衬底,在氢气气氛下高温处理衬底;S2,在处理好的衬底表面依次生长缓冲层、n-GaN层;S3,在n-GaN层上周期性生长MQW有源层;S4,在MQW有源层上依次生长p-GaN及P型接触层;其特征在于:所述S3中MQW有源层由至少两个多量子阱层组成,每个所述多量子阱层由InGaN量子阱层、GaN保护层及GaN量子垒层构成,且每个多量子阱中的各层均在同温下生长;所述MQW有源层的生长包括如下步骤:S31,在气氛为氮气环境下,生长厚度为1-5nm的第一InGaN量子阱层,所述氮气的流量为20-70L;S32,在生长完的第一InGaN量子阱层上,继续生长厚度为1-3nm的第一GaN保护层,以用于保护InGaN量子阱层中In组分在随后的氢气生长氛围中发生解离;S33,切换气氛,采用间断式退火生长...

【专利技术属性】
技术研发人员:南琦王怀兵王辉吴岳傅华
申请(专利权)人:苏州新纳晶光电有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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