一种实现分区迁移的方法、系统及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种实现分区迁移的方法、系统及装置，其中，该方法包括：上位机向下位机发送分区数据采集指令；下位机响应分区数据采集指令采集样本分区数据，并对样本分区数据进行打包；上位机向下位机发送分区数据提取指令使下位机将打包的分区数据传送至上位机；上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件；上位机将固件传送至另一下位机，使另一下位机对固件进行分区还原，将样本分区数据迁移至另一下位机。利用本发明专利技术，可以在开发系统中直接根据设计需要获取样本分区数据，并对该样本分区数据进行处理以整体迁移至待生产的产品中进行分区还原，而避免了在改变系统配置时需要重新设计和编写程序所带来的不便，从而提高了项目开发的效率，同时节省人力成本与时间成本。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种实现分区迁移的方法、系统及装置，其中，该方法包括：上位机向下位机发送分区数据采集指令；下位机响应分区数据采集指令采集样本分区数据，并对样本分区数据进行打包；上位机向下位机发送分区数据提取指令使下位机将打包的分区数据传送至上位机；上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件；上位机将固件传送至另一下位机，使另一下位机对固件进行分区还原，将样本分区数据迁移至另一下位机。利用本专利技术，可以在开发系统中直接根据设计需要获取样本分区数据，并对该样本分区数据进行处理以整体迁移至待生产的产品中进行分区还原，而避免了在改变系统配置时需要重新设计和编写程序所带来的不便，从而提高了项目开发的效率，同时节省人力成本与时间成本。【专利说明】—种实现分区迁移的方法、系统及装置
本专利技术涉及系统开发
，尤其涉及一种实现分区迁移的方法、系统及装置。
技术介绍
在进行产品的系统开发时，例如，A厂商需要根据客户需求定制一套配置好桌面布局、预装应用、系统配置的软件，并导入到所生产的设备中。在现有技术下，一般可以通过以下方法实现:修改软件，按照客户需求进行逐条配置。但是，此方法若遇到一些比较难预制的条目，势必要增加开发成本，推迟项目进度。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术提供一种克服上述问题或者至少部分解决上述问题的实现分区迁移的方法、系统及装置。 本专利技术提供一种分区迁移方法，所述方法包括:上位机向下位机发送分区数据采集指令；所述下位机响应所述分区数据采集指令采集样本分区数据，并对所述样本分区数据进行打包；所述上位机向所述下位机发送分区数据提取指令使所述下位机将打包的分区数据传送至所述上位机；所述上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件；所述上位机将所述固件传送到至少一另一下位机，使所述至少一另一下位机对所述固件进行分区还原，将所述样本分区数据迁移至所述至少一另一下位机。 其中，所述上位机向下位机发送分区数据采集指令的步骤具体为:所述上位机通过android调试桥ADB向所述下位机发送所述分区数据采集指令。 其中，所述下位机响应所述分区数据采集指令采集样本分区数据，并对所述样本分区数据进行打包的步骤具体为:所述下位机响应所述分区数据采集指令采集样本分区数据，并将所述样本分区数据中userdata分区打包成压缩的镜像文件。 其中，所述上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件的步骤包括:启动监控线程以检测所述上位机是否连接了至少一个具有ADB的设备；其中，所述具有ADB的设备为需要克隆所述上位机生成的固件的设备；若是则响应用户执行迁移的指令获取所述上位机的分区信息；根据获取到的所述上位机的分区信息将从所述下位机提取到的打包数据进行分区克隆；将原始固件与克隆后打包数据进行合并，并再次进行打包而生成所述相应的固件；其中，所述原始固件为所述上位机中原有固件。 其中，所述将获取到的所述设备的分区信息以及从所述下位机提取到的打包数据进行分区克隆的步骤包括:根据从所述下位机提取到的打包数据解析所述原始固件中的parameter文件分区信息，以及根据所述打包数据的大小计算新分区的大小；将新分区信息加入到分区列表中，并回写到所述原始固件中的parameter文件；在所述打包数据中新增相应的分区数据的脚本，以将所述打包数据进行分区克隆。 其中，所述上位机将所述固件传送到至少一另一下位机，使所述至少一另一下位机对所述固件进行分区还原的步骤具体为:在所述至少一另一下位机为Android设备时，第一次启动所述另一下位机以执行recovery程序，并根据系统分区信息执行恢复操作将所述固件分区还原到data分区。 本专利技术还提供一种分区迁移系统，其特征在于，所述系统包括上位机、第一下位机以及至少一第二下位机；所述上位机向所述第一下位机发送分区数据采集指令，所述第一下位机响应所述分区数据采集指令采集样本分区数据，并对所述样本分区数据进行打包；所述上位机向所述第一下位机发送分区数据提取指令使所述第一下位机将打包的分区数据传送至所述上位机，所述上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件；所述上位机将所述固件传送至所述至少一第二下位机，使所述至少一第二下位机对所述固件进行分区还原，将所述样本分区数据迁移至所述至少一第二下位机。 其中，所述系统还包括一终端，所述上位机通过所述终端将所述固件传送至所述至少一第二下位机。 其中，所述上位机包括:设备检测模块，用于启动监控线程以检测所述上位机是否连接了至少一个具有ADB的设备；其中，所述具有ADB的设备为需要克隆所述上位机生成的固件的设备；设备控制模块，响应用户执行迁移的指令获取与所述上位机连接的设备的分区信息，并将获取到的所述设备的分区信息以及从所述下位机提取到的打包数据进行分区克隆；固件打包模块，将原始固件与克隆后的打包数据进行合并，并再次进行打包而生成所述相应的固件；其中，所述原始固件为所述上位机中原有固件。 本专利技术还提供一种分区迁移装置，所述装置包括:设备检测模块，用于启动监控线程以检测所述上位机是否连接了至少一个具有ADB的设备；其中，所述具有ADB的设备为需要克隆所述上位机生成的固件的设备；设备控制模块，响应用户执行迁移的指令获取与所述上位机连接的设备的分区信息，并将获取到的所述设备的分区信息以及从所述下位机提取到的打包数据进行分区克隆；固件打包模块，将原始固件与克隆后的打包数据进行合并，并再次进行打包而生成所述相应的固件；其中，所述原始固件为所述上位机中原有固件。 本专利技术提供的一种实现分区迁移的方法、系统及装置，通过上位机从下位机(样机)获取样本分区数据并对该样本分区数据进行打包处理以形成相应的固件，该固件可以下发至该另一下位机(待生产设备)，并在该另一下位机中进行固件分区还原从而将所述样本分区数据迁移至所述另一下位机中。利用本专利技术，可以在开发系统中直接根据设计需要获取样本分区数据，并对该样本分区数据进行处理以整体迁移至待生产的产品中进行分区还原，而避免了在改变系统配置时需要重新设计和编写程序所带来的不便，从而提高了项目开发的效率，同时节省人力成本与时间成本。 【专利附图】【附图说明】 图1为本专利技术实施方式中的实现分区迁移的方法流程示意图； 图2为本专利技术实施方式中上位机生成固件的方法流程示意图； 图3为本专利技术实施方式中将从下位机提取到的打包数据进行分区克隆的方法流程不意图； 图4为本专利技术实施方式中的实现分区迁移的系统的结构示意图； 图5为本专利技术另一实施方式中的实现分区迁移的系统的结构示意图； 图6为本专利技术实施方式中的一种分区迁移装置的结构示意图。 标号说明: 系统40、50、60 设备检测模块410、61 设备控制模块411、62 固件打包模块412、63 通信模块413、64 上位机41、51 第一下位机42、52 第二下位机43、53 终端54 【具体实施方式】 为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、构造特征、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图详予说明。 首先对本专利技术出现的专有名词进行解释: 上位机:是指可以直接发出操控命令的计算机,一般是PC/host本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种分区迁移方法，其特征在于，所述方法包括：上位机向下位机发送分区数据采集指令；所述下位机响应所述分区数据采集指令采集样本分区数据，并对所述样本分区数据进行打包；所述上位机向所述下位机发送分区数据提取指令使所述下位机将打包的分区数据传送至所述上位机；所述上位机将提取到打包数据再次进行打包生成相应的固件；所述上位机将所述固件传送到至少一另一下位机，使所述至少一另一下位机对所述固件进行分区还原，将所述样本分区数据迁移至所述至少一另一下位机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，
申请(专利权)人：福州瑞芯微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35