ATE测试通道设计方法技术

本发明专利技术公开了一种ATE测试通道设计方法，该方法在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。本发明专利技术设计的ATE测试通道，利用开关的开/闭实现待测通道的选择，使测量仪器探头能与负载板固定物理连接，从而大大提高了外接测量仪器与测试通道建立连接、进行测量的效率，降低了工程调试难度，并确保了负载板上通道信号的完整性和物理完整性。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种ATE测试通道设计方法，该方法在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。本专利技术设计的ATE测试通道，利用开关的开/闭实现待测通道的选择，使测量仪器探头能与负载板固定物理连接，从而大大提高了外接测量仪器与测试通道建立连接、进行测量的效率，降低了工程调试难度，并确保了负载板上通道信号的完整性和物理完整性。【专利说明】ATE测试通道设计方法
本专利技术涉及半导体集成电路测试领域，特别是涉及一种ATE测试通道的设计方法。
技术介绍
在使用ATE (自动测试设备)进行IC产品测试程序开发阶段，经常需要使用外接仪器，如示波器等，观测特定测试通道的实际信号波形。现有的方案是在ATE的load board(负载板)上为每一个测试通道预留一个监测端点，当需要观测某特定测试通道波形时，再手动将示波器探头与特定通道对应的测试端点连接后进行测量。 如图1所示，该图显示了 ATE测试通道的常见结构，图中的CHx (x为正整数，代表测试通道序号，下同)代指任意一个测试通道(channeI)，在ATE设备外，测试通道通过LoadBoard (负载板)与DUT (待测器件)相连。在ATE内部，通过开关Klx，测试通道与测试比较电路及驱动电路相连，实现测试信号的比较和驱动。测试通道的另一个通路，是通过开关K2x,选择使用ATE的PMU (Parameter Measurement Unit,参数测量单兀)对DUT进行电参数的精确测量。上述的Klx、K2x开关与测试通道CHx具有一一对应的关联性，开关的断开/闭合可通过测试程序根据测试项目的需要进行控制，以达到特定测试目的。 上述设计为各通道的可外测性提供了可能，但是，在实际应用中，示波器探头与测试端点的连接存在困难，往往需要通过在测试端点上焊接一根导线进行外引后，再与探头连接才能实现，这样就给实际应用带来极大不便，甚至会影响Load board的功能和特性。在另一些ATE机台，由于Load Board处于一个相对封闭机体环境中，还会导致通道引出连线无法实现，外部监测通道的需求无法满足。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种ATE测试通道设计方法，它可以便捷地实现外接测量仪器对ATE任意测试通道信号的有效监测。 为解决上述技术问题，本专利技术的ATE测试通道设计方法，在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。 与ATE测试通道的现有设计方法相比，本专利技术的ATE测试通道设计方法具有以下优点和有益效果: 1.测量仪器探头与Load Board的物理连接是固定的，即探头只需要与Load Board上固定位置的外接采样端子连接，待测测试通道的选择完全通过ATE测试程序控制开关来实现，因此，不需要像传统方法那样随待测通道的不同而频繁变换物理连接，这样就大大提高了外接测量仪器与任意测试通道建立连接、进行测量的效率，降低了工程调试难度，从而也提闻了相关的项目开发效率。 2.由于不需要像传统方法那样通过对Load Board上的测试通道进行焊接连线来实现与外接探头的连接，因此能够避免由于外接测量而带来的对Load Board上的通道信号完整性及物理完整性的破坏。 【专利附图】【附图说明】 图1是ATE测试仪的测试通道的常见结构示意图。 图2是本专利技术实施例的ATE测试通道的结构示意图。 图3是图2中的采样端子的一种可行的形状结构示意图。 图4是图2中的采样端子的另一可行的形状结构示意图。 图5是图2中的采样端子的安装位置示意图。 图6是图2结构的ATE测试通道的测试方法示意图。 图7是本专利技术另一实施例的ATE测试通道的结构及测试方法示意图。 【具体实施方式】 为对本专利技术的
技术实现思路
、特点与功效有更具体的了解，现结合图示的实施方式，详述如下: 如图2所示，本专利技术实施例设计的ATE测试通道，在ATE测试头(Test Head)内的常规测试通道CHx (X为正整数，代表测试通道序号，下同)的基础上，对应于每条测试通道分别增加了一个独立于测试通道CHx的、可编程控制的开关K3x ;此外，在与测试头连接的Load Board (负载板)上，设置了一个能够与外接测量仪器探头挂接的外接采样端子StrobeCH0 所述开关K3x—端与测试通道CHx通过信号线相连,另一端与Load Board上的外接采样端子Strobe CH通过信号线相连，从而在测试通道与外接采样端子间建立电信号连接。 所述外接采样端子具有公用性，即多个测试通道可以通过开关的控制，分时与外接采样端子建立电信号连接。采样端子的外形可以设计为挂钩或柱体状等结构，以方便与常规外接测量仪器的探头实现可靠的挂接。图3和图4列举了采样端子的两种设计结构。采样端子的安装位置，可以根据Load Board在测试头上的实际空间布局，将采样端子安装在最便于操作人员从测试仪外部手动接触并将探头与其挂接的位置。通常情况下，该位置位于Load Board的边缘,如图5所示。 在应用时，当需要观测任一测试通道的信号时，只需要将外接测量仪器挂接在公用的外接采样端子Strobe CH上，然后通过测试程序，将欲观测的对象测试通道关联的K3闭合，将非对象测试通道关联的K3断开，便可建立外接测量仪器与对象测试通道的唯一连接，实现外接测量仪器对对象测试通道的测量访问。例如，如图6所示，要观CH2测试通道的信号时，将CH2测试通道对应的开关K32闭合，其他通道对应的开关断开，就可以建立外接测量仪器与CH2测试通道的唯一连接。 上述ATE测试通道结构仅是本专利技术的一种基础结构的实施例，在此基础上，可以适当增加外接采样端子的数量，以同时观测多个测试通道。部分或全部测试通道可以共用一个或多个外接采样端子。 在本专利技术的另一扩展结构的实施例中，如图7所示，ATE系统在Load Board上设置了两个公用外接采样端子，分别为Strobe CHl和Strobe CH2。外接测量仪器分别通过Strobe CHl和Strobe CH2实现对两个不同测试通道的同时测量访问。例如，图7中显示了外接测量仪器对测试通道CH3和CH6访问的情形，通过ATE测试程序将CH3对应的开关K33及CH6对应的开关K36闭合，其他通道对应的开关断开，就可以实现外部测量仪器对CH3和CH6通道信号的同时访问。【权利要求】1.ATE测试通道设计方法，其特征在于，在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述独立开关的断开和闭合通过ATE测试程序独本文档来自技高网...

【技术保护点】
ATE测试通道设计方法，其特征在于，在ATE测试头内，在常规测试通道基础上，对应于每条测试通道分别增加一个独立开关；在ATE负载板上，增加一个以上能与测量仪器探头挂接的采样端子；所述独立开关的一端通过信号线与对应的测试通道连接，另一端通过信号线与采样端子连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曾志敏，
申请(专利权)人：上海华虹宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31