本实用新型专利技术提供了一种薄片类介质厚度检测机构、处理装置和纸币清分机。薄片类介质厚度检测机构包括机架、基准辊、支撑轴和检测组件，基准辊和支撑轴相对平行设置在机架上，检测组件包括支撑架、测厚辊、传感器和感应件，支撑架与支撑轴枢接，测厚辊设置在支撑架上且平行于基准辊，还包括间隙调节组件，用于调节测厚辊与基准辊之间的间隙d，其中，间隙d小于单张薄片类介质的厚度。该薄片类介质厚度检测机构通过间隙调节组件调节测厚辊与基准辊之间的间隙，能够降低薄片类介质进入及退出测厚辊与基准之间时由于测厚辊抬起落下而产生的噪音，还可以避免薄片类介质退出测厚辊与基准辊之间时测厚辊与基准辊碰撞产生的噪音。
【技术实现步骤摘要】
薄片类介质厚度检测机构及处理装置、纸币清分机
本技术涉及一种薄片类介质厚度检测机构以及使用该薄片类介质厚度检测机构的薄片类介质处理装置和纸币清分机。
技术介绍
自动检票机、纸币清分机等薄片类介质处理装置通常需要设置厚度检测机构，用于检测车票、纸币等薄片类介质(以下简称介质)是否为单张介质，防止重张或者表面粘连有异物的介质进入薄片类介质处理装置。 中国专利CN201210356761.1提供了一种用于检测介质厚度的检测机构，如图la、图1b所示，该检测机构包括固定架17’、基准轴11’、轴承21’、检测轴13’，以及沿检测轴13’轴向排列的多个检测组件，其中，基准轴11’和检测轴13’相对平行地设置在固定架17’上，在基准轴11’上固定套接有基准辊12’ ；检测组件包括基座14’、测厚辊16’、弹片15’、磁铁18’，以及霍尔传感器19’，其中，基座14’套接在检测轴13’上且可绕检测轴13’自由旋转，测厚辊16’枢接在基座14’上，弹片15’固定在固定架17’上，且向基准辊12’方向偏压基座14’，使测厚辊16’弹性地按压在基准辊12’上，磁铁18’设置在弹片15’的自由端的背向测厚辊16’ 一侧，霍尔传感器19’对应地设置在固定架17’上，与磁铁18’配合，当介质20’通过基准辊12’与测厚辊16’之间时，基座14’克服弹片15’的弹性力绕检测轴13’转动，弹片15’的自由端向上方抬起而移位，使磁铁18’与霍尔传感器19’之间的距离发生变化，霍尔传感器19’的输出信号发生变化，据此可以判断由基准辊12’与测厚辊16’之间通过的介质20’是否为单张介质。 这种薄片类介质厚度检测机构的问题在于，初始状态，测厚辊16’弹性地按压在基准辊12’上位于初始位置，工作状态下，纸币一张接一张地由测厚辊16’与基准辊12’之间穿过，每张纸币进入测厚辊16’和基准辊12’之间时，测厚辊16’被抬起，当纸币退出测厚辊16’和基准辊12’时，测厚辊16’落下至初始位置，当基准辊12’和测厚辊16’处于高速旋转状态时，测厚辊16’高频率地抬起、落下将会产生大量噪音，影响工作环境。
技术实现思路
本技术目的在于提供一种降低噪音的薄片类介质厚度检测机构，本技术的目的还在于提供一种使用该厚度检测机构的薄片类介质处理装置以及纸币清分机。 本技术第一方面提供了一种薄片类介质厚度检测机构，包括机架、基准辊、支撑轴和检测组件，基准辊和支撑轴相对平行设置在机架上，检测组件包括支撑架、测厚辊、传感器和感应件，支撑架与支撑轴枢接，测厚辊设置在支撑架上且平行于基准辊，还包括间隙调节组件，用于调节测厚辊与基准辊之间的间隙山其中，间隙d小于单张薄片类介质的厚度。 进一步地，薄片类介质厚度检测机构包括沿支撑轴的轴向排列的多个检测组件和与多个检测组件一一对应设置的多个间隙调节组件，每个间隙调节组件用于调节对应的检测组件的测厚辊与基准辊的间隙d。 进一步地，间隙调节组件包括位置可调节地设置的施力部，施力部与支撑架抵接。 进一步地，检测组件还包括第一弹性元件，第一弹性元件对支撑架施加使间隙d具有减小趋势的第一弹性力。 进一步地，间隙调节组件包括基座、调节块、枢接轴和调节螺钉，其中，基座与机架固定连接，调节块通过枢接轴与基座枢接，包括位于枢接轴两侧的受力部和施力部，调节螺钉与基座螺纹配合并与受力部抵接，施力部与支撑架抵接。 进一步地，施力部与支撑架的抵接处与枢接轴之间的距离小于受力部与调节螺钉的抵接处与枢接轴之间的距离。 进一步地，间隙调节组件还包括第二弹性元件，第二弹性元件对调节块施加使受力部抵接于调节螺钉的第二弹性力。 本技术第二方面提供一种薄片类介质处理装置，包括薄片类介质厚度检测机构，其中，薄片类介质厚度检测机构为本技术第一方面中任一项的薄片类介质厚度检测机构。 本技术第三方面提供一种纸币清分机，包括沿纸币输送方向依次设置的入币口、送币机构、纸币厚度检测机构、纸币鉴别机构和至少一个出币口，其中，纸币厚度检测机构为本技术第一方面中任一项薄片类介质厚度检测机构。 根据本技术的薄片类介质厚度检测机构、薄片类介质处理装置和纸币清分机，薄片类介质厚度检测机构通过设置间隙调节组件可以使测厚辊与基准辊二者之间存在间隙，该间隙小于单张介质的厚度，因此，当薄片类介质进入测厚辊与基准辊之间时，薄片类介质与测厚辊的撞击力小于测厚辊与基准辊紧密接触时介质与测厚辊的撞击力，能够降低介质进入及退出测厚辊与基准辊之间时由于测厚辊抬起落下而产生的噪音；同时，当介质退出测厚辊与基准辊之间时，测厚辊与基准辊之间保持设定距离，测厚辊不会与基准辊碰撞，因此，能够避免介质退出测厚辊与基准辊之间时测厚辊与基准辊之间因碰撞而产生的噪音。进一步地，通过间隙调节组件还可以调节测厚辊与基准辊二者之间的间隙大小，从而可以满足不同厚度的薄片类介质的测厚需要。 【附图说明】 构成本申请的一部分的附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。在附图中: 图1a是中国专利CN201210356761.1提供的薄片类介质厚度检测机构的结构主视图； 图1b是图1a中所示的薄片类介质厚度检测机构的检测组件的结构示意图； 图2是根据本技术一实施例的薄片类介质厚度检测机构的结构轴测图； 图3是根据本技术一实施例的薄片类介质厚度检测机构的截面示意图； 图4是根据本技术一实施例的薄片类介质厚度检测机构的间隙调节组件的结构示意图； 图5是根据本技术一实施例的薄片类介质厚度检测机构的间隙调节组件的结构剖视图； 图6是使用本技术提供的薄片类介质厚度检测机构的薄片类介质处理装置一实施例的结构剖面图。 【具体实施方式】 下面将参考附图并结合实施例来详细说明本技术。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。 需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述【具体实施方式】，而非意图限制根据本技术的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用属于“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。 为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。 如图2至图5所示，本实施例的薄片类介质厚度检测机构包括:机架1、基本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种薄片类介质厚度检测机构，包括机架(1)、基准辊(2)、支撑轴(3)和检测组件(4)，所述基准辊(2)和所述支撑轴(3)相对平行设置在所述机架(1)上，所述检测组件(4)包括支撑架(41)、测厚辊(42)、传感器(44)和感应件(45)，所述支撑架(41)与所述支撑轴(3)枢接，所述测厚辊(42)设置在所述支撑架(41)上且平行于所述基准辊(2)，其特征在于，还包括间隙调节组件(5)，用于调节所述测厚辊(42)与所述基准辊(2)之间的间隙d，其中，所述间隙d小于单张薄片类介质的厚度。
【技术特征摘要】
1.一种薄片类介质厚度检测机构，包括机架(I)、基准辊(2)、支撑轴(3)和检测组件(4)，所述基准辊(2)和所述支撑轴(3)相对平行设置在所述机架(I)上，所述检测组件(4)包括支撑架(41)、测厚辊(42)、传感器(44)和感应件(45)，所述支撑架(41)与所述支撑轴(3)枢接，所述测厚辊(42)设置在所述支撑架(41)上且平行于所述基准辊(2)，其特征在于，还包括间隙调节组件(5)，用于调节所述测厚辊(42)与所述基准辊(2)之间的间隙d，其中，所述间隙d小于单张薄片类介质的厚度。2.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构，其特征在于，所述薄片类介质厚度检测机构包括沿所述支撑轴(3)的轴向排列的多个所述检测组件(4)和与所述多个检测组件(4) 一一对应设置的多个所述间隙调节组件(5)，每个所述间隙调节组件(5)用于调节对应的所述检测组件⑷的测厚辊(42)与所述基准辊(2)的所述间隙d。3.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构，其特征在于，所述间隙调节组件(5)包括位置可调节地设置的施力部(512)，所述施力部(512)与所述支撑架(41)抵接。4.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构，其特征在于， 所述检测组件(4)还包括第一弹性元件(43)，所述第一弹性元件(43)对所述支撑架(41)施加使所述间隙d具有减小趋势的第一弹性力。5.根据权利要求1所述的薄片类介质厚度检测机构，其特征在...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑磊，高涛，姜天信，刘丙庆，
申请(专利权)人：山东新北洋信息技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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