本实用新型专利技术公开了一种基于温度控制的压电常数测试仪，属于压电常数测试仪领域，包括末端相对设置的上电极、下电极，和温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置。与现有技术相比，本实用新型专利技术的基于温度控制的压电常数测试仪增加了温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置，加热装置和降温装置配合使用，可以得到较大温度范围，使本实用新型专利技术的基于温度控制的压电常数测试仪能够在较大温度范围内对样件进行d33常数的测试。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种基于温度控制的压电常数测试仪，属于压电常数测试仪领域，包括末端相对设置的上电极、下电极，和温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置。与现有技术相比，本技术的基于温度控制的压电常数测试仪增加了温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置，加热装置和降温装置配合使用，可以得到较大温度范围，使本技术的基于温度控制的压电常数测试仪能够在较大温度范围内对样件进行d33常数的测试。【专利说明】—种基于温度控制的压电常数测试仪
本技术涉及压电常数测试仪，特别是指一种基于温度控制的压电常数测试仪。
技术介绍
d33压电常数测试仪是为测量压电材料的d33常数而设计的专用仪器，如图1所示，其中5为静电计,6和10为绝缘座,9为上电极,7为下电极,8为试样，C为电容器，K为开关，C、K和I共同组成测量电路，F3为施加于试样上的力。它可用来测量具有大压电常数的压电陶瓷，小压电常数的压电单晶及压电高分子材料，此外，也可测量任意取向压电单晶以及某些压电器件的等效压电d33常数，对试样大小及形状没有特殊要求，例如圆片、圆环、圆管、方块、长条、柱形及半球壳等均可测量，测量结果和极性可以在面板表上直接显示的一种仪器。 现有的d33压电常数测试仪只能在常温状态下测试压电陶瓷的d33常数，而在实际应用中，时常需要在一定温度下对压电陶瓷等材质的d33常数进行测试，了解它们在温度变化中的性能，然而在d33测试领域，还没有一种仪器能够实现在一定温度下对样件进行d33常数的测试。
技术实现思路
本技术提供一种基于温度控制的压电常数测试仪，该压电常数测试仪能够在较大温度范围内对样件进行d33常数的测试。 为解决上述技术问题，本技术提供技术方案如下: 一种基于温度控制的压电常数测试仪，包括末端相对设置的上电极和下电极，以及温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置。 进一步的，所述温度调节装置包括隔热陶瓷壳体和隔热陶瓷盖，所述隔热陶瓷壳体上部开有第一凹槽，所述隔热陶瓷盖盖在所述第一凹槽上，形成隔热腔；所述上电极的末端穿过所述隔热陶瓷盖伸到所述隔热腔内，所述下电极的末端穿过所述隔热陶瓷壳体的下端面伸到所述隔热腔内。 进一步的，所述隔热腔内设置有环形的导热陶瓷块，所述导热陶瓷块的环形壁贴在所述隔热陶瓷壳体的内壁上； 所述降温装置包括气体循环腔，所述气体循环腔设置在所述导热陶瓷块的环形壁的壁体内部，所述气体循环腔连接有伸出所述隔热陶瓷壳体外部的第一流入管路和第一流出管路； 所述加热装置包括电阻丝，所述电阻丝设置在所述气体循环腔内部和/或所述隔热腔底部和/或所述隔热腔的侧面。 进一步的，所述加热装置包括电阻丝，所述电阻丝设置在所述隔热腔的侧面和/或底部； 所述降温装置包括连通所述隔热腔并伸出所述隔热陶瓷壳体外部的第二流入管路和第二流出管路。 进一步的，所述隔热陶瓷壳体的下部开有第二凹槽，所述第二凹槽内设置有温度保护装置，所述温度保护装置包括位于所述第二凹槽内部并被所述下电极穿过的散热块，所述散热块的外壁贴在所述第二凹槽的内壁上；所述散热块内部设置有散热腔，所述散热腔连接有伸出所述隔热陶瓷壳体外部的第三流入管路和第三流出管路。 进一步的，所述隔热腔内部位于所述上电极末端处设置有第一热电偶，所述散热腔内部位于所述下电极表面处设置有第二热电偶。 进一步的，所述隔热陶瓷盖的中心设置有观察孔，所述观察孔通过耐热玻璃密封；所述隔热腔的内壁和所述导热陶瓷块的外壁之间的缝隙、以及所述散热块的外壁和所述第二凹槽的内壁之间的缝隙均填充有隔热材料。 进一步的，所述温度调节装置包括导热陶瓷壳体和隔热陶瓷盖，所述隔热陶瓷盖盖在所述导热陶瓷壳体的上端面，所述导热陶瓷壳体的下端面为银质金属层；所述上电极的末端穿过所述隔热陶瓷盖和导热陶瓷壳体内部并伸至所述导热陶瓷壳体的下端面上。 进一步的，所述加热装置为电阻丝，所述电阻丝设置在所述导热陶瓷壳体的侧壁内部； 所述降温装置为气体循环腔，所述气体循环腔设置在所述导热陶瓷壳体的侧壁内部，所述气体循环腔连接有伸出所述隔热陶瓷壳体外部的第四流入管路和第四流出管路。 进一步的，所述银质金属层上设置有第三热电偶。 本技术具有以下有益效果: 与现有技术相比，本技术的基于温度控制的压电常数测试仪增加了温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置，加热装置和降温装置配合使用，可以得到较大温度范围，使本技术的基于温度控制的压电常数测试仪能够在较大温度范围内对样件进行d33常数的测试。 【专利附图】【附图说明】 图1为现有技术中的压电常数测试仪的结构原理图； 图2为本技术的压电常数测试仪的主视图； 图3为本技术的压电常数测试仪的俯视图； 图4为图3的A-A向视图； 图5为图3的B-B向视图； 图6为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的剖视图； 图7为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式I的立体图； 图8为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式I的第一种剖视图； 图9为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式I的第二种剖视图； 图10为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式I的第三种剖视图； 图11为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式2的立体图； 图12为本技术的压电常数测试仪的第一种改进的方式2的剖视图； 图13为本技术的压电常数测试仪的第二种改进的主视图； 图14为本技术的压电常数测试仪的第二种改进的俯视图； 图15为本技术的压电常数测试仪的第二种改进的立体图。 【具体实施方式】 为使本技术的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。 本技术提供一种基于温度控制的压电常数测试仪，如图2至图5所示，包括末端相对设置的上电极I和下电极2，以及温度调节装置3，温度调节装置3的内部设置有加热装置31和降温装置32。 工作时，将样件4放到上电极I和下电极2之间，通过温度调节装置3使样件4处于待测温度下，通过常规的静态测试法或者准静态测试法即可以测量得到样件4在该温度下的d33常数。 与现有技术相比，本技术的基于温度控制的压电常数测试仪增加了温度调节装置3，温度调节装置3的内部设置有加热装置31和降温装置32，加热装置31和降温装置32配合使用，可以得到较大温度范围，使本技术的基于温度控制的压电常数测试仪能够在较大温度范围内对样件4进行d33常数的测试。 作为本技术的一种改进，如图6所示，温度调节装置3’包括隔热陶瓷壳体33’和隔热陶瓷盖34’，隔热陶瓷壳体33’上部开有第一凹槽，隔热陶瓷盖34’盖在第一凹槽上，形成隔热腔35’；上电极I’的末端穿过隔热陶瓷盖34’伸到隔热腔35’内，下电极2’的末端穿过隔热陶瓷壳体33’的下端面伸到隔热腔35’内。 上述隔热陶瓷壳体33’和隔热陶瓷盖34’可以为多种外形，优选的，隔热陶瓷壳体33’和隔热陶瓷盖34’的外形为圆柱体、椭圆体、长方体或正方体；本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于温度控制的压电常数测试仪，包括末端相对设置的上电极和下电极，其特征在于，还包括温度调节装置，所述温度调节装置的内部设置有加热装置和降温装置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：范杨雷，崔宏超，
申请(专利权)人：北京派和科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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