用于芯片封装的烘箱制造技术

技术编号:10618642 阅读:105 留言:0更新日期:2014-11-06 12:23
本实用新型专利技术提供了一种用于芯片封装的烘箱,用于导电银浆及半导体芯片的应力释放和粘合,其特征在于,所述烘箱包括一气密腔体,所述腔体具有一进气口和一排气口,所述进气口与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口能够将腔体中的气体排出至环境中。本实用新型专利技术的优点在于,寻找到芯片和导电银浆之间的破裂原因主要来源于导电银浆在高温下的氧化,故通过改装设备,将芯片置于无氧且洁净的环境中,有利于提高芯片和引线框架之间加固的成功率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术提供了一种用于芯片封装的烘箱,用于导电银浆及半导体芯片的应力释放和粘合,其特征在于,所述烘箱包括一气密腔体,所述腔体具有一进气口和一排气口,所述进气口与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口能够将腔体中的气体排出至环境中。本技术的优点在于,寻找到芯片和导电银浆之间的破裂原因主要来源于导电银浆在高温下的氧化,故通过改装设备,将芯片置于无氧且洁净的环境中,有利于提高芯片和引线框架之间加固的成功率。【专利说明】用于芯片封装的烘箱
本技术涉及芯片封装领域,尤其涉及一种用于芯片封装的烘箱。
技术介绍
导电银浆和芯片粘结之后,一般需要进行高温烘烤以使导电银浆及半导体芯片的应力释放,并提闻两者之间的粘结强度。 但在实际操作中发现,在烘箱中烘烤的过程中,芯片和导电银浆之间容易发生破裂,导致烘烤失败。因此,如何提高芯片和导电银浆之间粘结后烘烤的良率,是现有技术亟待解决的问题之一。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是,提供一种用于芯片封装的烘箱,能够提高芯片和导电银浆之间粘结后烘烤的良率。 为了解决上述问题,本技术提供了一种用于芯片封装的烘箱,用于导电银浆及半导体芯片的应力释放和粘合,其特征在于,所述烘箱包括一气密腔体,所述腔体具有一进气口和一排气口,所述进气口与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口能够将腔体中的气体排出至环境中。 可选的,所述通入腔体的氮气纯度高于99.99%。 本技术的优点在于,寻找到芯片和导电银浆之间的破裂原因主要来源于导电银浆在高温下的氧化,故通过改装设备,将芯片置于无氧且洁净的环境中,有利于提高芯片和引线框架之间加固的成功率。 【专利附图】【附图说明】 附图1是本技术【具体实施方式】的结构示意图。 【具体实施方式】 下面结合附图对本技术提供的用于芯片封装的烘箱的【具体实施方式】做详细说明。 附图1是本【具体实施方式】的结构示意图。所述烘箱包括一气密的腔体10,包括载物台11,载物台11表面放置芯片12和引线框架13。所述芯片12通过导电银浆与所述引线框架13粘接在一起。所述腔体10具有一进气口 101和一排气口 102,所述进气口 101与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口 102能够将腔体10中的气体排出至环境中。 所述芯片12通过导电银浆与所述引线框架13粘接之后,需要通过烘烤对导电银浆进行加固。经研究发现,芯片12和导电银浆之间的破裂主要来源于导电银浆在高温下的氧化,以及环境中的灰尘等颗粒对导电银浆的污染。故本技术所提出的方案是将芯片12和引线框架13置于密闭的气密腔体10中,并通过进气口 101和排气口 102将气密腔体10中的气体置换为高纯氮气,优选氮气纯度高于99.99%。这样可将芯片置于无氧且洁净的环境中,有利于提高芯片12和引线框架13之间加固的成功率。 以上所述仅是本技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员,在不脱离本技术原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。【权利要求】1.一种用于芯片封装的烘箱,用于导电银浆及半导体芯片的应力释放和粘合,其特征在于,所述烘箱包括一气密腔体,所述腔体具有一进气口和一排气口,所述进气口与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口能够将腔体中的气体排出至环境中。2.根据权利要求1所述的用于芯片封装的烘箱,其特征在于,所述通入腔体的氮气纯度高于99.99%ο【文档编号】H01L21/67GK203932025SQ201420338996【公开日】2014年11月5日 申请日期:2014年6月24日 优先权日:2014年6月24日 【专利技术者】蔡晓雄 申请人:上海胜芯微电子有限公司本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种用于芯片封装的烘箱,用于导电银浆及半导体芯片的应力释放和粘合,其特征在于,所述烘箱包括一气密腔体,所述腔体具有一进气口和一排气口,所述进气口与一氮气源连接,能够将氮气通入腔体,所述排气口能够将腔体中的气体排出至环境中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蔡晓雄
申请(专利权)人:上海胜芯微电子有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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