本发明专利技术提供一种温度调节装置及方法，该温度调节装置适用于一处理器，包括检测单元、处理单元与频率调整单元。检测单元用以检测处理器的温度以取得第一温度值，以及间隔一取样时间检测处理器的温度以取得第二温度值，并根据第一温度值和第二温度值分别输出第一温度信号和第二温度信号。处理单元用以接收第一温度信号和第二温度信号，根据第一温度信号、第二温度信号以及取样时间取得一斜率值，并根据斜率值取得处理器的温度超过一临限温度所需的第一既定时间。频率调整单元根据斜率值以及第一既定时间于低于第一既定时间的第二既定时间调整处理器的操作频率。本发明专利技术可达到温度控制的目的以及将系统的效能维持于一最佳的状态。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术提供一种，该温度调节装置适用于一处理器，包括检测单元、处理单元与频率调整单元。检测单元用以检测处理器的温度以取得第一温度值，以及间隔一取样时间检测处理器的温度以取得第二温度值，并根据第一温度值和第二温度值分别输出第一温度信号和第二温度信号。处理单元用以接收第一温度信号和第二温度信号，根据第一温度信号、第二温度信号以及取样时间取得一斜率值，并根据斜率值取得处理器的温度超过一临限温度所需的第一既定时间。频率调整单元根据斜率值以及第一既定时间于低于第一既定时间的第二既定时间调整处理器的操作频率。本专利技术可达到温度控制的目的以及将系统的效能维持于一最佳的状态。【专利说明】
本专利技术涉及一种适用于处理器的，尤其涉及一种根据处理器 的温度与时间的斜率调节处理器温度的装置及方法。
技术介绍
由于科技的进步以及因应生活的需求，电子产品的处理运算速度也不断增快，但 随着运算速度不断提升，使得处理器或显示卡的频率和功率消耗越来越高，导致处理器或 显示卡的温度上升，而温度的提升将造成电子产品运作的效率降低。为了延长处理器或显 示卡的寿命以及维持其运算效率，温度的控制为目前所需解决的问题。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术一实施例提供一种温度调节装置，适用于一处理器，包括 检测单元、处理单元与频率调整单元。检测单元用以检测处理器的温度以取得第一温度值， 以及间隔一取样时间检测处理器的温度以取得第二温度值，并根据第一温度值和第二温度 值分别输出第一温度信号和第二温度信号。处理单元用以接收第一温度信号和第二温度信 号，根据第一温度信号、第二温度信号以及取样时间取得一斜率值，并根据斜率值取得处理 器的温度超过一临限温度所需的第一既定时间。频率调整单元根据斜率值以及第一既定时 间于低于第一既定时间的第二既定时间调整上述处理器的操作频率。 本专利技术一实施例提供一种温度调节方法，适用于一处理器，包括检测处理器的温 度以取得第一温度值，以及间隔一取样时间检测处理器的温度以取得第二温度值，并根据 第一温度值和第二温度值分别输出第一温度信号和第二温度信号。根据第一温度信号、第 二温度信号以及取样时间取得一斜率值，并根据斜率值取得处理器的温度超过一临限温度 所需的第一既定时间。根据斜率值以及第一既定时间于低于第一既定时间的第二既定时间 调整处理器的操作频率。 根据本专利技术一实施例所提出的装置与方法，通过即时监控处理器的温度，并计算 超过临界温度的时间，在时间内即针对处理器进行逐步降频的动作以达到降温的目的，因 此并不会造成系统效能明显的下降，同时亦可将温度维持在临界温度内，达到温度控制的 目的以及将系统的效能维持于一最佳的状态。 【专利附图】【附图说明】 图1是显示根据本专利技术一实施例所述的温度调节装置示意图。 图2是显示根据本专利技术一实施例所述的温度调节方法的流程图。 图3是显示根据本专利技术另一实施例所述的温度调节方法的流程图。 图4是显示根据本专利技术另一实施例所述的温度调节方法的流程图。 其中，附图标记说明如下： 100?温度调节装置 101?处理器 110?检测单元 120?处理单元 130?频率调整单元 140?存储单元 210、220、230、310、320、330、340、410、420、430、440、450、460 ?步骤流程 St?第一温度信号 St'?第二温度信号 【具体实施方式】 图1是显示根据本专利技术一实施例所述的温度调节装置示意图。如图1所示，温度调 节装置100可耦接于一处理器101。其中，处理器101可为使用于电子装置的任意处理器， 例如中央处理器、微处理器或图形处理器等，但并不以此为限。本专利技术实施例的温度调节装 置100包括一检测单元110、一处理单元120、一频率调整单元130以及一存储单元140。检 测单元110用以检测处理器101的温度以取得第一温度值，以及间隔一取样时间检测处理 器101的温度以取得第二温度值，并根据第一温度值和第二温度值分别输出对应于上述温 度值的第一温度信号St和第二温度信号St'，其中，使用者可根据处理器的状况自行设定 取样时间的长短，例如5?10秒。 处理单元120接收第一温度信号St和第二温度信号St'，根据第一温度信号St、 第二温度信号St'以及取样时间取得一斜率值。于一实施例中，处理单元120根据斜率值 取得处理器101的温度超过一临限温度所需的第一既定时间，例如，处理单元120根据斜率 值计算出处理器101于20秒后超过临限温度，其中20秒即为第一既定时间的值。频率调 整单元130根据斜率值以及第一既定时间于低于第一既定时间的第二既定时间调整处理 器101的操作频率，举例来说，处理单元120计算出第一既定时间的值为20秒，频率调整单 元130将于小于20秒（例如5秒、10秒或15秒）的时间内调整处理器101的操作频率。 于另一实施例中，使用者可设定一既定斜率值，以控制调整处理器101频率调节 的操作。当斜率值大于既定斜率值时，频率调整单元130根据斜率值进行处理器101的操 作频率调节的动作；反之，当斜率值小于或等于既定斜率值时，则检测单元110于间隔取样 时间后重新检测处理器101的温度以取得第一温度值。 本专利技术的一实施例为根据处理器的P-State状态调整处理器的操作频率。其中， 操作频率又与消耗的功率成正比，因此通过调整处理器的P-State以达到温度调节的目 的。当处理器和周边装置处于执行的状态时，P-State将制定出电源管理状态。P-State 电源管理一般用于电脑的中央处理器或图形处理器，通过调整其状态可有效控制功率的消 耗。 表一显不根据本专利技术一实施例所述的P-State对照表。 【权利要求】1. 一种温度调节装置，适用于一处理器，包括： 一检测单元，检测上述处理器的温度以取得一第一温度值，以及间隔一取样时间检测 上述处理器的温度以取得一第二温度值，并根据上述第一温度值和上述第二温度值分别输 出一第一温度信号和一第二温度信号； 一处理单元，用以接收上述第一温度信号和上述第二温度信号，根据上述第一温度信 号、上述第二温度信号以及上述取样时间取得一斜率值，并根据上述斜率值取得上述处理 器的温度超过一临限温度所需的一第一既定时间；以及 一频率调整单元，根据上述斜率值以及上述第一既定时间于低于上述第一既定时间的 一第二既定时间调整上述处理器的一操作频率。2. 如权利要求1所述的温度调节装置，其中当上述斜率值大于一既定斜率值时，则上 述频率调整单元调整上述操作频率；当上述斜率值小于或等于上述既定斜率值时，则上述 检测单元于间隔上述取样时间后重新检测上述处理器的温度以取得上述第一温度值。3. 如权利要求2所述的温度调节装置，其中上述频率调整单元根据上述斜率值以及一 第一查找表调整上述处理器的上述操作频率。4. 如权利要求2所述的温度调节装置，其中上述频率调整单元根据上述斜率值、上述 第一温度值以及一第二查找表调整上述处理器的上述操作频率。5. -种温度调节方法，适用于一处理器，包括： 检测上述处理器的温度以取得一第本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种温度调节装置，适用于一处理器，包括：一检测单元，检测上述处理器的温度以取得一第一温度值，以及间隔一取样时间检测上述处理器的温度以取得一第二温度值，并根据上述第一温度值和上述第二温度值分别输出一第一温度信号和一第二温度信号；一处理单元，用以接收上述第一温度信号和上述第二温度信号，根据上述第一温度信号、上述第二温度信号以及上述取样时间取得一斜率值，并根据上述斜率值取得上述处理器的温度超过一临限温度所需的一第一既定时间；以及一频率调整单元，根据上述斜率值以及上述第一既定时间于低于上述第一既定时间的一第二既定时间调整上述处理器的一操作频率。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡孟杰，李柏钰，阮冠旗，官清标，
申请(专利权)人：宏碁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71
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