当前位置: 首页 > 专利查询>长江大学专利>正文

一种通用光耦芯片测试装置制造方法及图纸

技术编号:10315005 阅读:149 留言:0更新日期:2014-08-13 16:53
本实用新型专利技术涉及一种通用光耦芯片测试装置,包括测试电路板(4)、带触摸屏的LCD显示屏(1)、按键(8)、PC机(9);其特征在于在测试电路板(4)中设置有主控CPU(14)、数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)、可替换封装的测试座(17)、A/D转换(20)等;主控CPU(14)是整个测试装置的中央处理单元,所有控制信号、显示和数据采集分析处理都是由其完成的,在带触摸屏的LCD显示屏(1)上显示结果的同时也可以通过RS232连接器(12)将测试结果数据送至PC机(9)上;本实用新型专利技术能对各种光耦的性能进行全面的测试,能扩展测试芯片的型号,能进行故障自诊断和误差自校正,具有测试方法简单、自动化程度高的特点。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及一种通用光耦芯片测试装置,包括测试电路板(4)、带触摸屏的LCD显示屏(1)、按键(8)、PC机(9);其特征在于在测试电路板(4)中设置有主控CPU(14)、数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)、可替换封装的测试座(17)、A/D转换(20)等;主控CPU(14)是整个测试装置的中央处理单元,所有控制信号、显示和数据采集分析处理都是由其完成的,在带触摸屏的LCD显示屏(1)上显示结果的同时也可以通过RS232连接器(12)将测试结果数据送至PC机(9)上;本技术能对各种光耦的性能进行全面的测试,能扩展测试芯片的型号,能进行故障自诊断和误差自校正,具有测试方法简单、自动化程度高的特点。【专利说明】一种通用光耦芯片测试装置
:本技术涉及一种通用光耦芯片测试装置,属集成电路测试

技术介绍
:光耦是以光为媒介来传输电信号的器件,是通过“电-光-电”转换把输入端信号率禹合到输出端的光电I禹合器,由于它具有体积小、寿命长、无触点、抗干扰能力强、输出和输入之间绝缘、单向传输信号及很强的共模抑制能力等优点,在数字电路上获得广泛的应用。因此光耦性能的优劣也就显得非常重要。目前光耦的选择和使用都只是依赖于其提供的数据手册上的指标,应用时如果不依据性能指标对光耦进行筛选,会导致系统故障率高和可靠性低。目前,进行光耦测试最好的设备是从国外进口的集成电路测试仪,一方面因为其是通用的IC测试仪器,并不是专门针对光耦的测试设备,因此进行光耦测试的测试过程非常麻烦,不能自动化;并且设置的测试内容也很复杂;另一方面此设备的价格非常昂贵,高达上百万美金,使用成本比较高。还有的光耦测试仪仅只能测试通用的单通道、双通道、三通道、四通道几种芯片,并且也只判断光耦的好坏;有的编程器也可以简单地测试光耦的好坏;最简单的测试就是用万用表判断光耦的好坏;但这几种测试都不能测试出光耦性能的优劣。基于目前光耦测试的现状,本技术设计了一种自动化程度高,测试简单,性价比高,可维护性、扩充性、便携性好,测试光耦性能指标全面的新的测试装置。
技术实现思路
:为了克服现有技术的不足,本技术的目的在于提供一种通用光耦芯片测试装置,能对各种光耦的性能进行全面的测试,能扩展测试芯片的型号,能进行故障自诊断和误差自校正,具有测试方法简单、自动化程度高的特点。本技术是通过如下技术方案来实现上述目的的。在一种通用光耦芯片测试装置的结构中,设置有测试电路板、带触摸屏的LCD显示屏、按键、PC机;在测试电路板中设置有电源单元、主控CPU、数控电流源、模拟开关矩阵、可替换封装的测试座、通信接口、自诊断单元、A/D转换、电源连接器、LCD屏连接器、按键连接器、RS232连接器;测试电路板上的IXD屏连接器通过IXD屏连接电缆与带触摸屏的IXD显示屏相连接;LCD屏连接电缆为36芯的屏蔽多芯线;测试电路板上的按键连接器通过按键连接电缆与按键相连接;按键连接电缆为屏蔽双绞4芯线;测试电路板上的RS232连接器通过串口通信电缆与PC机串口相连接;串口通信电缆为3芯的屏蔽线;测试电路板上的电源连接器与外接电源相连接;所述的电源单元给带触摸屏的IXD显示屏、主控CPU、A/D转换、数控电流源、模拟开关矩阵提供电源;所述的主控CPU接收带触摸屏的IXD显示屏、按键或PC机发过来的命令,经过处理后再向数控电流源、模拟开关矩阵、A/D转换和自诊断单元发出控制执行指令;主控CPU根据测试芯片所对应的封装文件配置数据,控制模拟开关矩阵对可替换封装的测试座的引脚进行分配对应,然后控制数控电流源产生输入端LED的测试电流,用A/D转换采样光耦输出的信号,将光耦的输入、输出性能指标一步一步全部自动测试,并将测试结果显示在带触摸屏的IXD显示屏上或通过RS232连接器接口传输给PC机进行显示;所述的数控电流源接收主控CPU的控制指令,产生输出测试电流经过模拟开关矩阵切换适配光耦引脚后,提供光耦输入端的测试信号;所述的模拟开关矩阵接收主控CPU的控制指令,将光耦的各引脚对应连接到电源、数控电流源和A/D转换上;所述的A/D转换接收主控CPU的控制指令,对光耦输入和输出的电流、电压进行采样,还对测试误差进行采样;所述的自诊断单元接收主控CPU的控制指令,对数控电流源和A/D转换、模拟开关矩阵的工作状态进行采样,判断装置有无故障;所述的可替换封装的测试座可以安装SOP和DIP两种封装的插座,测试座的各引脚所连接的信号通过模拟开关矩阵的配置来选择;可对各种型号的光耦建立引脚和封装的库文件,用户可以修改和扩充待测光耦芯片的型号,测试时系统提示更换为相应的测试座,可维护性和扩充性强;所述的通信接口完成RS232串口电平转换,提供PC机发送命令和接收测试数据的通道;所述的带触摸屏的LCD显示屏为触摸屏与LCD屏一体化的屏,触摸屏为电阻式,IXD屏为TFT显示屏。本技术与现有的技术相比,其优点在于:是一种通用的光耦测试装置,用户可扩充光耦的型号,测试简单,能全自动操作,测试光耦的性能指标全面,能对故障进行自诊断,能自动校正误差,性价比高,可维护性、扩充性、便携性好。【专利附图】【附图说明】:图1是本技术的结构示意图。图2是本技术测试电路板部分的结构控制框图。图3是本技术的测试工作流程图。在图中:1.带触摸屏的IXD显示屏、2.1XD屏连接电缆、3.电源连接器、4.测试电路板、5.1XD屏连接器、6.按键连接器、7.按键连接电缆、8.按键、9.PC机、10.PC机串口、11.串口通信电缆、12.RS232连接器、13.电源单元、14.主控CPU、15.数控电流源、16.模拟开关矩阵、17.可替换封装的测试座、18.通信接口、19.自诊断单元、20.A/D转换。【具体实施方式】:下面结合附图和实施例对本技术作进一步的说明。本技术一种通用光耦芯片测试装置,包括测试电路板4、带触摸屏的IXD显示屏1、按键8和PC机9 ;在测试电路板4中设置有电源单元13、主控CPU14、数控电流源15、模拟开关矩阵16、可替换封装的测试座17、通信接口 18、自诊断单元19、A/D转换20、电源连接器3、IXD屏连接器5、按键连接器6、RS232连接器12 ;测试电路板4上的IXD屏连接器5通过IXD屏连接电缆2与带触摸屏的IXD显示屏I相连接;IXD屏连接电缆2为36芯的屏蔽多芯线;测试电路板4上的按键连接器6通过按键连接电缆7与按键8相连接;按键连接电缆7为屏蔽双绞4芯线;单独使用测试电路板4进行光耦的测试,必须要接上带触摸屏的IXD显示屏I和按键8,测试功能选择或命令可通过按键8或触摸屏操作;主控CPU14是整个测试装置的中央处理单元,所有控制信号、显示和数据采集分析处理都是由其完成的,在带触摸屏的IXD显示屏I上显示结果的同时也可以通过RS232连接器12将测试结果数据送至PC机9上;测试电路板4上的RS232连接器12通过三芯的串口通信电缆11与PC机9相连接;PC机9上安装有测试软件,与测试电路板4配合完成光耦芯片的好坏及性能指标的测试;在使用PC机9进行测试时,测试装置也可以安装带触摸屏的LCD显示屏I和按键8,直接在PC机9本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种通用光耦芯片测试装置,包括测试电路板(4)、带触摸屏的LCD显示屏(1)、按键(8)、PC机(9);其特征在于在测试电路板(4)中设置有电源单元(13)、主控CPU(14)、数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)、可替换封装的测试座(17)、通信接口(18)、自诊断单元(19)、A/D转换(20)、电源连接器(3)、LCD屏连接器(5)、按键连接器(6)、RS232连接器(12);测试电路板(4)上的LCD屏连接器(5)通过LCD屏连接电缆(2)与带触摸屏的LCD显示屏(1)相连接;测试电路板(4)上的按键连接器(6)通过按键连接电缆(7)与按键(8)相连接;测试电路板(4)上的RS232连接器(12)通过串口通信电缆(11)与PC机串口(10)相连接;测试电路板(4)上的电源连接器(3)与外接电源相连接;所述的电源单元(13)给带触摸屏的LCD显示屏(1)、主控CPU(14)、A/D转换(20)、数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)提供电源;所述的主控CPU(14)接收带触摸屏的LCD显示屏(1)、按键(8)或PC机(9)发过来的命令,经过处理后再向数控电流源(15)、模拟开关矩阵(16)、A/D转换(20)和自诊断单元(19)发出控制执行指令;所述的数控电流源(15)接收主控CPU(14)的控制指令,产生输出测试电流经过模拟开关矩阵(16)切换适配光耦引脚后,提供光耦输入端的测试信号;所述的模拟开关矩阵(16)接收主控CPU(14)的控制指令,将光耦的各引脚对应连接到电源、数控电流源(15)和A/D转换(20)上;所述的A/D转换(20)接收主控CPU(14)的控制指令,对光耦输入和输出的电流、电压进行采样,还对测试误差进行采样;所述的自诊断单元(19)接收主控CPU(14)的控制指令,对数控电流源(15)和A/D转换(20)、模拟开关矩阵(16)的工作状态进行采样;所述的通信接口(18)完成RS232串口电平转换,提供PC机发送命令和接收测试数据的通道。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孙先松
申请(专利权)人:长江大学
类型:新型
国别省市:湖北;42

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1