新型电容层析成像仪制造技术

技术编号:10218902 阅读:164 留言:0更新日期:2014-07-16 17:44
本实用新型专利技术公开了一种介质监测设备,特别是涉及一种新型电容层析成像仪;本实用新型专利技术的新型电容层析成像仪,可多向调节、并可延展长度,有效扩大测量使用范围;包括成像仪、电容层析传感器、角度调节杆以及伸缩杆;伸缩杆包括前杆和后杆,前杆的末端设置有延长杆,后杆的内部设置有伸缩室,延长杆套接在伸缩室内,伸缩室的开口处与前杆的末端设置有相互配合的固定件,伸缩室的开口处与延长杆的末端设置有相互配合的限位件;角度调节杆包括首尾相连的第一连杆和第二连杆,第一连杆与电容层析传感器之间、第一连杆与第二连杆之间、以及第二连杆与伸缩杆之间分别通过第一转轴、第二转轴和第三转轴相连,第一转轴、第二转轴和第三转轴处均设置有定位件。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种介质监测设备,特别是涉及一种新型电容层析成像仪;本技术的新型电容层析成像仪,可多向调节、并可延展长度,有效扩大测量使用范围;包括成像仪、电容层析传感器、角度调节杆以及伸缩杆;伸缩杆包括前杆和后杆,前杆的末端设置有延长杆,后杆的内部设置有伸缩室,延长杆套接在伸缩室内,伸缩室的开口处与前杆的末端设置有相互配合的固定件,伸缩室的开口处与延长杆的末端设置有相互配合的限位件;角度调节杆包括首尾相连的第一连杆和第二连杆,第一连杆与电容层析传感器之间、第一连杆与第二连杆之间、以及第二连杆与伸缩杆之间分别通过第一转轴、第二转轴和第三转轴相连,第一转轴、第二转轴和第三转轴处均设置有定位件。【专利说明】新型电容层析成像仪
本技术涉及介质监测设备
,特别是涉及一种新型电容层析成像仪。
技术介绍
众所周知,电容层析成像(ElectricalCapacitance Tomography,简称 ECT)技术根据被测物质各相具有不同的介电常数,当各相组分分布或浓度分布发生变化时,将引起混合流体等价介电常数发生变化,从而使测量电极对间的电容值发生变化,在此基础上,利用相应的图像重建算法重建被测物场的介电分布图;具体使用时,可利用一组电极从外部环绕被测区域,利用被测区域内物质分布而导致的各电极之间的电容关系,由测得的电容值重现被测区域内的物质分布;然而实际情况下,有些被测物体的高度、深度和方位难以通过人为手工的方式达到,使得测量存在一定的局限性。
技术实现思路
为解决上述技术问题,本技术提供一种可多向调节、并可延展长度,有效扩大测量使用范围的新型电容层析成像仪。本技术的新型电容层析成像仪,包括成像仪、电容层析传感器、角度调节杆以及多个首尾相连的伸缩杆,所述电容层析传感器固定设置在所述角度调节杆的顶端,所述角度调节杆的末端与所述伸缩杆的顶端相连,所述角度调节杆和伸缩杆均为中空结构,所述电容层析传感器与所述成像仪电连接;所述伸缩杆包括前杆和后杆,所述前杆的末端设置有延长杆,所述后杆的内部设置有伸缩室,所述延长杆套接在所述伸缩室内,并在所述伸缩室内相对滑动,所述伸缩室的开口处与所述前杆的末端设置有相互配合的固定件,所述伸缩室的开口处与所述延长杆的末端设置有相互配合的限位件;所述角度调节杆包括首尾相连的第一连杆和第二连杆,所述第一连杆与所述电容层析传感器之间、所述第一连杆与第二连杆之间、以及所述第二连杆与所述伸缩杆之间分别通过第一转轴、第二转轴和第三转轴相连,所述第一转轴、第二转轴和第三转轴处均设置有定位件。进一步的,所述固定件包括所述伸缩室开口处内部设置的内螺纹、以及所述前杆的末端设置的与所述内螺纹相配合的外螺纹。进一步的,所述前杆的末端还设置有挡圈。进一步的,所述延长杆末端的直径大于所述伸缩室开口处的内径。进一步的,所述成像仪与电容层析传感器通过接线相连,所述接线设置在所述角度调节杆和伸缩杆的内部。进一步的,所述第一连杆和第二连杆上均设置有加强筋。进一步的,所述伸缩杆为两个。与现有技术相比本技术的有益效果为:以设置在管道坑中的管道的测量为例,通常情况下管道与管道坑内壁的间距较小,难以人工将电容层析传感器放入指定的位置以完成测量,通过本技术的新型电容层析成像仪,可以通过角度调节杆调好电容层析传感器与伸缩杆的角度,然后伸展伸缩杆将电容层析传感器通过间隙深入至管道坑底部,然后旋转伸缩杆,即可将角度调整好的电容层析传感器放在管道底部,以完成测量过程;撤出电容层析传感器仅需反向操作即可,整个过程简单易用,有效扩大了测量范围。【专利附图】【附图说明】图1是本技术的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图和实施例,对本技术的【具体实施方式】作进一步详细描述。以下实施例用于说明本技术,但不用来限制本技术的范围。如图1所示,本技术的新型电容层析成像仪,包括成像仪、电容层析传感器2、角度调节杆以及多个首尾相连的伸缩杆1,电容层析传感器2固定设置在角度调节杆的顶端,角度调节杆的末端与伸缩杆I的顶端相连,角度调节杆和伸缩杆I均为中空结构,电容层析传感器2与成像仪电连接;伸缩杆I包括前杆11和后杆13,前杆11的末端设置有延长杆12,后杆13的内部设置有伸缩室,延长杆12套接在伸缩室内,并在伸缩室内相对滑动,伸缩室的开口处与前杆的末端设置有相互配合的固定件14,伸缩室的开口处与延长杆的末端设置有相互配合的限位件;角度调节杆包括首尾相连的第一连杆31和第二连杆32,第一连杆31与电容层析传感器2之间、第一连杆31与第二连杆32之间、以及第二连杆32与伸缩杆之间分别通过第一转轴33、第二转轴34和第三转轴35相连,第一转轴、第二转轴和第三转轴处均设置有定位件;以设置在管道坑中的管道的测量为例,通常情况下管道与管道坑内壁的间距较小,难以人工将电容层析传感器放入指定的位置以完成测量,通过本技术的新型电容层析成像仪,可以通过角度调节杆调好电容层析传感器与伸缩杆的角度,然后伸展伸缩杆将电容层析传感器通过间隙深入至管道坑底部,然后旋转伸缩杆,即可将角度调整好的电容层析传感器放在管道底部,以完成测量过程;撤出电容层析传感器仅需反向操作即可,整个过程简单易用,有效扩大了测量范围。本技术的新型电容层析成像仪,固定件14包括伸缩室开口处内部设置的内螺纹、以及前杆的末端设置的与内螺纹相配合的外螺纹。本技术的新型电容层析成像仪,前杆的末端还设置有挡圈4,通过挡圈可以有效防止后杆过度旋拧,超过了前杆上的外螺纹的范围。本技术的新型电容层析成像仪,延长杆12末端的直径大于伸缩室开口处的内径。本技术的新型电容层析成像仪,成像仪与电容层析传感器2通过接线相连,接线设置在角度调节杆和伸缩杆的内部;这样是为了防止接线被其他物体勾住,影响检测过程;为了有效收取接线,可在伸缩杆的末端设置有接线的绕线器,这样就可以防止接线在伸缩杆和角度调节杆内打结。本技术的新型电容层析成像仪,第一连杆31和第二连杆32上均设置有加强筋。本技术的新型电容层析成像仪,伸缩杆I为两个。以上所述仅是本技术的优选实施方式,应当指出,对于本
的普通技术人员来说,在不脱离本技术技术原理的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本技术的保护范围。【权利要求】1.一种新型电容层析成像仪,其特征在于,包括成像仪、电容层析传感器、角度调节杆以及多个首尾相连的伸缩杆,所述电容层析传感器固定设置在所述角度调节杆的顶端,所述角度调节杆的末端与所述伸缩杆的顶端相连,所述角度调节杆和伸缩杆均为中空结构,所述电容层析传感器与所述成像仪电连接;所述伸缩杆包括前杆和后杆,所述前杆的末端设置有延长杆,所述后杆的内部设置有伸缩室,所述延长杆套接在所述伸缩室内,并在所述伸缩室内相对滑动,所述伸缩室的开口处与所述前杆的末端设置有相互配合的固定件,所述伸缩室的开口处与所述延长杆的末端设置有相互配合的限位件;所述角度调节杆包括首尾相连的第一连杆和第二连杆,所述第一连杆与所述电容层析传感器之间、所述第一连杆与第二连杆之间、以及所述第二连杆与所述伸缩杆之间分别通过第一转轴、第二转轴和第三转轴相连,所述第一转本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种新型电容层析成像仪,其特征在于,包括成像仪、电容层析传感器、角度调节杆以及多个首尾相连的伸缩杆,所述电容层析传感器固定设置在所述角度调节杆的顶端,所述角度调节杆的末端与所述伸缩杆的顶端相连,所述角度调节杆和伸缩杆均为中空结构,所述电容层析传感器与所述成像仪电连接;所述伸缩杆包括前杆和后杆,所述前杆的末端设置有延长杆,所述后杆的内部设置有伸缩室,所述延长杆套接在所述伸缩室内,并在所述伸缩室内相对滑动,所述伸缩室的开口处与所述前杆的末端设置有相互配合的固定件,所述伸缩室的开口处与所述延长杆的末端设置有相互配合的限位件;所述角度调节杆包括首尾相连的第一连杆和第二连杆,所述第一连杆与所述电容层析传感器之间、所述第一连杆与第二连杆之间、以及所述第二连杆与所述伸缩杆之间分别通过第一转轴、第二转轴和第三转轴相连,所述第一转轴、第二转轴和第三转轴处均设置有定位件。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:王泽璞孙旭光张孝勇刘彦鹏谭袖贾嘉雷学丽
申请(专利权)人:中国大唐集团科学技术研究院有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

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