本发明提供一维测量机、控制方法和存储介质。一维测量机包括：标尺，其具有刻度；移动器，其能够沿着所述标尺移动，并且具有光源和光接收元件，所述光源被配置为向所述标尺的刻度发射光，所述光接收元件被配置为接收来自所述光源的已经通过所述标尺的光；...

一种测量系统包括具有接触待测量工件的接触部分的测量探头。该测量探头在移动模式的至少一部分期间以第一更新速率操作，其中移动模式包括测量探头的使得接触部分远离工件移动和/或在距工件等于或大于阈值距离的距离处移动的移动。该测量探头在测量模式的...

本发明提供了一种用于连接外部设备至测量设备的连接单元。连接单元600和700各自包括平板形连接单元主体部件610；用于测量设备的连接器端子651，其设置在连接单元主体部件610处，并且连接至对应于测量设备100至400的每一个的信号输入...

防尘密封结构包括转子组件10和可旋转地支撑转子组件10的定子组件20。当压缩空气被供应到推力板11的下表面11b和定子组件20的上表面之间时，定子组件20在推力板11的下表面11b和定子组件20的上表面之间形成水平推力空气静压轴承S1。...

提供自动测量装置及其控制方法，该自动测量装置包括测微计、位移检测器单元以及自动操作单元，测微计包括前后移动以与工件接触或离开工件的主轴，位移检测器单元检测主轴的位移，自动操作单元通过动力来使主轴的前后移动自动化。自动操作单元执行使主轴前...

[问题]提供了一种数字千分尺，其适合于测量作为强磁体的待测对象物。[解决方案]该数字千分尺包括主体框架、测微螺杆、套管部和检测测微螺杆的移位的移位检测器。主体框架包括U字型框架部和测微螺杆保持部，测微螺杆保持部设置于U字型框架部的一端侧...

提供了自动内径测量设备的控制方法和自动测量设备的控制方法。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以...

提供了内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径...

提供了内径测量单元、浮动接合机构单元和测量单元。提供了能够自动进行内径测量的内径测量单元和用于自动内径测量的控制方法。内径测量部经由浮动接合部被支撑框架部支撑。浮动接合部包括允许内径测量部相对于支撑框架部旋转的旋转允许机构部以及允许内径...

提供了能够减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。表面形状的测量方法使用用于获取由参考光和测量光之间的光路差生成的干涉条纹图像的干涉仪光学头，通过使干涉仪光学头针对测量对象表面在沿干涉仪光学头的光轴的Z轴方向上从起点到终点进...

提供能减少测量时间的表面形状的测量方法和表面形状测量装置。在测量方法中，针对N个堆叠图像中的共同位置，根据通过对由指示干涉光强度沿Z轴方向的变化的N个点的值构成的干涉信号的平方值或绝对值进行积分而获得的、由N个点的值构成的积分曲线来确定...

本发明提供了一种计量系统，该计量系统用于与移动端部工具(例如，探头)的移动系统一起使用。该计量系统包括传感器结构、光束源结构和处理部。该传感器结构包括多个光束传感器。该光束源结构将光束引导到该传感器结构的该光束传感器。该光束源结构或该传...

一种用于坐标测量机的扫描探头的模块化配置包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；以及信号处理和控制电路模块。触针位置检测模块被配置成与触针悬挂模块分开组装，之后才安装到触针悬挂模块。信号处理和控制电路模块被配置成与触针位置检测模块和触针悬...

一种用于坐标测量机的扫描探头包括：触针悬挂模块；触针位置检测模块；干扰器配置；以及信号处理和控制电路模块。该触针位置检测模块包括：传感器配置，该传感器配置包括各种线圈；以及屏蔽配置，该屏蔽配置围绕该传感器配置定位并且包括用于屏蔽该传感器...

一种导体图案的制造方法包括：制备在其一个主面上设置有导体的基板；利用短脉冲激光在导体上形成导体图案的轮廓；以及通过蚀刻去除导体的除了导体图案以外的至少一部分。导体的除了导体图案以外的至少一部分。导体的除了导体图案以外的至少一部分。

本发明提供一种形状测量设备的控制方法和记录存储器，控制方法在无需CAD系统或高性能PC的情况下进行标称扫描测量。该控制方法包括：使用户从预先准备的几何形状菜单中选择被测物的形状；使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；...

本公开涉及三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法。一种三维测量设备检查量规(50)，包括：多个被测量对象(T1

本发明涉及非接触探测器及形状测量装置。非接触探测器(10)包括：照射部(20)，其用于照射激光；照射侧镜(40)，其用于使来自照射部(20)的激光朝向工件反射；受光侧镜(42)，其用于使来自工件的反射光反射；以及加尔瓦诺电机(44)，其...

本发明涉及不确定度估计方法和存储程序的存储介质。不确定度估计方法，包括以下步骤：获取第一变量值和第二变量值，第一变量值是当坐标测量机(100)的预定测量条件值是第一值时包括在指示测量尺寸和最大允许长度测量误差之间的关系的函数中的多个变量...

一种方法向具有色度范围传感器光学笔的色度范围传感器系统提供距离校准数据，所述色度范围传感器光学笔被配置成沿距离测量轴在不同距离处聚焦不同波长。所述色度范围传感器光学笔以相对于具有标称球形校准表面的球形校准对象的某一关系布置。控制所述色度...