本发明公开了一种陶瓷基垂直微细探针卡高频连接口MVW结构，包括补强板、PCB主板、陶瓷基电路板、上陶瓷基板层、下陶瓷基板层、接地层、PPS1电源层、微钻孔、微细金属导线、环氧树酯、电源触点、接地触点、高频信号触点等，其特征在于：本发明的...

本实用新型公开了一种晶圆测试探针卡及探针结构，其中，晶圆测试探针卡包括：基板，基板表面上设置有第一接地连接区与第二接地连接区；第一接地连接区与所述第二接地连接区之间，基板上开设有电离辐射阻隔槽；沿第一接地连接区的边缘，基板上开设有电离辐...

本发明公开了一种陶瓷基垂直微细探针卡连接口MVW结构，包括补强板、PCB主板、接地板、陶瓷基板、电源板、微钻孔、微细金属导线、环氧树酯、PPS1电源触点、PPS2电源触点、接地触点、信号触点、触点镀层、铜镀层、镍镀层、金镀层、垂直探针卡...

本实用新型公开了一种探针卡，包括探针卡外体，探针卡外体的上端设有数据导出孔，数据导出孔嵌入设置在探针卡外体上，探针卡外体的正面设有角度调试螺旋，角度调试螺旋活动连接在探针卡外体上，探针卡外体的右侧设有固定板，固定板焊接在探针卡外体上。该...

本实用新型公开了一种测试IC芯片的测试卡，包括集成电路板和IC检测卡，IC检测卡安装在集成电路板中。该种测试IC芯片的测试卡，IC测试探针的一侧设有探针伸缩连接处，且探针伸缩连接处的内部设置有弹性弹簧，通过探针伸缩连接处有效的使IC测试...

本实用新型公开了一种自动探针，包括测试器头、接口环和探针卡，测试器头的内部设有信号输出部，信号输出部嵌入设置在测试器头中，信号输出部的右侧设有接电连接部，接电连接部嵌入设置在测试器头中，测试器头的底部设有接口环，接口环固定安装在测试器头...

本实用新型公开了一种陶瓷基垂直微细探针卡高频连接口MVW结构，包括补强板、PCB主板、陶瓷基电路板、上陶瓷基板层、下陶瓷基板层、接地层、PPS1电源层、微钻孔、微细金属导线、环氧树脂、电源触点、接地触点、高频信号触点等，其特征在于：本实...

本实用新型公开了一种探针卡专用磨针机，包括,真空吸盘、探针卡、马达、丝杆、Z轴滑台、上斜块、产品夹块、平面轴承、显微镜支架、显微镜、支架，所述支架上端一侧设置显微镜支架，所述显微镜支架上设置有显微镜，所述支架一侧设置马达，所述马达输出端...

本实用新型公开了一种探针卡专用调针磨针一体机动力机构，包括,真空吸盘、探针卡、马达、丝杆、Z轴滑台、上斜块、产品夹块、平面轴承、显微镜支架、显微镜、支架，所述支架上端一侧设置显微镜支架，所述显微镜支架上设置有显微镜，所述支架一侧设置马达...

本实用新型公开了一种探针卡专用调针磨针一体机，显微镜、滑块、第一滑条、第二滑条、产品真空吸盘、底座、支腿，所述支腿上端设置底座，所述底座的上端设置第一滑条，所述第一滑条上安装滑块，所述滑块内滑动安装第二滑条一端，第二滑条另一端安装显微镜...